【技术实现步骤摘要】
大功率晶体管功率老化台温控结构
本技术涉及老化台温控机械领域，尤其涉及大功率晶体管功率老化太温控结构。
技术介绍
对于任何设计合理、工艺成熟、质量控制严格的生产线生产出来的产品也有可能存在早期失效的产品。他们的存在致使整批产品的使用可靠性会大大降低。通过筛选，剔除早期失效元器件，使得通过筛选的元器件从开始使用就进入失效率低而恒定的时期，从而提高元器件批产品的使用可靠性。老炼试验是目前最常见和最有效的一种可靠性筛选试验方法，在集成电路生产厂商、用户以及鉴定检测机构广泛应用。老炼筛选对器件施加两种以上的应力（温度应力、电压或电流等电应力），通过电和热应力的综合作用可以更充分地激活器件内部潜在的材料和工艺的大部分缺陷，诱发器件发生相关失效，从而剔除早期失效的元器件。PWD-V大功率晶体管功率老化台，就是提供特定的试验条件下，将有制造缺陷的元器件在短时间内提前暴露的专用试验仪器设备。PWD-V大功率晶体管功率老化系统根据MIL-STD-750D标准、IEC标准和GJB128《半导体分立器件试验方法》，可针对各种不同类型、不同封装（如F1、F2、TO-220等）、不同极性的...
【技术保护点】
1.大功率晶体管功率老化台温控结构，包含老化台壳体，老化台壳体上包含出风口，其特征在于，风口还包含出水部分，出水部分包含出水圈（4），出水圈围绕出风口布置，出水圈内部包含一圈的棉花条，出水圈上安装着水瓶，出水圈内壁包含一圈的渗水孔（7），水瓶内部的水通过出水圈渗入棉花条中，进一步从渗水孔中渗出，出风口的风能够对渗出的水进行蒸发吸热。
【技术特征摘要】
1.大功率晶体管功率老化台温控结构，包含老化台壳体，老化台壳体上包含出风口，其特征在于，风口还包含出水部分，出水部分包含出水圈（4），出水圈围绕出风口布置，出水圈内部包含一圈的棉花条，出水圈上安装着水瓶，出水圈内壁包含一圈的渗水孔（7），水瓶内部的水通过出水圈渗入棉花条中，进一步从渗水孔中渗出，出风口的风能够对渗出的水...
【专利技术属性】
技术研发人员：李泽新，尹楠，
申请(专利权)人：西安西测电子技术服务有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西,61
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