一种磁性能试验板件剪切质量监控方法技术

本发明专利技术提供一种应用于软磁材料磁性能测量技术领域的磁性能试验板件剪切质量监控方法，新剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值A作为监控基准数值；精密剪切机使用后，磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新剪切刀具，本发明专利技术的磁性能试验板件剪切质量监控方法，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行监控，发现剪切质量恶化后，能及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果的不良影响。

A Method for Monitoring Shear Quality of Magnetic Performance Test Plates

The invention provides a method for monitoring the shearing quality of magnetic performance test plates applied in the field of magnetic performance measurement technology of soft magnetic materials. The new shearing tool processes the soft magnetic materials into monolithic and Square-ring samples. The magnetic properties P1.5/50 are measured by the Square-ring method and the monolithic method respectively. The relative deviation of the Square-ring method to the monolithic method is calculated, and the deviation value A is calculated. After the precise shear machine is used, the wear shearing tool will process the soft magnetic material into single piece and square ring samples, measure the magnetic properties of P1.5/50 by square ring method and single piece method respectively, calculate the relative deviation between square ring method and single piece method, and take the deviation value B as the actual monitoring value. When the deviation range of quasi-numerical value is allowed, a new cutting tool is replaced. The method for monitoring the shearing quality of the magnetic performance test plate can monitor the shearing quality of the shearing machine for processing the sample. It is found that when the shearing quality deteriorates, the cutting tool can be replaced in time to avoid the adverse effect of the bad shearing quality of the sample on the test results.

【技术实现步骤摘要】
一种磁性能试验板件剪切质量监控方法
本专利技术属于软磁材料磁性能测量
，更具体地说，是涉及一种磁性能试验板件剪切质量监控方法。
技术介绍
精密剪板机剪切质量的好坏，直接影响到软磁材料磁性能测量结果的准确性。软磁材料磁性能测量过程中，试验标准对试样的剪切质量，要求无明显毛刺，但毛刺大小无法准确量化。这样导致的问题是，当精密剪板机使用一段时间后，刀具刃口磨损，剪切出的板件质量发生变化，从而影响后续磁性能试验的试样结果准确性，无法满足要求。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种步骤简单，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行有效监控，使剪板机的剪切质量量化，在发现剪切质量恶化后，能够及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果造成不良的影响，有效提高磁性能试验结果可靠性的磁性能试验板件剪切质量监控方法。要解决以上所述的技术问题，本专利技术采取的技术方案为：本专利技术为一种磁性能试验板件剪切质量监控方法，所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法的监控步骤为：1)精密剪切机更换新剪切刀具，将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，将偏差数值A作为监控基准数值；2)精密剪切机使用后，采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)将监控基准数值和监控实际数值进行对比，当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，表明精密剪切机剪切的板件不符合要求；4)当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新剪切刀具。更换新剪切刀具的精密剪切机将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料；采用精密剪切机磨损后的剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料和加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料。精密剪切机使用后，按周期采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值，多个偏差数值B的数值变化监控剪切质量变化。采用本专利技术的技术方案，能得到以下的有益效果：本专利技术所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，采用比较法，先将同一批软磁材料在精密剪板机新刀具间隙调节良好状态下，加工单片和方圈试样，以方圈法(这是本领域公知技术方法)与单片法(这是本领域公知技术方法)分别测量磁性能P1.5/50(这是本领域公知技术术语)，并计算方圈法对单片法的相对偏差，并作为监控基准数值。当剪板机使用一段时间后，刀具刃口磨损，加工同一批软磁材料的方圈法与单片法试样，并测量的磁性能P1.5/50，并计算方圈法对单片法的相对偏差。通过两次计算的磁性能P1.5/50相对偏差值变化，可以随时监控精密剪板机剪切质量变化，当质量变化过大时，就需要更换刀具，从而使得刀具加工的板件的质量始终在误差允许范围之内，这样，能够确保磁性能试验时的板件的质量始终满足要求，避免板件剪切质量不足影响试验结果，提高试验数据准确性。本专利技术所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，步骤简单，成本低，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行有效监控，使剪板机的剪切质量量化，在发现剪切质量恶化后，能够及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果造成不良的影响，有效提高磁性能试验结果的可靠性和准确性。附图说明下面对本说明书各附图所表达的内容及图中的标记作出简要的说明：图1为本专利技术所述的方法单片样取样的结构示意图；图2为本专利技术所述的方法单片样加工成方圈样取样的结构示意图；附图中标记为：1、板带中心线。具体实施方式下面通过对实施例的描述，对本专利技术的具体实施方式如所涉及的各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理等作进一步的详细说明：本专利技术为一种磁性能试验板件剪切质量监控方法，所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法的监控步骤为：1)精密剪切机更换新剪切刀具，将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，将偏差数值A作为监控基准数值；2)精密剪切机使用后，采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)将监控基准数值和监控实际数值进行对比，当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，表明精密剪切机剪切的板件不符合要求；4)当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新剪切刀具。本专利技术所述的方法，采用比较法，先将同一批软磁材料在精密剪板机新刀具间隙调节良好状态下，加工单片和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，并计算方圈法对单片法的相对偏差，并作为监控基准数值。当剪板机使用一段时间后，刀具刃口磨损，加工同一批软磁材料的方圈法与单片法试样，并测量的磁性能P1.5/50，并计算方圈法对单片法的相对偏差。通过两次计算的磁性能P1.5/50相对偏差值变化，可以随时监控精密剪板机剪切质量变化，当质量变化过大时，就需要更换刀具，从而使得刀具加工的板件(板带)的质量始终在误差允许范围之内，这样，能够确保磁性能试验时的板件的质量始终满足要求，避免板件剪切质量不足影响试验结果，提高试验数据准确性。本专利技术所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，步骤简单，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行有效监控，使剪板机的剪切质量量化，在发现剪切质量恶化后，能够及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果造成不良的影响，有效提高磁性能试验结果可靠性。更换新剪切刀具的精密剪切机将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料；采用精密剪切机磨损后的剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料和加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料。上述步骤，采用相同的软磁材料，避免软磁材料不同导致的测量数据的误差。精密剪切机使用后，按周期采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值，多个偏差数值B的数值变化监控剪切质量变化。上述步骤，可以随机或定期进行测量，得出多个监控实际数值，有效监控剪切质量变化，一旦剪切质量不符合要求，就更换刀具，确保质量始终符合要求。本专利技术所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，采用比较法，先将同一批软磁材料在精密剪板机新刀具间隙调节良好状态下，加工单片和方圈试样，以方圈法(这是本领域公知技术方法)与单片法(这是本领域公知技术方法)分别测量磁性能P1.5/50(这是本领域公知技术术语)，并计算方圈法对单片法的相对偏差，并作为监控基准数值。当剪板机使用一段时间后，刀具刃口磨损，加工同一批软磁材料的方圈法与单片法试样，并测量的磁性能P1.5/50，并计算方圈法对单片法的相对偏差。通过两次计算的磁性能P1.5/50相对偏差值变化，可以随时监控精密剪板机剪切质本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁性能试验板件剪切质量监控方法，其特征在于：所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法的监控步骤为：1)精密剪切机更换新剪切刀具，将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，将偏差数值A作为监控基准数值；2)精密剪切机使用后，采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)将监控基准数值和监控实际数值进行对比，当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，表明精密剪切机剪切的板件不符合要求；4)当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新剪切刀具。

【技术特征摘要】
1.一种磁性能试验板件剪切质量监控方法，其特征在于：所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法的监控步骤为：1)精密剪切机更换新剪切刀具，将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，将偏差数值A作为监控基准数值；2)精密剪切机使用后，采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)将监控基准数值和监控实际数值进行对比，当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，表明精密剪切机剪切的板件不符合要求；4)当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新...

【专利技术属性】
技术研发人员：浦红，方政，杨兆林，宋鑫晶，孙静，
申请(专利权)人：马鞍山钢铁股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34