一种晶片传输装置制造方法及图纸

技术编号:20518942 阅读:18 留言:0更新日期:2019-03-06 03:14
本发明专利技术公开了一种晶片传输装置,硬件包括:导杆锁紧法兰(1)、调节底板(2)、传感器组合(3)、片盒托盘(4)、传感器定位架(5)、晶片盒(6)、检测传感器(7)。导杆锁紧法兰(1)和调节底板(2)都安装在片盒托盘(4)下面,其固定装置和调节平衡的作用。检测传感器(7)安装在传感器定位架(5),对晶片进行检测,以防位置放偏。晶片盒(6)放在片盒托盘(4)上,随装置上下移动,实现晶片的取放。本发明专利技术涉及离子注入装置,隶属于半导体制造领域。

A wafer transmission device

The invention discloses a wafer transmission device, whose hardware includes: guide rod locking flange (1), adjusting base plate (2), sensor combination (3), wafer box tray (4), sensor positioning frame (5), wafer box (6) and detection sensor (7). Both the guide rod locking flange (1) and the adjusting base plate (2) are installed under the sheet box tray (4), and the fixing device and the adjusting balance function of the guide rod locking flange (1) and the adjusting base plate (2) are arranged under the sheet box tray (4). The detection sensor (7) is mounted on the sensor positioning frame (5) to detect the wafer to prevent the position deviation. The wafer box (6) is placed on the wafer box tray (4) and moves up and down with the device to realize the fetching and placing of the wafer. The invention relates to an ion implantation device, which belongs to the field of semiconductor manufacturing.

【技术实现步骤摘要】
一种晶片传输装置
本专利技术涉及一种集成电路制造控制系统,即离子注入机,特别地涉及一种用于离子注入机晶片传输过程的一种装置。将晶片传输到后续工序加工的过程,需要一种快速的晶片传输装置。
技术介绍
随着集成电路工艺技术的提高,对离子注入设备提出了更高的要求,离子注入角度和晶片传输位置的准确快速都是离子注入设备的重要指标。离子注入机通过改变注入离子的角度实现各种材料改性、半导体器件的制造以及大功率器件制造等领域。对于离子注入角度有着严格的技术要求,对晶片传输过程中晶片位置准确放置与晶片快速传输都有很高的要求。为实现上述晶片的工艺,如离子注入、光刻等工艺,晶片需要快速的在设备之间传输,甚至在设备内进行传输,这就要求晶片传输装置能够定位精准,不会发生偏移。通常,在晶片传输过程中需要实时监测晶片尺寸与位置。现有的晶片传输装置无法保证能够实时监测晶片位置,容易发生晶片损坏的状况。
技术实现思路
本专利技术公开了一种晶片传输装置,可用于离子注入机晶片传输过程,操作简单,实用性强,可实时监测晶片位置,防止晶片发生损坏。本专利技术通过以下技术方案实现:1.一种晶片传输装置,硬件包括:导杆锁紧法兰(1)、调节底板(2)、传感器组合(3)、片盒托盘(4)、传感器定位架(5)、晶片盒(6)、检测传感器(7)。2.一种晶片传输装置,其特征在于导杆锁紧法兰(1)通过固定螺栓将其固定在移动轴(8)上,保证定位精度高的同时,确保晶片传输装置随移动轴(8)可上下移动。3.一种晶片传输装置,其特征在于调节底板(2)与片盒托盘(4)相连接,通过调节紧定螺纹,实现调节片盒托盘的平衡与稳定,确保晶片的取送不受影响,达到晶片传输目的。4.一种晶片传输装置,其特征在于传感器组合(3)固定在片盒托盘(4)的底部,当晶片盒(6)放到片盒托盘(4)上,传感器将感应到的信号传输到控制器,实现实时控制。5.一种晶片传输装置,其特征在于传感器定位架(5)与片盒托盘(4)相连接,固定在片盒托盘(4)的周边,检测传感器(7)位于传感器定位架(5)上,距晶圆中心206mm的圆上。本专利技术具有如下显著优点:1.功能明确,针对性强。2.结构简单,拆装维护方便。3.精度较高,能够满足工作环境要求。4.在晶片传输中能最大减少损坏。附图说明图1晶片传输装置的结构图2晶片传输装置的安装图3晶片传输装置的检测工作状态具体实施方式下面结合附图1、附图2和附图3对本专利技术作进一步的介绍,但不作为对本专利技术的限定。参见图1、图2和附图3,本专利技术通过介绍一种晶片传输装置,硬件包括:导杆锁紧法兰(1)、调节底板(2)、传感器组合(3)、片盒托盘(4)、传感器定位架(5)、晶片盒(6)、检测传感器(7)。通过采用这种装置,实现晶片快速传输,同时减少损坏量。具体实施步骤如下:首先将导杆锁紧法兰(1)与调节底板(2)用螺栓连接起来,在将调节底板(2)安装在片盒托盘(4)下面,通过紧定螺钉与调节平衡小球保证片盒托盘(4)保证水平,以防晶片倾斜,利于机械手安全取出晶片。晶片盒(6)放在片盒托盘(4)上,随装置上下移动,实现晶片的取放。导杆锁紧法兰(1)与电梯移动轴(81)通过锁紧螺钉(11)固定,保证整个晶片传输装置与电梯(8)相连接。随着电机(82)的旋转,将旋转运动转化为直线运动的丝杆(83),带动电梯移动轴(81)进行上下移动,完成晶片的取放功能。保证了运动的精准,同时实现了结构的稳定。在晶片盒(6)放到片盒托盘(4)上时,晶片盒被放到片盒支撑块(31)上,保证晶片盒(6)不会移动,保证晶片取放的精度。晶片盒(6)落到片盒支撑块(31)上,便会与螺纹销(32)相接触,而螺纹销(32)与行程开关支架(34)螺纹连接。在触发螺纹销(32)移动时,带动行程开关支架(34)与传感器(33)相接处,按动按钮将信号触发,同时传输到控制器,记录下晶片盒(6)实际的存在。在晶片盒(6)上部有一个传感器定位架(5),检测传感器(7)位于传感器定位架(5)上,距晶圆中心206mm的圆上。检测传感器(7)会随时记录晶片是否准确放置到晶片盒(6)中,同时将信号传输到控制器。本专利技术中的晶片检测装置利用红外光线进行晶片检测,所以检测器的位置提高后不会影响晶片检测装置的检测效果。另外,专利技术人经过多次实验操作,结果也证实了本专利技术的晶片检测装置的检测器的位置提高后,在避免了晶片损坏的同时并没有对检测效果产生任何影响。本专利技术专利的特定实施例已对本专利技术专利的内容做了详尽说明。对本领域一般技术人员而言,在不背离本专利技术专利精神的前提下对它所做的任何显而易见的改动,都构成对本专利技术专利的侵犯,将承担相应的法律责任。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶片传输装置,硬件包括:导杆锁紧法兰(1)、调节底板(2)、传感器组合(3)、片盒托盘(4)、传感器定位架(5)、晶片盒(6)、检测传感器(7)。

【技术特征摘要】
1.一种晶片传输装置,硬件包括:导杆锁紧法兰(1)、调节底板(2)、传感器组合(3)、片盒托盘(4)、传感器定位架(5)、晶片盒(6)、检测传感器(7)。2.如权利要求1所述的一种晶片传输装置,其特征在于导杆锁紧法兰(1)通过固定螺栓将其固定在移动轴上,保证定位精度高的同时,确保晶片传输装置随移动轴可上下移动。3.如权利要求1所述的一种晶片传输装置,其特征在于调节底板(2)与片盒托盘(4)相连接,通过调节紧定螺纹,实现调节片...

【专利技术属性】
技术研发人员:王成华
申请(专利权)人:北京中科信电子装备有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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