基于老化状况的存储器裸片温度调节制造技术

设备包括存储器设备和控制器。控制器经配置以，响应于确定存储设备具有特定特征，而通过在第一裸片上执行存储器操作来增加第一裸片的温度，直到检测到与温度有关的状况。

Temperature regulation of bare memory chip based on aging condition

Devices include memory devices and controllers. The controller is configured to increase the temperature of the first bare chip by performing memory operations on the first bare chip in response to the determination that the storage device has specific characteristics until a temperature-related condition is detected.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基于老化状况的存储器裸片温度调节相关申请的交叉引用本申请要求2016年3月4日提交的美国非临时专利申请第15/061,702号和2015年9月28日提交的美国非临时专利申请第14/867,999号的优先权，其每一者的内容通过引用整体并入本文。
本公开大体涉及电子设备，并且更具体地涉及基于老化状况的存储器裸片(die)温度调节。
技术介绍
存储设备使用户能够存储和检索数据。存储设备的示例包括易失性存储器设备和非易失性存储器设备。存储设备通常包括随着时间推移而退化的具有编程/擦除周期的存储器裸片。例如，存储设备可以包括具有多个存储单元的存储器裸片。存储单元中的陷阱(trap)(例如，氧化层陷阱、界面陷阱或两者)的数量可以随着时间推移而增加。较高数量的陷阱可以增加用于编程存储单元的编程脉冲的数量、用于擦除存储单元的擦除脉冲的数量或两者。响应于确定用于编程存储器裸片的存储单元的编程脉冲的数量大于编程阈值、用于擦除存储单元的擦除脉冲的数量大于擦除阈值或两者，存储器裸片可以被标记为错误且不可用。由于随着时间推移，存储设备中标记为错误的存储器裸片的数量的增加，存储设备的存储容量可以减少。附图说明图本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种设备，其包括：存储器设备，其包括读取/写入电路和多个存储器裸片；以及控制器，其耦合到所述存储器设备，所述控制器经配置以，响应于确定所述存储器设备具有特定特征，而通过在第一裸片上执行存储器操作来增加所述第一裸片的温度，直到检测到与所述温度有关的状况。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.09.28 US 14/867,999;2016.03.04 US 15/061,7021.一种设备，其包括：存储器设备，其包括读取/写入电路和多个存储器裸片；以及控制器，其耦合到所述存储器设备，所述控制器经配置以，响应于确定所述存储器设备具有特定特征，而通过在第一裸片上执行存储器操作来增加所述第一裸片的温度，直到检测到与所述温度有关的状况。2.根据权利要求1所述的设备，其中确定所述存储器设备具有特定特征包括响应于接收在所述存储器设备处执行存储器访问的请求而确定所述存储器设备具有指示温度跨越的特征。3.根据权利要求1所述的设备，其中确定所述存储器设备具有特定特征包括确定所述多个存储器裸片中的第一裸片的至少一个存储单元具有指示老化状况的特征。4.一种设备，其包括：存储器设备；以及控制器，其耦合到所述存储器设备，所述控制器经配置以：响应于接收在所述存储器设备处执行存储器访问的请求，而确定所述存储器设备具有指示温度跨越的特征；以及响应于所述确定，通过在所述存储器设备上执行存储器操作来增加所述存储器设备的温度，直到检测到与所述温度有关的状况。5.根据权利要求4所述的设备，其中所述控制器进一步经配置以在检测到与所述温度有关的所述状况之后，在所述存储器设备处执行所述存储器访问。6.根据权利要求4所述的设备，其中执行所述存储器操作包括向所述存储器设备发送指令以启动存储器操作序列。7.根据权利要求6所述的设备，其中所述存储器设备包括读取/写入电路以及多个存储器裸片，并且其中所述读取/写入电路经配置以响应于接收所述指令，在所述多个存储器裸片中的第一裸片处执行多个读取操作。8.根据权利要求4所述的设备，其中所述存储器设备包括读取/写入电路以及多个存储器裸片，其中执行所述存储器操作包括将多个读取指令发送到所述存储器设备，并且其中所述读取/写入电路经配置以响应于接收所述多个读取指令中的每个读取指令，而在所述多个存储器裸片中的第一裸片处执行读取操作。9.根据权利要求4所述的设备，其中所述存储器设备包括多个存储器裸片，其中所述请求对应于对所述多个存储器裸片中的第一裸片的多个存储单元中的第一存储单元的写入请求，以及其中所述控制器进一步经配置以响应于确定所述第一裸片的温度低于第一温度阈值，而确定所述存储器设备具有指示所述温度跨越的特征。10.根据权利要求9所述的设备，其中所述第一存储单元对应于多级单元即MLC，其中所述控制器进一步经配置以：响应于确定所述存储器设备具有指示所述温度跨越的特征，将所述写入请求的数据写入到所述存储器设备的单级单元即SLC中；以及响应于检测到与所述温度有关的状况，将所述数据从所述SLC复制到所述MLC。11.根据权利要求4所述的设备，其中所述存储器设备包括多个存储器裸片，其中所述请求对应于对所述多个存储器裸片中的第一裸片的多个存储单元中的第一存储单元的读取请求，并且其中所述控制器进一步经配置以响应于确定所述第一裸片的温度低于第一温度阈值而确定所述存储器设备具有指示所述温度跨越的特征。12.根据权利要求4所述的设备，其中所述存储器设备包括多个存储器裸片，其中所述请求对应于读取存储于所述存储器设备的多个存储单元处的数据的读取请求，并且其中所述控制器进一步经配置以响应于确定对应于所述数据的写入温度大于第二温度阈值并且对应于所述数据的读取温度低于或等于所述第二温度阈值，而确定所述存储器设备具有指示所述温度跨越的特征。13.根据权利要求12所述的设备，其中所述控制器进一步经配置以在接收所述读取请求之前，响应于接收将所述数据写入到所述多个存储单元的写入请求：检测所述写入温度；以及响应于确定所述写入温度大于第二温度阈值，将所述写入温度存储在所述控制器的存储器处。14.根据权利要求12所述的设备，其中所述控制器进一步经配置以响应于接收所述读取请求而检测所述读取温度。15.根据权利要求4所述的设备，其中所述存储器设备包括多个存储器裸片，其中所述请求对应于所述多个存储器裸片中的第一裸片，并且其中检测到所述状况包括检测到所述第一裸片的温度超过阈值。16.根据权利要求4所述的设备，其中所述存储器设备包括多个存储器裸片，并且其中所述控制器进一步经配置以：接收来自温度传感器的输入；基于所述输入来确定所述多个存储器裸片中的第一裸片的温度；以及响应于确定所述第一裸片的温度小于阈值，执行所述存储器操作的子集。17.根据权利要求16所述的设备，其中所述第一裸片包括所述温度传感器。18.根据权利要求4所述的设备，其中所述存储器设备包括第一裸片和所述第一裸片附近的多个次级裸片，并且其中所述控制器进一步经配置以，响应于确定所述请求对应于所述第一裸片，识别所述多个次级裸片中的第二裸片，其中所述存储器操作在所述第二裸片上执行以增加所述第一裸片的温度。19.根据权利要求4所述的设备，其中所述存储器设备包括第一裸片和所述第一裸片附近的多个次级裸片，其中所述控制器进一步经配置以：确定所述请求对应于所述第一裸片，其中所述存储器操作在所述第一裸片上执行；以及响应于接收在所述存储器设备处执行写入访问的第二请求，在所述第一裸片执行所述存储器操作之后，在所述多个次级裸片中的第二裸片处执行所述写入访问。20.一种设备，包括：存储器设备；以及控制器，其经配置以在执行写入操作之前在所述存储器设备上执行存储器操作以将所...

【专利技术属性】
技术研发人员：P·亚达夫，P·D·S·瑞奥，S·阿加瓦尔，D·李，
申请(专利权)人：西部数据技术公司，
类型：发明
国别省市：美国,US