【技术实现步骤摘要】
治具及中框组件的平整度测量方法
本申请涉及检测治具
，具体涉及一种治具及中框组件的平整度测量方法。
技术介绍
目前需要对中框组件的装屏面及电池仓的平整度进行测试，现有的测试治具结构较为复杂，使用成本较高，导致测试效率低，不利于完成批量测量。
技术实现思路
本申请提供一种治具，所述治具用于检测中框组件的平整度，所述中框组件具有第一表面和相对所述第一表面的第二表面，所述治具包括第一对接部和固定连接所述第一对接部的第二对接部，所述第一对接部用于贴合所述第一表面并沿所述第一表面滑动，以检测所述第一表面的平整度，所述第二对接部用于贴合所述第二表面并沿所述第二表面滑动，以检测所述第二表面的平整度。本申请还提供一种中框组件的平整度测量方法，所述中框组件的平整度测量方法包括以下的步骤：提供中框组件，所述中框具有第一表面和相对所述第一表面的第二表面；提供治具，所述治具包括第一对接部和固定连接所述第一对接部的第二对接部；将所述第一对接部贴合所述第一表面并沿所述第一表面滑动，以检测所述第一表面的平整度；将所述第二对接部用于贴合所述第二表面并沿所述第二表面滑动，以检测所述第二表面的平整...
【技术保护点】
1.一种治具，其特征在于，所述治具用于检测中框组件的平整度，所述中框组件具有第一表面和相对所述第一表面的第二表面，所述治具包括第一对接部和固定连接所述第一对接部的第二对接部，所述第一对接部用于放置于所述第一表面并沿所述第一表面滑动，以检测所述第一表面的平整度，所述第二对接部用于放置于所述第二表面并沿所述第二表面滑动，以检测所述第二表面的平整度。
【技术特征摘要】
1.一种治具，其特征在于，所述治具用于检测中框组件的平整度，所述中框组件具有第一表面和相对所述第一表面的第二表面，所述治具包括第一对接部和固定连接所述第一对接部的第二对接部，所述第一对接部用于放置于所述第一表面并沿所述第一表面滑动，以检测所述第一表面的平整度，所述第二对接部用于放置于所述第二表面并沿所述第二表面滑动，以检测所述第二表面的平整度。2.如权利要求1所述的治具，其特征在于，所述中框组件设有围合于所述第一表面周侧的环形凸起，所述环形凸起具有背离所述第一表面的端面，所述第一对接部具有第一对接面，所述治具还包括固定连接所述第一对接部的第三对接部，所述第三对接部具有与所述第一对接面相平行的对接面，所述第一对接面与所述第一表面相抵触时，所述对接面对准所述端面，以检测所述端面和所述第一表面的平行度。3.如权利要求2所述的治具，其特征在于，所述中框组件包括固定于所述环形凸起的周侧的屏幕装饰圈，所述第三对接部还具有连接所述对接面的第一连接面，所述第一连接面与所述对接面之间呈夹角设置，以使所述第一连接面和所述对接面之间形成凸起，所述凸起用于抵触所述屏幕装饰圈，所述凸起随所述第一对接部相对所述屏幕装饰圈滑动，以检测所述屏幕装饰圈是否变形。4.如权利要求2所述的治具，其特征在于，所述第一对接部还具有连接所述第一对接面和所述对接面之间的第二连接面，所述对接面和所述第二连接面之间形成避让空间，所述避让空间用于部分收容所述环形凸起。5.如权利要求1所述的治具，其特征在于，所述第一对接部具有第一对接面，所述第二对接部具有相对所述第一对接面的第二对接面，所述治具还包括滑动连接所述第一对接部的滑动对接部，所述滑动对接部具有滑动对接面，所述滑动对接面与所述第一对接面或所述第二对接面相平齐。6.如权利要求5所述的治具，其特征在于，所述治具还包括固定连接所述第一对接部和所述第二对接部的连接部，所述连接部设有滑槽，所述滑动对接部滑动连接所述滑槽。7.如权利要求1～6任意一项所述的治具，其特征在于，所述治具还包括检测部，所述检测部包括固定...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓飞，
申请(专利权)人：东莞市欧珀精密电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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