半导体产品测试系统与方法技术方案

本发明专利技术揭露一种半导体产品测试系统与方法，其中测试多个电子装置的方法，包含一次执行m个装置的测试，在配置以一次测试高达m个装置的装置测试器上以测量装置参数。每个测试之后，方法包含对所有测试装置执行测量的装置参数的统计分析，以确认包含对每个参数更新的平均值和标准差之更新的统计数据，且仅储存统计数据，并非测量的装置参数。方法进一步包含基于更新的平均值和标准差决定每个装置参数新的通过/不通过限制，以及基于对每个装置参数新的通过/不通过限制决定每个装置的通过或不通过。

【技术实现步骤摘要】
半导体产品测试系统与方法
本专利技术是有关于半导体
更具体的说，本专利技术的实施例是对半导体装置的生产测试的系统和方法。
技术介绍
半导体测试方式在业界中可差异很大。自动化测试设备(ATE)通常用于处理和测试许多不同的终端用户的半导体产品线，例如：消费类、车用类和军事类装置。测试一个待测件(deviceundertest,DUT)产生的数据量可涉及从小至5KB大至1MB，且通常只需要几秒钟来测试一个DUT。乘以时间与小生产设施的运行率，例如：20个或更多个ATEs运行一天24小时/，一个礼拜7天，而一个月中所生产的测试数据会达到2兆字节(2.0×1012位)。大量数据的存储会变得昂贵。然而，分类、转移和管理所有这些数据会需要一组工程师进行分析。管理这些数据会变成巨大的生产挑战。在多数情况下，因为需要保管也增加ATE生产这些数据所花费的时间，业界甚至可能选择不要输出或储存数据。在多数的情况下，这里根本没有获得用于特定产品的数据，且没有足够的工程人员来分析可用的数据。因此，亟待需要的是提升方法与系统解决上述某些限制。
技术实现思路
本专利技术一些实施例针对一种在自动化测试系统上的工厂本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体产品测试系统，其特征在于，包含：一测试设备；一处理器，耦接至该测试设备；以及一储存装置，耦接至该处理器；其中该系统被配置为：一次执行m个装置的测试，用以测量一装置测试器的一装置参数，其中m为整数，该装置测试器用以一次测试m个装置；每次测试之后，用于所有测试装置的已测量的该装置参数进行一统计分析，以决定一更新统计数据，该更新统计数据包括对每一该装置参数的一更新平均值和一标准差；以及仅储存该更新统计数据，而不储存已测量的该装置参数；对前N个装置，每个测试进一步包含基于预先设置的装置参数的通过/不通过的限制决定每个该装置是否通过，其中N为整数；前该N个装置之后，每个后续测试进一步包含：...

【技术特征摘要】
2017.06.14 US 15/623,3661.一种半导体产品测试系统，其特征在于，包含：一测试设备；一处理器，耦接至该测试设备；以及一储存装置，耦接至该处理器；其中该系统被配置为：一次执行m个装置的测试，用以测量一装置测试器的一装置参数，其中m为整数，该装置测试器用以一次测试m个装置；每次测试之后，用于所有测试装置的已测量的该装置参数进行一统计分析，以决定一更新统计数据，该更新统计数据包括对每一该装置参数的一更新平均值和一标准差；以及仅储存该更新统计数据，而不储存已测量的该装置参数；对前N个装置，每个测试进一步包含基于预先设置的装置参数的通过/不通过的限制决定每个该装置是否通过，其中N为整数；前该N个装置之后，每个后续测试进一步包含：基于该更新平均值和该标准差对每个该装置参数决定新的通过/不通过的限制；以及基于对每个该装置参数的新的通过/不通过的限制决定每个装置是否通过。2.如权利要求1所述的半导体产品测试系统，其特征在于，对每个该装置参数的该新的通过/不通过的限制是基于对每个参数的更新平均正负6个该标准差所决定。3.如权利要求1所述的半导体产品测试系统，其特征在于，对每个该装置参数的该新的通过/不通过的限制是基于对每个参数的更新平均正负3个该标准差所决定。4.如权利要求1所述的半导体产品测试系统，其特征在于，一整数N被选择以提供一多个的测试装置以确定该装置参数的该新的统计数据。5.如权利要求1所述的半导体产品测试系统，其特征在于，该前N个装置包含50个到500个装置。6.如权利要求1所述的半导体产品测试系统，其特征在于，该前N个装置包含500个到3000个装置。7.如权利要求1所述的半导体产品测试系统，其特征在于，该统计数据包含测试装置的总数、不通过装置的总数，与不通过装置的百分比。8.如权利要求1所述的半导体产品测试系统，其特征在于，该统计数据包含该装置参数分布的直方图。9.如权利要求1所述的半导体产品测试系统，其特征在于，该统计数据包含每个参数的更新平均正负6个该标准差。10.如权利要求1所述的半导体产品测试系统，其特征在于，该...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙超，
申请(专利权)人：新唐科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71