一种用于大米外观品质检测的整列装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提出了一种用于大米外观品质检测的整列装置，置包括孔板和扫描底板，所述孔板与扫描底板嵌合良好，本实用新型专利技术对现有采集图像有益，孔板的孔洞大小设计能够保证米粒能掉入孔中，且每个孔中保证基本是一粒，避免了两颗米竖在一个孔板里的情况，扫描底板光学性能优良，且与孔板贴合良好，使米粒嵌入孔板而落于扫描底板上。本实用新型专利技术相对现有整列装置更加实用，操作方便，效率高，便于采集清晰的单颗米粒的大米外观图像，便于图像处理，以提高大米外观品质检测准确率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于大米外观品质检测的整列装置
本技术属于粮食检测
，具体涉及一种用于大米外观品质检测的整列装置。
技术介绍
大米外观检测是大米品质检测的一项重要内容。传统的大米外观品质检测方法主要是人工检测，这种检测方法局限在于完全依靠目测，分类准确率不高，主观性强，效率不高，随意性大，误差较大。采用计算机图像处理技术对大米外观品质进行检测分析，具有快速便捷、客观性强、结果准确等优势。而采集图像的米粒粘结程度对图像处理有较大影响，因此需要借助整列装置来分离米粒。目前市面上的整列装置，包括玻璃板和嵌合在玻璃板四周框架上的孔板，孔板通常采用塑料材质，形变程度较大，与框架的嵌合度不好，容易翘起，使用时，需要双人配合，一人用双手捏持住孔板与玻璃板，利用拇指和四指将孔板嵌合在框架内，使孔板与玻璃板贴合，力度稍有不够，孔板与玻璃板贴合不好就会留有空隙，米粒便会在孔板下方窜动，不能保证米粒的良好分离，然后另一人向孔板上洒米，才能完成米粒整列的工序。而且在长期使用过程中，孔板上下面容易磨损，磨损后，会造成孔板与玻璃板之间的贴合度不好，也会出现米粒在孔板下方窜动的情况。另外，孔板上供米粒下漏的孔洞容易出现两颗米竖在同一个孔洞里的情况，需要手工分离米粒，操作不够便捷。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种用于大米外观品质检测的整列装置，通过将孔板上的孔洞设计成上大下小结构，避免了两颗米竖在同一个孔洞里的情况，使分离过程更加方便。本技术提出的一种用于大米外观品质检测的整列装置，包括孔板和嵌合在孔板下方的扫描底板，所述孔板上设有若干个孔洞，所述孔洞呈长圆形且包括上孔和下孔，根据LS/T6116-2017《大米粒型分类判定》，针对长粒米，所述上孔的长为8.5mm～10.5mm、宽为3mm～4mm、高为0.8mm～1.5mm，所述下孔的长和宽均比上孔少0.5mm～1.5mm，下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm；针对中短粒米，所述上孔的长为7mm～9mm、宽为4mm～5mm、高为0.8mm～1.5mm，所述下孔的长和宽均比上孔少0.5mm～1.5mm，下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm。进一步的，各所述孔洞之间的横向间隙是0.8mm～1.8mm，纵向间隙是0.8mm～1.8mm。进一步的，所述孔板的材料为金属或其他硬质材料。进一步的，所述孔板的材料为铝合金。进一步的，所述扫描底板的材质为浮法玻璃。进一步的，所述孔板上下面的四周均设有凸起，所述扫描底板嵌合所述凸起的内侧。进一步的，所述凸起的高度为2-3mm。进一步的，所述扫描底板呈矩形，其四个角均设有第一倒角。进一步的，所述凸起的内侧的四个角设有与所述第一倒角形状配合的第二倒角。进一步的，所述孔板的两侧设有把手。借由上述方案，本技术至少具有以下优点：本技术提出的整列装置，通过将孔板上的孔洞设计成上大下小结构，避免了两颗米竖在同一个孔洞里的情况，使分离过程更加方便；孔板采用铝合金，解决了塑料材质的孔板容易变形、翘起的问题，使孔板与扫描底板之间的贴合度更好，操作时，单人即可完成大米的整列工序；改变了孔板与扫描底板之间的嵌合关系，在孔板四周设计凸起，将扫描底板嵌合在凸起的内侧，增加了凸起之后，可以防止孔板上布有孔洞的地方受到磨损，防止孔板与扫描底板之间出现空隙，使孔板与扫描底板纸巾嵌合度良好。附图说明图1为孔板的结构示意图。图2为孔板和扫描底板的结构示意图。图3是孔洞的结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术进行详细描述，本部分的描述仅是示范性和解释性，不应对本技术的保护范围有任何的限制作用。如图1-3所示，一种用于大米外观品质检测的整列装置，包括孔板1和扫描底板2。孔板1的大小为297mm×210mm，孔板1上设有1085个长圆形的孔洞3。孔板1的原材料为铝合金，具有轻便、可塑性好、耐腐蚀等优点，在其他实施方式中，还可以采用其它金属或硬质材料。孔洞3的上孔31大于下孔32，在本实施例中，上孔31和下孔32均为圆柱形，上孔31长8mm，宽4.5mm，高1mm，下孔32长7mm，宽3.5mm，高2mm，在其他实施方式中，孔洞3也可以是圆台形。两个孔洞3之间的横向间隙是1mm，纵向间隙是1mm。孔洞3的大小和高度能够保证日常食用的单颗粳米掉入孔洞3中，同时孔洞3采用上大下小的结构，当米粒入孔后，米粒会因为孔洞3侧壁的斜度而立即躺入孔中，避免了圆柱形孔洞3容易出现的两颗米竖在一个孔板1里的情况，保证一孔入一整米，米粒分开，便于扫描后图像处理。而且，在孔洞3的上孔31较大的情况下，洒向孔板1的米粒更加容易入洞，整体上提升了整列装置的操作便捷性。扫描底板2为高透明度、低反光、性能接近光学的浮法玻璃，尺寸为长291mm，宽209mm，厚3mm，扫描底板2的四个角设有R＝3mm的第一倒角4，保证使用者安全、避免尖角磨损，以及便于与孔板1嵌合。孔板1上下面的四周均设有2-3mm高度的凸起5，在本实施例中，凸起5在孔板1上形成连续的边框5，扫描底板2嵌合在孔板1下方的边框5的内侧，凸起5内侧的四个角设有与第一倒角4形状配合的第二倒角6。扫描底板2很好地贴合孔板1下方，避免了米粒在孔板1下方窜动。孔板1的两侧设有把手7。本技术使用效果良好。使用时，单独一人便可完成米粒的整列工序，先将扫描底板嵌入孔板的凸起内侧，单手托住扫描底板，另一手向孔板上加入米粒，然后轻轻晃动装置，即可让米粒进入孔洞中，相比现有的整列装置需双手操作扣紧孔板，还需另一人助力加入大米，本技术更加省力、操作简便。米粒在整列装置上分离良好，然后将整列装置放置于扫描装置上，拿去孔板时，由于嵌合度良好，不会造成米粒的窜动。米粒在整列装置上分布良好，便于采集清晰、米粒分开的大米外观图像，及进行图像处理，以提高大米外观品质检测准确率。综上所述，本技术提出的整列装置，通过将孔板上的孔洞设计成上大下小结构，避免了两颗米竖在同一个孔洞里的情况，使分离过程更加方便；孔板采用铝合金，解决了塑料材质的孔板容易变形、翘起的问题，使孔板与扫描底板之间的贴合度更好，操作时，单人即可完成大米的整列工序；改变了孔板与扫描底板之间的嵌合关系，在孔板四周设计凸起，将扫描底板嵌合在凸起的内侧，增加了凸起之后，可以防止孔板上布有孔洞的地方受到磨损，防止孔板与扫描底板之间出现空隙，使孔板与扫描底板纸巾嵌合度良好。本技术对大米进行采集图像有益，其相对现有整列装置更加实用，操作方便，效率高，便于采集到清晰的、单颗米粒的大米外观图像，便于图像处理，以提高大米外观品质检测准确率。虽然本技术已以较佳实施例公开如上，但其并非用以限定本技术，任何熟悉此技术的人，在不脱离本技术的精神和范围内，都可做各种的改动与修饰，因此本技术的保护范围应该以权利要求书所界定的为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于大米外观品质检测的整列装置，其特征在于：包括孔板和嵌合在孔板下方的扫描底板，所述孔板上设有若干个孔洞，所述孔洞呈长圆形且包括上孔和下孔，所述上孔的长为8.5mm～10.5mm、宽为3mm～4mm、高为0.8mm～1.5mm，所述下孔的长和宽均比上孔少0.5mm～1.5mm，所述下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm；或者，所述上孔的长为7mm～9mm、宽为4mm～5mm、高为0.8mm～1.5mm，所述下孔的长和宽均比上孔少0.5mm～1.5mm，所述下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm。

【技术特征摘要】
1.一种用于大米外观品质检测的整列装置，其特征在于：包括孔板和嵌合在孔板下方的扫描底板，所述孔板上设有若干个孔洞，所述孔洞呈长圆形且包括上孔和下孔，所述上孔的长为8.5mm～10.5mm、宽为3mm～4mm、高为0.8mm～1.5mm，所述下孔的长和宽均比上孔少0.5mm～1.5mm，所述下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm；或者，所述上孔的长为7mm～9mm、宽为4mm～5mm、高为0.8mm～1.5mm，所述下孔的长和宽均比上孔少0.5mm～1.5mm，所述下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm。2.根据权利要求1所述的一种用于大米外观品质检测的整列装置，其特征在于：所述孔板上下面的四周均设有凸起，所述扫描底板嵌合所述凸起的内侧。3.根据权利要求2所述的一种用于大米外观品质检测的整列装置，其特征在于：所述凸起的高度为2-3mm。4.根据权利要求1所述的一种用于大米外观品质检测的整列装置，其特征在于：所述扫描底板呈矩形，其四个角均设有第一倒角。5.根据权利要求2或...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈晓芳，张玲，庞月红，杨成，
申请(专利权)人：江南大学，
类型：新型
国别省市：江苏,32