【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于测量表面处理设备中的处理流体的至少一个参数的装置和方法
本专利技术涉及一种用于测量表面处理设备中的处理流体的至少一个参数的装置和方法以及用于处理使用所述测量的物体的一种浸渍处理设备和一种方法。
技术介绍
由WO2010/136350A1已知一种声表面波测量装置(Surface-Acoustic-Wave-Messeinrichtung)，在该声表面波测量装置中借助于声表面波——该声表面波沿管件从一个用于声表面波的转换器引导到另一个用于声表面波的转换器——测量流过管件的介质的性质。这种SAW(声表面波)-测量的基本原理基于，产生的声表面波的能量的一部分被耦合到介质中，使得在介质中产生体积声波。该体积声波重新耦合到管件中，由此再次产生声表面波。通过测量和分析在接收器上重新被吸收的声表面波的确定的特征、例如其运动速度或其振幅，可以确定介质的化学的和/或物理的性质。关于声表面波测量装置的原理的细节就此明确地参考WO2010/136350A1的内容。此外一般存在将声波直接耦合到介质中的声波测量装置。然而，在这里描述的现有技术中的缺点——特别是在应用于浸渍处理设备中的浸渍...
【技术保护点】
1.一种用于测量表面处理设备(10)中的处理流体(16)的至少一个参数的装置(30)，其特征在于a)声波测量装置(68)，所述声波测量装置具有：‑测量室(32)，该测量室限定用于处理流体(16)的测量体积；以及‑用于声波的转换器(60，62，64，66)，该转换器被布置在测量室(32)上，以及‑所述声波测量装置被设计为用于，在应用转换器(60，62，64，66)的情况下提供至少一个测量输出信号(MS)，所述至少一个测量输出信号依赖于测量体积中的处理流体(16)的当前的状态，b)分析单元(50)，所述分析单元具有：‑时间曲线记录装置(74)，所述时间曲线记录装置被设计用于，记...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.05.04 DE 102016005371.21.一种用于测量表面处理设备(10)中的处理流体(16)的至少一个参数的装置(30)，其特征在于a)声波测量装置(68)，所述声波测量装置具有：-测量室(32)，该测量室限定用于处理流体(16)的测量体积；以及-用于声波的转换器(60，62，64，66)，该转换器被布置在测量室(32)上，以及-所述声波测量装置被设计为用于，在应用转换器(60，62，64，66)的情况下提供至少一个测量输出信号(MS)，所述至少一个测量输出信号依赖于测量体积中的处理流体(16)的当前的状态，b)分析单元(50)，所述分析单元具有：-时间曲线记录装置(74)，所述时间曲线记录装置被设计用于，记录声波测量装置(68)的至少一个测量输出信号(MS)的时间曲线；和-参数确定装置(76)，所述参数确定装置被设计用于，从声波测量装置(68)的测量输出信号(MS)的记录的时间曲线中确定至少一个要测量的参数的值。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，声波测量装置(68)是声表面波测量装置(68)，用于声波的转换器(60，62，64，66)是用于声表面波的转换器(60，62，64，66)。3.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，参数确定装置(76)具有比较装置，该比较装置被设计用于，将至少一个测量输出信号(MS)的记录的时间曲线(100)与参考曲线(102)进行比较，所述参考曲线被存储在数据库中。4.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，参数确定装置(76)包括专家系统。5.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，设有用于在测量室(32)中注入、保持和排出处理流体(16)的部件(34，36，38)。6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，设有控制器(48)，所述控制器被设计用于，这样操控用于在测量室(32)中注入、保持和排出处理流体(16)的部件(34，36，38)：使得处理流体(16)在预先规定的时间段期间停留在测量体积中。7.根据权利要求6...
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