同分异构体质谱获得方法和同分异构体鉴定方法技术

本发明专利技术涉及一种基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法、同分异构体鉴定方法、PCB离子肼质谱仪、计算机设备和存储介质，其中质谱获得方法包括以下步骤：将待检测样品通过一系列装置电离成离子后引入离子肼；调节离子肼射频分压比，在即正扫时引入负多级场，在反扫时引入正多级场，将离子都逐出至离子检测装置检测离子，在正扫时，生成第一二级质谱；在反扫时，生成第二二级质谱。该方法测定简单且准确。

Isomer Spectrum Acquisition and Isomer Identification

The invention relates to a method for obtaining isomers spectrum based on PCB ionic hydrazine, a method for identifying isomers, a PCB ionic hydrazine mass spectrometer, a computer device and a storage medium. The method for obtaining mass spectrum includes the following steps: ionizing the sample to be detected through a series of devices, introducing ionic hydrazine; regulating ions. Hydrazine radio frequency partial pressure ratio (RFPPR) introduces negative multistage field in positive scan and positive multistage field in reverse scan, and evicts all ions to the ion detection device to detect ions. In positive scan, the first and second mass spectra are generated; in reverse scan, the second mass spectra are generated. The method is simple and accurate.

【技术实现步骤摘要】
同分异构体质谱获得方法和同分异构体鉴定方法
本专利技术涉及质谱测量与应用
，特别是涉及一种基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法、同分异构体鉴定方法、PCB离子肼质谱仪、计算机设备和存储介质。
技术介绍
同分异构体是分子式和质量数相同，物理及化学性质互不相同的一类化合物，在化学领域中同分异构体的鉴定非常重要。目前，常用的同分异构体的鉴别方法包括：色谱法、光谱法以及质谱法。色谱法前处理复杂、操作繁琐，而光谱法难以用在复杂化合物或混合物的同分异构体的鉴别。质谱法则是应用最广的方法，质谱法通常是采用常规质谱对离子碰撞诱导解离，即通过质谱的碎片分析功能来鉴别同分异构体，但对于结构稳定、碎片离子相同的同分异构体无法鉴定。数字线性离子阱技术是在传统离子阱技术的基础上发展起来的，离子阱质谱仪凭借其结构简单、尺寸小巧、灵敏度高、真空要求相对较低以及能独立实现多级质谱等特点，成为质谱领域研究和应用的热点。谱分析印刷线路板(Printed-Circuit-Board，PCB)分压离子阱是一种新型质量分析器，可以用在对不同的分析环境中，如环境应急检测、快速寻找污染源、原油监测及恶劣野外环境探测等。因此，提出一个基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法就显得尤为重要。
技术实现思路
基于此，有必要针对目前常规质谱仪无法鉴别结构稳定、碎片离子相同的同分异构体的问题，提供一种一种基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法、同分异构体鉴定方法、PCB离子肼质谱仪、计算机设备和存储介质。一种基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法，包括以下步骤：依次通过所述PCB分压离子肼质谱仪的有膜进样装置、真空紫外光单光子电离源和聚焦电极组将待检测样品电离后引入PCB分压离子肼，其中所述待检测样品中包括至少两种同分异构体物质；在所述PCB分压离子肼质谱仪为正离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子肼的射频电压分压比引入负多级场，将所述PCB分压离子肼中的待检测样品离子逐出至PCB分压离子肼质谱仪的离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第一二级质谱；在所述PCB分压离子肼质谱仪为负离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子肼的射频电压分压比引入正多级场，将所述PCB分压离子肼中的所述待检测样品离子逐出至所述离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第二二级质谱。上述的基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法，首先将待检测样品(待检测样品至少包括两种同分异构体物质)经一系列装置电离后引入PCB分压离子肼中，调节PCB分压离子肼的射频分压比，在正离子模式扫描和负离子模式扫描时，分别引入负多级场和正多级场，将PCB分压离子肼中的待检测样品离子逐出至离子检测装置，离子检测装置检测待检测样子离子生成第一二级质谱和第二二级质谱；得到质谱的结果更加简单且准确。一种利用所述的基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法得到的质谱的同分异构体鉴定方法，包括以下步骤：分析所述第一二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第一测量质量数；分析所述第二二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第二测量质量数；对于每一个同分异构体物质：计算所述第一测量质量数和实际质量数的差值，得到第一质量数漂移值，并计算所述第二测量质量数和所述实际质量数的差值，得到第二质量数漂移值；计算所述第一质量数漂移值和所述第二质量数漂移值的差值，得到质量数漂移差值；根据每一个同分异构体物质的所述质量数漂移差值，确定所述同分异构体物质的类型。一种利用所述的基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法得到的质谱的同分异构体鉴定装置，其特征在于，包括：第一测量质量数获得模块，用于分析所述第一二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第一测量质量数；第一测量质量数获得模块，用于分析所述第二二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各同分异构体物质的第二测量质量数；对于每一个同分异构体物质：第一质量数漂移值获得模块，用于计算所述第一测量质量数和实际质量数的差值，得到第一质量数漂移值；第二质量数漂移值获得模块，用于计算所述第二测量质量数和所述实际质量数的差值，得到第二质量数漂移值；质量数漂移差值获得模块，用于计算所述第一质量数漂移值和所述第二质量数漂移值的差值，得到质量数漂移差值；同分异构体类型确定模块，用于根据每一个同分异构体物质的所述质量数漂移差值，确定所述同分异构体物质的类型。一种利用所述的基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法得到的质谱的计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：分析所述第一二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第一测量质量数；分析所述第二二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第二测量质量数；对于每一个同分异构体物质：计算所述第一测量质量数和实际质量数的差值，得到第一质量数漂移值，并计算所述第二测量质量数和所述实际质量数的差值，得到第二质量数漂移值；计算所述第一质量数漂移值和所述第二质量数漂移值的差值，得到质量数漂移差值；根据每一个同分异构体物质的所述质量数漂移差值，确定所述同分异构体物质的类型。一种利用所述的基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法得到的质谱的计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现以下步骤：分析所述第一二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第一测量质量数；分析所述第二二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第二测量质量数；对于每一个同分异构体物质：计算所述第一测量质量数和实际质量数的差值，得到第一质量数漂移值，并计算所述第二测量质量数和所述实际质量数的差值，得到第二质量数漂移值；计算所述第一质量数漂移值和所述第二质量数漂移值的差值，得到质量数漂移差值；根据每一个同分异构体物质的所述质量数漂移差值，确定所述同分异构体物质的类型。上述的基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法得到的质谱的同分异构体鉴定方法、装置、计算机设备和计算机存储介质，分别分析第一二级质谱和第二二级质谱中的到各同分异构体的第一测量质量数和第二质量数；分别计算每一个同分异构体物质的第一测量质量数、第二测量质量数与实际质量数的差值，得到第一质量数漂移值和所第二质量数漂移值；然后计算第一质量数漂移值和第二质量数漂移值的差值，得到质量数漂移差值，最后根据质量数漂移差值来确定同分异构体类型。利用上述测量方式，在正离子模式扫描时各同分异构体物质朝质量轴正向漂移，在负离子模式扫描时各同分异构体物质朝质量负向漂移，然后计算正向和负向漂移的差值(即质量数漂移差值)就可以确定同分异构体类型，该方法测定简单且准确。另外，本专利技术还提供了一种PCB离子肼质谱仪，包括：PCB分压离子肼，所述PCB分压离子肼四组电极和设置于四组电极上的射频分压调节装置，其中两组所述电极沿着离子出射方向对称设置，剩下两组所述电极垂直于所述离子出射方向对称设置，所述四组电极呈四方形分布；每组所述电极都包括边电极和中间电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法，用于PCB分压离子肼质谱仪，其特征在于，包括以下步骤：依次通过所述PCB分压离子肼质谱仪的有膜进样装置、真空紫外光单光子电离源和聚焦电极组将待检测样品电离后引入PCB分压离子肼，其中所述待检测样品中包括至少两种同分异构体物质；在所述PCB分压离子肼质谱仪为正离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子肼的射频电压分压比引入负多级场，将所述PCB分压离子肼中的待检测样品离子逐出至PCB分压离子肼质谱仪的离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第一二级质谱；在所述PCB分压离子肼质谱仪为负离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子肼的射频电压分压比引入正多级场，将所述PCB分压离子肼中的所述待检测样品离子逐出至所述离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第二二级质谱。

【技术特征摘要】
1.一种基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法，用于PCB分压离子肼质谱仪，其特征在于，包括以下步骤：依次通过所述PCB分压离子肼质谱仪的有膜进样装置、真空紫外光单光子电离源和聚焦电极组将待检测样品电离后引入PCB分压离子肼，其中所述待检测样品中包括至少两种同分异构体物质；在所述PCB分压离子肼质谱仪为正离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子肼的射频电压分压比引入负多级场，将所述PCB分压离子肼中的待检测样品离子逐出至PCB分压离子肼质谱仪的离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第一二级质谱；在所述PCB分压离子肼质谱仪为负离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子肼的射频电压分压比引入正多级场，将所述PCB分压离子肼中的所述待检测样品离子逐出至所述离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第二二级质谱。2.一种利用权利要求1所述的基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法得到的质谱的同分异构体鉴定方法，其特征在于，包括以下步骤：分析所述第一二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第一测量质量数；分析所述第二二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第二测量质量数；对于每一个同分异构体物质：计算所述第一测量质量数和实际质量数的差值，得到第一质量数漂移值，并计算所述第二测量质量数和所述实际质量数的差值，得到第二质量数漂移值；计算所述第一质量数漂移值和所述第二质量数漂移值的差值，得到质量数漂移差值；根据每一个同分异构体物质的所述质量数漂移差值，确定所述同分异构体物质的类型。3.根据权利要求2所述的同分异构体鉴定方法，其特征在于，在根据每一个同分异构体物质的所述质量数漂移差值，确定所述同分异构体物质的类型的步骤中，包括：根据每一个同分异构体物质的所述质量数漂移差值确定每一个所述同分异构体物质的横截面积，其中所述质量数漂移差值与所述同分异构体物质的横截面积成正比；根据每一个所述同分异构体物质的横截面积确定所述同分异构体物质的类型。4.一种PCB离子肼质谱仪，其特征在于，包括PCB分压离子肼，所述PCB分压离子肼包括：四组电极和设置于四组电极上的射频分压调节装置，其中两组所述电极沿着离子出射方向对称设置，剩下两组所述电极垂直于所述离子出射方向对称设置，所述四组电极呈四方形分布；每组所述电极都包括边电极和中间电极；其中，垂直于所述离子出射方向设置的两组电极上设置有第一射频分压调整装置，所述第一射频分压调压装置包括第一电容、第二电容、第一电阻和第一射频电源，所述第一电容的一端分别所述两组电极的边电极，且通过所述第二电容接地，并通过所述第一电阻连接所述第一射频电源的一端；所述第一电容的另一端连接所述第一射频电源的一端，所述第一射频电源的另一端分别连接所述两组电极的中间电极；沿着所述离子出射方向设置的两组电极中其中一组电极上设置有第二射频分压调整装置，所述第二射频分压调压装置包括第三电容、第四电容、第二电阻和第二射频电源，所述第三电容的一端连接所述一组电极的边电极，且通过所述第四电容接地，并通过所述第二电阻连接所述第二射频电源的一端；所述第三电容的另一端连接所述第二射频电源的一端，所述第二射频电源的另一端连接所述一组电机的中间电极；沿着所述离子出射方向设置的两组电极中另一组电极上设置有第三射频分压调整装置，所述第三射频分压调压装置包括第五电容、第六电容、第三电阻和第三射频电源，所述第五电容的一端连接所述一组电极的边电极，且通过所述第六电容接地，并通过所述第三电阻连接所述第三射频电源的一端；所述第五电容的另一端连接所述第三射频电源的一端，所述第三射频电源的另一端连接所述另一组电机的中间电极。5.根据权利要求4所述的PCB离子肼质谱仪，其特征在于，所述第一电容、所述第三电容和所述第五电容均为可调电容。6.根据权利要求4或5所述的所...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙露露，侯志辉，陈伟章，其他发明人请求不公开姓名，
申请(专利权)人：广州禾信仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44