芯片测试系统技术方案

一种芯片测试系统，包括芯片测试底座，机械臂、报警装置和主控制器，其中：芯片测试底座表面设有对应的识别标识；机械臂用于在接收到主控制器输出的控制指令时对芯片进行操作，以将芯片放置于芯片测试底座或将芯片从芯片测试底座脱离；机械臂上设有标识识别传感器，标识识别传感器用于在机械臂对芯片进行操作时，识别芯片测试底座的识别标识，并将识别得到的标识信息发送至主控制器；主控制器适于接收机械臂发送的标识信息并记录芯片测试底座的当前使用次数；主控制器在检测芯片测试底座的当前使用次数达到预设的最大使用次数时输出报警信号至报警装置。采用上述方案，为何时应对芯片测试底座进行维修或更换提供了标准。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试系统
本专利技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片测试系统。
技术介绍
在目前的芯片测试中，自动测试设备(AutomaticTestEquipment，ATE)和系统级别测试(SystemLevelTest，SLT)工艺都涉及到芯片测试底座(socket)的使用。在芯片测试底座的使用过程中出现测试失败的结果时，无法直接判断测试失败的原因是芯片测试底座损坏还是芯片本身的问题，最终影响测试的流程。现有技术中，在连续出现测试失败后，通常会停止测试，并依赖工程师的经验来判定导致测试失败的具体原因，导致芯片测试的周期较长。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题是芯片测试过程中，没有具体的标准判断什么时候该对芯片测试底座进行检修，导致很多情况下测试失败时无法排除是芯片测试底座损坏的原因。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种芯片测试系统，其特征在于，包括芯片测试底座，机械臂、报警装置和主控制器，其中：所述芯片测试底座与所述主控制器耦接，表面设有对应的识别标识；所述机械臂与所述主控制器耦接，用于在接收到所述主控制器输出的控制指令时对芯片进行操作，以将所述芯片放置于所述芯片测试底座或将所述芯片从所述芯片测试底座脱离；所述机械臂上设有标识识别传感器，所述标识识别传感器用于在所述机械臂对所述芯片进行操作时，识别所述芯片测试底座的识别标识，并将识别得到的标识信息发送至所述主控制器；所述主控制器分别与所述芯片测试底座和所述机械臂耦接，适于接收所述机械臂发送的标识信息并记录所述芯片测试底座的当前使用次数；报警装置，与所述主控制器耦接；所述主控制器在检测所述芯片测试底座的当前使用次数达到预设的最大使用次数时输出报警信号至所述报警装置。可选的，所述机械臂上的标识识别传感器用于在所述机械臂将所述芯片放置于所述芯片测试底座时，识别所述芯片测试底的识别标识。可选的，所述标识信息包括所述芯片测试底座的序列号，所述主控制器适于根据所述芯片测试底座的序列号记录所述芯片测试底座的当前使用次数。可选的，所述芯片测试底座将测试结果反馈至所述主控制器。可选的，所述测试结果为测试失败时，所述主控制器输出测试失败报警信号至所述报警装置。可选的，所述测试结果为失败时，所述主控制器还适于控制所述芯片测试底座对所述芯片进行第二次芯片测试，并接收所述芯片测试底座发送的第二次测试结果。可选的，所述测试结果为失败时，所述主控制器还适于记录所述芯片测试底座的当前使用次数，控制所述芯片测试底座对所述芯片进行第二次芯片测试，并接收所述芯片测试底座发送的第二次测试结果。可选的，所述第二次测试结果为失败时，所述主控制器输出测试失败报警信号至所述报警装置。可选的，所述标识信息还包括当前识别时刻以及所述芯片测试底座的工位号；所述主控制器，还适于根据所述当前识别时刻、所述芯片测试底座的工位号、当前使用次数以及测试结果制作所述芯片测试底座的工作日志，并上传至云服务器。可选的，所述识别标识为二维码，所述标识识别传感器为二维码识别传感器。可选的，所述识别标识为RFID电子标签，所述标识识别传感器为RFID解码器。可选的，所述标识识别传感器，还适于根据所述芯片测试底座上的识别标识的位置，调整识别角度。与现有技术相比，本专利技术实施例的技术方案具有以下有益效果：通过在芯片测试底座表面上设置识别标识，在每次机械臂将芯片放置于所述芯片测试底座时，机械臂上的标识识别传感器识别所述芯片测试底座对应的标识，主控制器根据标识识别传感器的识别次数记录所述芯片测试底座的使用次数。通过合理的设置最大使用次数，在达到所述芯片测试底座的使用次数时，主控制器报警，提醒更换或检修芯片测试底座，保证芯片测试的流程，同时不断地调整最大使用次数，也可以预期芯片测试底座的使用寿命。进一步，在芯片测试失败时主控制器报警，工程师根据主控制器记录的序列号能快速找到相对应的芯片测试底座。附图说明图1是本专利技术实施例中提供的一种芯片测试系统的结构示意图。具体实施方式现有技术中，在芯片测试过程中连续出现测试失败后，通常会停止测试，并依赖工程师的经验来判定导致测试失败的具体原因，导致芯片测试的周期较长。在本专利技术实施例中，在芯片测试底座表面上设置识别标识，在每次机械臂将芯片放置于所述芯片测试底座时，机械臂上的标识识别传感器识别所述芯片测试底座对应的识别标识，主控制器根据标识识别传感器的识别次数记录所述芯片测试底座的使用次数。通过合理的设置最大使用次数，在达到所述芯片测试底座的使用次数时，主控制器报警，提醒更换或检修芯片测试底座，保证芯片测试的流程，同时不断地调整最大使用次数，也可以预期芯片测试底座的使用寿命。为使本专利技术的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施例做详细的说明。参阅图1，本专利技术提供一种芯片测试系统10，包括芯片测试底座101，机械臂102、报警装置104和主控制器103，其中：所述芯片测试底座101与所述主控制器103耦接，表面设有对应的识别标识；所述机械臂102与所述主控制器103耦接，用于在接收到所述主控制器103输出的控制指令时对芯片进行操作，以将所述芯片放置于所述芯片测试底座101或将所述芯片从所述芯片测试底座101脱离；所述机械臂102上设有标识识别传感器，所述标识识别传感器用于在所述机械臂102对所述芯片进行操作时，识别所述芯片测试底座101的识别标识，并将识别得到的标识信息发送至所述主控制器103；所述主控制器103分别与所述芯片测试底座101和所述机械臂102耦接，适于接收所述机械臂102发送的标识信息并记录所述芯片测试底座101的当前使用次数；报警装置104，与所述主控制器103耦接；所述主控制器103在检测所述芯片测试底座101的当前使用次数达到预设的最大使用次数时输出报警信号至所述报警装置104。在具体实施中，芯片测试底座101表面设置的对应的识别标识可以用于区分不同的芯片测试底座，并且包括所述芯片测试底座101的特定信息。在具体实施中，当进行芯片测试时，主控制器103可以控制机械臂102对芯片进行操作。主控制器103可以控制机械臂102将芯片放置于所述芯片测试底座101，或控制机械臂102将芯片从所述芯片测试底座101脱离。当主控制器控制机械臂对芯片进行操作时，设置于机械臂102上的标识识别传感器可以对芯片测试底座101的识别标识进行识别，从而获取所述芯片测试底座101的标识信息。主控制器103可以根据获取到的标识信息，记录芯片测试底座101的当前使用次数。可以理解的是，机械臂102上的标识识别传感器，可以在机械臂将芯片放置于芯片测试底座101时，对芯片测试底座上的识别标识进行识别；也可以在将芯片脱离芯片测试底座101时，对芯片测试底座上的识别标识进行识别。在具体实施中，当机械臂102将芯片放置于芯片测试底座101时，机械臂102上的标识识别传感器可以识别芯片测试底座101对应的识别标识。如果这是第一次使用所述芯片测试底座101，那么主控制器103记录下的芯片测试底座的当前使用次数为1；如果在此次芯片测试之前所述芯片测试底座101已进行过4次测试，那么主控制器103记录下的当前使用次数为5。在具体实施中，在芯片测试底座101的表面设置识别标识的好处在于，芯片测试底本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括芯片测试底座，机械臂、报警装置和主控制器，其中：所述芯片测试底座与所述主控制器耦接，表面设有对应的识别标识；所述机械臂与所述主控制器耦接，用于在接收到所述主控制器输出的控制指令时对芯片进行操作，以将所述芯片放置于所述芯片测试底座或将所述芯片从所述芯片测试底座脱离；所述机械臂上设有标识识别传感器，所述标识识别传感器用于在所述机械臂对所述芯片进行操作时，识别所述芯片测试底座的识别标识，并将识别得到的标识信息发送至所述主控制器；所述主控制器分别与所述芯片测试底座和所述机械臂耦接，适于接收所述机械臂发送的标识信息并记录所述芯片测试底座的当前使用次数；报警装置，与所述主控制器耦接；所述主控制器在检测所述芯片测试底座的当前使用次数达到预设的最大使用次数时输出报警信号至所述报警装置。

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括芯片测试底座，机械臂、报警装置和主控制器，其中：所述芯片测试底座与所述主控制器耦接，表面设有对应的识别标识；所述机械臂与所述主控制器耦接，用于在接收到所述主控制器输出的控制指令时对芯片进行操作，以将所述芯片放置于所述芯片测试底座或将所述芯片从所述芯片测试底座脱离；所述机械臂上设有标识识别传感器，所述标识识别传感器用于在所述机械臂对所述芯片进行操作时，识别所述芯片测试底座的识别标识，并将识别得到的标识信息发送至所述主控制器；所述主控制器分别与所述芯片测试底座和所述机械臂耦接，适于接收所述机械臂发送的标识信息并记录所述芯片测试底座的当前使用次数；报警装置，与所述主控制器耦接；所述主控制器在检测所述芯片测试底座的当前使用次数达到预设的最大使用次数时输出报警信号至所述报警装置。2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述机械臂上的标识识别传感器用于在所述机械臂将所述芯片放置于所述芯片测试底座时，识别所述芯片测试底的识别标识。3.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述标识信息包括所述芯片测试底座的序列号，所述主控制器适于根据所述芯片测试底座的序列号记录所述芯片测试底座的当前使用次数。4.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试底座将测试结果反馈至所述主控制器。5.根据权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，当所述测试结果为测...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴欢欢，
申请(专利权)人：苏州通富超威半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32