用于占空比测量、分析和补偿的系统和方法技术方案

本申请公开用于占空比测量、分析和补偿的系统和方法。占空比测量电路获得对应于沿着传播路径的两个或更多个不同位置处的信号的占空比的差分占空比测量值。差分占空比测量值可以包括输入占空比的测量值和输出占空比的测量值。占空比测量值可以通过使用占空比到电压转换器电路系统来获取。占空比测量值可以用于确定传播路径的占空比恶化的度量，和用于补偿测量的占空比恶化的调节因子。

Systems and methods for duty cycle measurement, analysis and compensation

This application discloses systems and methods for duty cycle measurement, analysis and compensation. The duty cycle measurement circuit obtains differential duty cycle measurements corresponding to the duty cycle of signals at two or more different locations along the propagation path. Differential duty ratio measurements may include input duty ratio measurements and output duty ratio measurements. Duty ratio measurements can be obtained by using duty ratio to the voltage converter circuit system. Duty ratio measurements can be used to determine the deterioration of duty ratio in propagation paths and to compensate for the deterioration of duty ratio in measurements.

【技术实现步骤摘要】
用于占空比测量、分析和补偿的系统和方法
本公开涉及减轻占空比误差，并且更具体的涉及用于占空比测量、分析和/或补偿的系统和方法
技术介绍
存储器接口电路系统可能易受占空比失真的影响。如本文使用的，“占空比失真”是指由于信号通过电路系统传播(例如，由于信号沿着一条路径传播)而引起的信号的占空比的改变。占空比失真可以引起输入/输出误差。例如，占空比失真可以引起输入/输出误差，诸如未能满足高脉冲宽度(tQSH)和/或低脉冲宽度(tQSL)时序(timing)要求的高和/或低脉冲信号脉冲宽度。增加输入/输出时钟速度和降低输入/输出(I/O)电压电位和/或电流可以导致较小的容差，使得即使小的占空比失真也可以导致I/O误差。传统的占空比校准电路系统可能不能按比例缩小以在所需的时钟频率下操作，并且可能不能检测由电路系统自身创建的内部占空比失真。而且，传统的占空比校准电路系统可能需要周期性地重新校准，传统的占空比校准电路系统可能不利地影响性能。内部占空比失真可能由若干不同的因素(例如，制造缺陷、工艺变化等)引起，该因素在设计时可能并不知道。因此，内部占空比失真可能必须通过以超过传统内建测试电路系统的能本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种包括数据路径的电路，所述电路还包括：第一测量电路，其被配置为从所述数据路径获取第一占空比测量值；以及第二测量电路，其被配置为从所述数据路径获取第二占空比测量值；其中所述第一测量电路和所述第二测量电路通信地耦合到沿着所述数据路径的不同地点，使得所述第一占空比测量值和所述第二占空比测量值之间的差值对应于沿着所述数据路径的占空比劣化。

【技术特征摘要】
2017.06.28 US 15/636,5891.一种包括数据路径的电路，所述电路还包括：第一测量电路，其被配置为从所述数据路径获取第一占空比测量值；以及第二测量电路，其被配置为从所述数据路径获取第二占空比测量值；其中所述第一测量电路和所述第二测量电路通信地耦合到沿着所述数据路径的不同地点，使得所述第一占空比测量值和所述第二占空比测量值之间的差值对应于沿着所述数据路径的占空比劣化。2.根据权利要求1所述的电路，其中：所述第一测量电路通信地耦合到沿着所述数据路径的第一地点，所述第一地点被配置使得所述第一占空比测量值对应于输入占空比，并且所述第二测量电路通信地耦合到沿着所述数据路径的第二地点，所述第二地点被配置使得所述第二占空比测量值对应于输出占空比。3.根据权利要求1所述的电路，其中所述数据路径包括输入电路系统，并且其中所述第一测量电路通信地耦合到所述输入电路系统。4.根据权利要求3所述的电路，其中所述数据路径包括数据输出电路系统，并且其中所述第二测量电路通信地耦合到所述数据路径的所述数据输出电路系统。5.根据权利要求1所述的电路，还包括：控制电路系统，其被配置为选择性地将所述第一测量电路和所述第二测量电路中的一个耦合到输出焊盘，其中测试装置被配置为通过所述输出焊盘接收占空比测量值，接收的占空比测量值包括第一占空比测量值和第二占空比测量值，所述测试装置还被配置为通过使用所述接收的占空比测量值确定沿着所述数据路径的占空比劣化的度量，以及基于占空比劣化的度量来确定用于所述数据路径的占空比调节因子。6.根据权利要求5所述的电路，还包括：占空比调节电路系统，其被配置为基于确定的占空比调节因子来调节通过所述数据路径传播的信号的占空比。7.根据权利要求1所述的电路，其中：所述第一测量电路包括第一电阻器电容器电路系统，即第一RC电路系统，所述第二测量电路包括第二RC电路系统，所述第一占空比测量值包括当所述第一RC电路系统通信地耦合到沿着所述数据路径的第一地点时在所述第一RC电路系统上的电压电位，以及所述第二占空比测量值包括当所述第二RC电路系统通信地耦合到沿着所述数据路径的第二地点时在所述第二RC电路系统上的电压电位，而所述第二地点不同于所述第一地点。8.根据权利要求7所述的电路，其中所述第一RC电路系统和所述第二RC电路系统共用电容器，所述电路还包括：控制电路系统，其被配置为选择性地将共用的电容器连接到沿着所述数据路径的所述第一地点和沿着所述数据路径的所述第二地点中的一个。9.根据权利要求8所述的电路，其中所述控制电路系统包括第一开关，其包括：金属氧化物半导体晶体管，即MOS晶体管，其具有连接到沿着所述数据路径的所述第一地点的源极端子、通过第一电阻器连接到所述共用的电容器的漏极端子、以及耦合到第一使能信号的栅极端子；以及第二晶体管，其具有连接到沿着所述数据路径的所述第一地点的源极端子、通过所述第一电阻器连接到所述共用的电容器的漏极端子、以及耦合到反相的所述第一使能信号的栅极端子。10.根据权利要求9所述的电路，其中所述控制电路系统包括第二开关，其包括：MOS晶体管，其具有连接到沿着所述数据路径的所述第二地点的源极端子、通过第二电阻器连接到所述共用的电容器的漏极端子、以及耦合到第二使能信号的栅极端子；以及第二晶体管，其具有连接到沿着所述数据路径的所述第二地点的源极端子，通过所述第二电阻器连接到所述共用的电容器的漏极端子、以及耦合到反相的所述第二使能信号的栅极端子。11.一种半导体装置，其包括：数据输出电路系统，其具有时序路径，所述数据输出电路系统被配置为沿着所述时序路径从输入区域到输出区域通信时序信号；以及占空比测量电路系统，其被配置为测量与所述时序路径相关联的占空比误差，所述占空比测量电路系统被配置为：确定对应于所述时序路径的所述输入区域中的时序信号的占空比的输入占空比量度，以及确定对应于所述时序路径的所述输出区域中的时序信号的占空比的输出占空比量度，其中所述输入占空比量度和所述输出占空比量度之间的差值包括与所述时序路径相关联的占空比误差的度量。12.根据权利要求11所述的半导体装置，其中所述占空比测量电路系统被配置为获取对应于所述输入占空比量度和所述输出占空比量度的差分占空比测量值，以及将所述差分占空比测量值提供给诊断装置，其中所述诊断装置通过使用所述差分占空比测量值来确定占空比调节以校正与所述时序路径相关联的所述占空比误差的度量。13.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：三轮仁，
申请(专利权)人：闪迪技术有限公司，
类型：发明
国别省市：美国,US