存储装置及其操作方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种存储装置及其操作方法。在用于根据温度控制操作性能的存储装置中，被配置成控制存储器装置的存储器控制器可以包括：内部温度感测单元，其被配置成通过对存储器控制器的温度进行感测来生成内部温度信息；以及性能调节单元，其被配置成从外部温度感测单元接收外部温度信息，并且使用内部温度信息和外部温度信息来控制存储器控制器的操作性能，其中外部温度信息表示存储器装置的温度。

【技术实现步骤摘要】
存储装置及其操作方法相关申请的交叉引用本申请要求于2017年5月30日提交的申请号为10-2017-0067027的韩国专利申请的优先权，其全部公开通过引用并入本文。
本公开的各个实施例总体涉及一种电子装置，并且更特别地，涉及一种存储装置及存储装置的操作方法。
技术介绍
存储装置是用于在诸如计算机、智能电话或智能平板的主机装置的控制下存储数据的装置。存储装置的示例包括对于硬盘驱动器(HDD)而言用于将数据存储在磁盘中的装置以及对于固态硬盘(SSD)或存储卡而言用于将数据存储在半导体存储器中的装置，尤其是用于将数据存储在非易失性存储器中的装置。非易失性存储器的代表性示例包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)、闪速存储器、相变随机存取存储器(PRAM)、磁性RAM(MRAM)、电阻式RAM(RRAM)、铁电RAM(FRAM)等。
技术实现思路
本公开的各个实施例涉及一种能够根据温度来调节其性能的存储装置及其操作方法。本公开的实施例可以提供一种用于控制存储器装置的存储器控制器。存储器控制器可以包括：内部温度感测单元本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于控制存储器装置的存储器控制器，所述存储器控制器包括：内部温度感测单元，其被配置成通过对所述存储器控制器的温度进行感测来生成内部温度信息；以及性能调节单元，其被配置成从外部温度感测单元接收外部温度信息，并且使用所述内部温度信息和所述外部温度信息来控制所述存储器控制器的操作性能，其中所述外部温度信息表示所述存储器装置的温度。

【技术特征摘要】
2017.05.30 KR 10-2017-00670271.一种用于控制存储器装置的存储器控制器，所述存储器控制器包括：内部温度感测单元，其被配置成通过对所述存储器控制器的温度进行感测来生成内部温度信息；以及性能调节单元，其被配置成从外部温度感测单元接收外部温度信息，并且使用所述内部温度信息和所述外部温度信息来控制所述存储器控制器的操作性能，其中所述外部温度信息表示所述存储器装置的温度。2.根据权利要求1所述的存储器控制器，其中所述性能调节单元包括：校正值生成单元，其被配置成基于所述内部温度信息和所述外部温度信息生成校正值；以及性能调节确定单元，其被配置成：生成被调节的温度信息，在所述被调节的温度信息中所述校正值被施加到所述内部温度信息；将所述被调节的温度信息与预先存储的临界温度信息进行比较；以及然后基于比较结果来确定是否调节所述存储器控制器的操作性能。3.根据权利要求2所述的存储器控制器，其中当电力被供给到所述存储器控制器时，所述校正值生成单元生成所述校正值。4.根据权利要求2所述的存储器控制器，其中所述校正值是所述内部温度信息和所述外部温度信息之间的差值。5.根据权利要求2所述的存储器控制器，其中当针对所述存储器装置的写入请求被输入并且所述被调节的温度信息高于所述临界温度信息时，所述性能调节确定单元通过输出用于激活节流操作的节流信号来控制所述操作性能，其中所述节流操作调节所述存储器控制器的操作性能。6.根据权利要求5所述的存储器控制器，其中所述节流操作是减小所述存储器控制器的数据输入/输出速度的操作。7.根据权利要求5所述的存储器控制器，其中：所述存储器控制器能够同时访问多个存储器装置，并且所述节流操作是减小所述存储器控制器同时访问的存储器装置的数量的操作。8.根据权利要求5所述的存储器控制器，其中所述节流操作是减小被输入到所述存储器装置的时序信号或时钟信号的频率的操作。9.根据权利要求5所述的存储器控制器，其中所述节流操作是激活被设置在所述存储器控制器外部的冷却器的操作。10.根据权利要求2所述的存储器控制器，其中所述性能调节单元进一步包括被配置成生成更新使能信号的校正值更新控制单元，其中所述更新...

【专利技术属性】
技术研发人员：辛崇善，金相贤，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR