【技术实现步骤摘要】
改变储存参数
本公开在各种实施例中涉及一种储存装置,并且更特别地涉及改变储存装置的储存参数。
技术介绍
集成电路(IC)存储器元件可以储存与IC存储器元件上进行的操作相关联的各种参数的值。然而,改变、修改或调整参数的值,可能是耗时的,并且因此可能减慢IC存储器元件的执行。
技术实现思路
呈现了设备以改变储存参数。在一个实施例中,设备包含集成电路(“IC”)存储器元件。IC存储器元件,在某些实施例中,接收改变与IC存储器元件相关联的参数的值的命令。参数可以包含用于IC存储器元件的一个或多个储存操作的设定。在其它实施例中,IC存储器元件接收具有命令的一个或多个数据集。数据集可以包含与要改变的参数相关联的标识和参数的新值。可以以与命令相同的数据速率来接收一个或多个数据集中的每一个。在一些实施例中,对于一个或多个数据集中的每一个,IC存储器元件将参数的新值写入到与参数相关联的储存位置。在另一实施例中,一种设备包含用于在单个时钟循环内从非易失性储存装置的一个或多个数据锁存器读取数据组以修改非易失性储存装置的一个或多个执行变量的构件。执行变量可以与非易失性储存装置的一个或多个功能相关联。在其它实施例中,设备其它包含用于根据数据组内的标识来识别非易失性储存装置的要被修改的执行变量的构件。在一些实施例中,设备包含用于将所识别的执行变量修改到数据组内提供的不同值的构件。系统被呈现为改变储存参数。在一个实施例中,系统包含非易失性存储器介质和控制器。在某些实施例中,控制器配置为接收多个数据元组,以改变非易失性存储器介质的储存操作设定的值。每个数据元组可以包含设定组的地址、用于识别组 ...
【技术保护点】
1.一种设备,包括:集成电路(“IC”)存储器元件,配置为:接收命令以改变与所述IC存储器元件相关联的参数的值,所述参数包括所述IC存储器元件的一个或多个储存操作的设定;以与所述命令相同的数据速率接收具有所述命令的一个或多个数据集,所述一个或多个数据集中的数据集包括与要改变的参数相关联的标识和所述参数的新值;以及对于所述一个或多个数据集中的每一个,将所述参数的新值写入到与所述参数相关联的储存位置。
【技术特征摘要】
2017.05.18 US 15/598,9361.一种设备,包括:集成电路(“IC”)存储器元件,配置为:接收命令以改变与所述IC存储器元件相关联的参数的值,所述参数包括所述IC存储器元件的一个或多个储存操作的设定;以与所述命令相同的数据速率接收具有所述命令的一个或多个数据集,所述一个或多个数据集中的数据集包括与要改变的参数相关联的标识和所述参数的新值;以及对于所述一个或多个数据集中的每一个,将所述参数的新值写入到与所述参数相关联的储存位置。2.根据权利要求1所述的设备,其中接收具有所述命令的所述一个或多个数据集包括,在紧接在接收所述命令的最终时钟循环之后的时钟循环的开始时接收所述一个或多个数据集。3.根据权利要求1所述的设备,其中所述IC存储器元件还配置为,在将所述一个或多个数据集中的每一个的新值写入到与每个正被改变的参数相关联的所述储存位置之前,将所述一个或多个数据集储存在与所述IC存储器元件相关联的一个或多个数据锁存器中。4.根据权利要求3所述的设备,其中所述一个或多个接收的数据集中的每一个在被储存在所述一个或多个锁存器中之前被格式化为位串。5.根据权利要求4所述的设备,其中所述IC存储器元件还配置为,接收表示包括储存在所述一个或多个锁存器中的位串的数据集的数目的值。6.根据权利要求3所述的设备,其中所述IC存储器元件还配置为,在不被置于测试模式的情况下,存取所述一个或多个数据锁存器中储存的一个或多个数据集,并且将所述一个或多个数据集中的每一个的新值写入到与每个参数相关联的所述储存位置。7.根据权利要求1所述的设备,其中在每个数据集的接收之间没有时间延迟的情况下接收所述一个或多个数据集。8.根据权利要求1所述的设备,其中在每个数据集的接收之间没有一个或多个附加时钟循环的情况下接收所述一个或多个数据集。9.根据权利要求1所述的设备,其中所述一个或多个数据集的数据集还包括位掩码,所述位掩码用于确定多个参数中的应改变到所述新值的一个或多个参数。10.根据权利要求9所述的设备,其中由与所述标识相关联的位串表示所述多个参数,所述位串中的每个位表示参数的至少一部分,所述IC存储器元件还配置为使用所述位串和所述位掩码来进行逻辑操作,以确定由所述位串的位所表示的哪些参数应被改变到所述新值。11.根据权利要求1所述的设备,其中所述IC存储器元件在被置于测试模式之后接收所述命令,所述测试模式包括所述IC存储器元件的用于接收所述IC存储器元件的储存操...
【专利技术属性】
技术研发人员:A李,YC陈,A科赫,G卡塔瓦拉,M科恰尔,
申请(专利权)人:桑迪士克科技有限责任公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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