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本发明揭露一种半导体产品测试系统与方法，其中测试多个电子装置的方法，包含一次执行m个装置的测试，在配置以一次测试高达m个装置的装置测试器上以测量装置参数。每个测试之后，方法包含对所有测试装置执行测量的装置参数的统计分析，以确认包含对每个参数...
该专利属于新唐科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过新唐科技股份有限公司授权不得商用。

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