改变储存参数制造技术

技术编号:19690799 阅读:20 留言:0更新日期:2018-12-08 10:54
公开了改变储存参数的设备、系统、方法,以及计算机程序产品。集成电路(IC)存储器元件接收改变与IC存储器元件相关联的参数的值的命令。参数包含IC存储器元件的一个或多个储存操作的设定。IC存储器元件接收具有命令的一个或多个数据集。数据集包含与要改变的参数相关联的标识和参数的新值。在与命令相同的数据速率接收一个或多个数据集中的每一个。对于一个或多个数据集中的每一个,IC存储器元件将参数的新值写入到与参数相关联的储存位置。

【技术实现步骤摘要】
改变储存参数
本公开在各种实施例中涉及一种储存装置,并且更特别地涉及改变储存装置的储存参数。
技术介绍
集成电路(IC)存储器元件可以储存与IC存储器元件上进行的操作相关联的各种参数的值。然而,改变、修改或调整参数的值,可能是耗时的,并且因此可能减慢IC存储器元件的执行。
技术实现思路
呈现了设备以改变储存参数。在一个实施例中,设备包含集成电路(“IC”)存储器元件。IC存储器元件,在某些实施例中,接收改变与IC存储器元件相关联的参数的值的命令。参数可以包含用于IC存储器元件的一个或多个储存操作的设定。在其它实施例中,IC存储器元件接收具有命令的一个或多个数据集。数据集可以包含与要改变的参数相关联的标识和参数的新值。可以以与命令相同的数据速率来接收一个或多个数据集中的每一个。在一些实施例中,对于一个或多个数据集中的每一个,IC存储器元件将参数的新值写入到与参数相关联的储存位置。在另一实施例中,一种设备包含用于在单个时钟循环内从非易失性储存装置的一个或多个数据锁存器读取数据组以修改非易失性储存装置的一个或多个执行变量的构件。执行变量可以与非易失性储存装置的一个或多个功能相关联。在其它实施例中,设备其它包含用于根据数据组内的标识来识别非易失性储存装置的要被修改的执行变量的构件。在一些实施例中,设备包含用于将所识别的执行变量修改到数据组内提供的不同值的构件。系统被呈现为改变储存参数。在一个实施例中,系统包含非易失性存储器介质和控制器。在某些实施例中,控制器配置为接收多个数据元组,以改变非易失性存储器介质的储存操作设定的值。每个数据元组可以包含设定组的地址、用于识别组中的哪个设定要被改变的掩码以及所识别的设定的值。可以在接收每个数据元组之间没有延迟的情况下接收多个数据元组。在另一实施例中,控制器配置为将数据元组的值编程到由数据元组的掩码所识别的非易失性存储器介质的设定。附图说明下面参考附图中所图示的具体实施例包含了更特定的描述。应理解这些附图仅绘示本公开的某些实施例,并且因此不应理解为其范围的限制,通过使用附图,以附加的特异性和细节描述和解释了本公开,附图中:图1是图示包括参数管理模块的系统的一个示例的示意性框图;图2是图示存储器元件的一个示例的示意性框图;图3是图示参数管理模块的一个示例的示意性框图;图4是图示参数管理模块的另一实施例的意性框图;图5是图示改变储存参数的方法的一个示例的示意性流程图;图6是图示改变储存参数的方法的其它实施例的示意性流程图;并且图7是图示改变储存参数的方法的另一实施例的示意性流程图。具体实施方式本公开的方面可以实现为设备、系统、方法,或计算机程序产品。相应地,本公开的方面可以采取完全硬件实施例、完全软件实施例(包含固件、常驻软件、微代码等)或组合软件和硬件方面的实施例的形式,其可以全部在本文中总体上称为“电路”、“模块”、“设备”或“系统”。此外,本公开的方面可应采取实现为储存计算机可读和/或可执行程序代码的一个或多个非暂时性计算机可读储存介质的计算机程序产品的形式。本说明书中所描述的许多功能性单元已经标记为模块,以便更特定地强调它们的实现方式独立性。例如,模块可以实现为包括定制VLSI电路或门阵列的硬件电路、诸如逻辑芯片、晶体管或其它分立式组件的现成半导体。模块还可以实现为诸如现场可编程门阵列、可编程阵列逻辑,可编程逻辑装置等的可编程硬件装置。模块还可以至少部分地实现为由各种类型的处理器执行的软件。作为示例,可执行代码的识别的模块可以包括计算机指令的一个或多个物理或逻辑块,其可以例如组织为对象、过程或功能。然而,识别的模块的可执行体不需物理地位于一起,而可以包括不同位置中储存的不同的指令,当其逻辑上被连结在一起时,包括模块并实现模块的所述目的。实际上,可执行代码的模块可以包含单个指令或许多指令,并且甚至可以分散在若干不同的代码段上、在不同的程序之间、跨过若干存储器装置等。在模块或模块的部分实现为软件的情况下,软件部分可以储存在一个或多个计算机可读和/或可执行储存介质上。可以采用一个或多个计算机可读储存介质的任意组合。计算机可读储存介质例如可以包含但不限于,电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的或半导体的系统、设备或装置,或前述的任意适当组合,但不包含传播的信号。在此文档的语境下,计算机可读和/或可执行储存介质可以为任意有形的和/或非暂时性介质,其可以含有或储存由指令执行系统、设备、处理器或装置使用或与之相关的程序。由于进行本公开的方面的操作的计算机程序代码可以用一种或多种编程语言的任意组合来编写,包含诸如Python、Java、Smalltalk、C++、C#、ObjectiveC等面向对象的编程语言,诸如“C”编程语言、脚本编程语言的常规程序的编程语言,和/或其它相似编程语言。程序代码可以部分地或完全地在用户的计算机中的一个或多个上和/或在远程计算机或数据网络之上的服务器上等执行。如本文中所使用的,组件包括有形的、物理的、非暂时性装置。例如,组件可以实现为硬件逻辑电路,包括定制VLSI电路、门阵列,或其它集成电路;现成半导体,诸如逻辑芯片、晶体管,或其它分立式装置;和/或其它机械或电力装置。组件还可以实现为可编程硬件装置,诸如场可编程门阵列、可编程阵列逻辑、可编程逻辑装置等。组件可以包括一个或多个硅集成电路装置(例如,芯片、裸芯、裸芯平面、封装体)或其它分立式电力装置,通过印刷电路板(PCB)等的电线与一个或多个其它组件电通信。在某些实施例中,本文所描述的模块中的每一个可以替代地由组件实施或实现为组件。本说明书通篇对“一个示例”“实施例”或相似语言的参考是指关于该实施例描述的特定特征、结构或特性包含在本公开的至少一个实施例中。因此,短语“在一个示例中”、“在实施例中”以及相似语言在本说明书通篇可以但不一定全部指代相同的实施例,而是指“一个或多个但不是全部的实施例”,除非明确地另有指明。术语“包含”、“包括”、“具有”及其变体是指“包含但不限于”,除非明确地另有指明。项目的枚举列表不意味着任意或全部的项目相互地排斥和/或相互地包含,除非明确地另有指明。术语“一”、“一个”和“所述”也指代“一个或多个”,除非明确地另有指明。以下根据本公开的实施例参考方法、设备、系统,以及计算机程序产品的示意性流程图和/或示意性框图描述了本公开的方面。应当理解,示意性流程图和/或示意性框图的每个框,以及示意性流程图和/或示意性框图中的框的组合,可以通过计算机程序指令实现。可以向计算机的处理器或其它可编程数据处理设备等提供这些计算机程序指令以产生机器,使得经由处理器或其它可编程数据处理设备执行的指令创建用于实现示意性流程图和/或示意性框图框或多个框中所指定的功能和/或行为的构件。还应该注意的是,在一些替代实现方式中,框中提到的功能可以不按照附图中指出的顺序发生。例如,取决于所涉及的功能,连续示出的两个框实际上可以实质上同时地执行,或者框有时可以以相反的顺序执行。可以设想其它步骤和方法,其在功能、逻辑或效果上等同于所示附图的一个或多个框或其部分。尽管在流程图和/或框图中可能采用了各种箭头类型和线型,但是它们被理解为不限制对应的实施例的范围。例如,箭头可以指示所示实施例的枚举步骤之间的未指定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种设备,包括:集成电路(“IC”)存储器元件,配置为:接收命令以改变与所述IC存储器元件相关联的参数的值,所述参数包括所述IC存储器元件的一个或多个储存操作的设定;以与所述命令相同的数据速率接收具有所述命令的一个或多个数据集,所述一个或多个数据集中的数据集包括与要改变的参数相关联的标识和所述参数的新值;以及对于所述一个或多个数据集中的每一个,将所述参数的新值写入到与所述参数相关联的储存位置。

【技术特征摘要】
2017.05.18 US 15/598,9361.一种设备,包括:集成电路(“IC”)存储器元件,配置为:接收命令以改变与所述IC存储器元件相关联的参数的值,所述参数包括所述IC存储器元件的一个或多个储存操作的设定;以与所述命令相同的数据速率接收具有所述命令的一个或多个数据集,所述一个或多个数据集中的数据集包括与要改变的参数相关联的标识和所述参数的新值;以及对于所述一个或多个数据集中的每一个,将所述参数的新值写入到与所述参数相关联的储存位置。2.根据权利要求1所述的设备,其中接收具有所述命令的所述一个或多个数据集包括,在紧接在接收所述命令的最终时钟循环之后的时钟循环的开始时接收所述一个或多个数据集。3.根据权利要求1所述的设备,其中所述IC存储器元件还配置为,在将所述一个或多个数据集中的每一个的新值写入到与每个正被改变的参数相关联的所述储存位置之前,将所述一个或多个数据集储存在与所述IC存储器元件相关联的一个或多个数据锁存器中。4.根据权利要求3所述的设备,其中所述一个或多个接收的数据集中的每一个在被储存在所述一个或多个锁存器中之前被格式化为位串。5.根据权利要求4所述的设备,其中所述IC存储器元件还配置为,接收表示包括储存在所述一个或多个锁存器中的位串的数据集的数目的值。6.根据权利要求3所述的设备,其中所述IC存储器元件还配置为,在不被置于测试模式的情况下,存取所述一个或多个数据锁存器中储存的一个或多个数据集,并且将所述一个或多个数据集中的每一个的新值写入到与每个参数相关联的所述储存位置。7.根据权利要求1所述的设备,其中在每个数据集的接收之间没有时间延迟的情况下接收所述一个或多个数据集。8.根据权利要求1所述的设备,其中在每个数据集的接收之间没有一个或多个附加时钟循环的情况下接收所述一个或多个数据集。9.根据权利要求1所述的设备,其中所述一个或多个数据集的数据集还包括位掩码,所述位掩码用于确定多个参数中的应改变到所述新值的一个或多个参数。10.根据权利要求9所述的设备,其中由与所述标识相关联的位串表示所述多个参数,所述位串中的每个位表示参数的至少一部分,所述IC存储器元件还配置为使用所述位串和所述位掩码来进行逻辑操作,以确定由所述位串的位所表示的哪些参数应被改变到所述新值。11.根据权利要求1所述的设备,其中所述IC存储器元件在被置于测试模式之后接收所述命令,所述测试模式包括所述IC存储器元件的用于接收所述IC存储器元件的储存操...

【专利技术属性】
技术研发人员:A李YC陈A科赫G卡塔瓦拉M科恰尔
申请(专利权)人:桑迪士克科技有限责任公司
类型:发明
国别省市:美国,US

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