【技术实现步骤摘要】
一种计算机硅片高效清洗工艺
本专利技术涉及硅片清洗
,尤其涉及一种计算机硅片高效清洗工艺。
技术介绍
随着大规模集成电路的发展,集成度的不断提高,线宽的不断减小,对硅片的质量要求也越来越高,特别是对硅抛光片的表面质量要求越来越严。这主要是因为抛光片表面的颗粒和金属杂质沾污会严重影响器件的质量和成品率,对于线宽为0.35μm的64兆DRAM器件,影响电路的临界颗粒尺寸为0.06μm,抛光片的表面金属杂质沾污应全部小于5×1016at/cm2,抛光片表面大于0.2μm的颗粒数应小于20个/片。在目前的集成电路生产中,由于硅抛光片表面沾污问题,仍有50%以上的材料被损失掉。在硅晶体管和集成电路生产中,几乎每道工序都有硅片清洗的问题,硅片清洗的好坏对器件性能有严重的影响,处理不当,可能使全部硅片报废,做不出管子来,或者制造出来的器件性能低劣,稳定性和可靠性很差。硅片清洗法和,不管是对于从硅片加工的人,还是对于从事半导体器件生产的人来说都有着重要的意义。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术公开了一种计算机硅片高效清洗工艺,提高了清洗效率,保证了清洗效果。为了达到以上 ...
【技术保护点】
1.一种计算机硅片高效清洗工艺,其特征在于:包括如下步骤:a)分子型杂质清洗:首先对硅片的表面进行擦洗,随后采用高压喷枪,使用清洗液对硅片的表面进行高压冲洗,并控制喷嘴压力10~12Mpa,喷嘴与硅片表面距离16~19cm,之后将硅片放入超声波清洗池内,并控制频率23000~26000Hz,清洗12~16min,最后备用;b)离子和原子型杂质清洗:将步骤a)中分子型杂质清洗过的硅片放入第一酸洗液进行清洗,清洗时间2~5min,随后用超纯水冲洗,并再用碱洗液清洗,清洗时间2~5min,之后再用第二酸洗液进行清洗,清洗时间1~3min,最后用去离子水清洗备用;c)干燥处理:将经 ...
【技术特征摘要】
1.一种计算机硅片高效清洗工艺,其特征在于:包括如下步骤:a)分子型杂质清洗:首先对硅片的表面进行擦洗,随后采用高压喷枪,使用清洗液对硅片的表面进行高压冲洗,并控制喷嘴压力10~12Mpa,喷嘴与硅片表面距离16~19cm,之后将硅片放入超声波清洗池内,并控制频率23000~26000Hz,清洗12~16min,最后备用;b)离子和原子型杂质清洗:将步骤a)中分子型杂质清洗过的硅片放入第一酸洗液进行清洗,清洗时间2~5min,随后用超纯水冲洗,并再用碱洗液清洗,清洗时间2~5min,之后再用第二酸洗液进行清洗,清洗时间1~3min,最后用去离子...
【专利技术属性】
技术研发人员:李晓东,姚译敏,
申请(专利权)人:江苏又一城智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。