一种精密测量复合架及测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种精密测量复合架及测量装置，其包括：架体，其具有中空的内部；所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位，且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜；所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。本实用新型专利技术可以将将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一，在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量，由此提高测量效率。

【技术实现步骤摘要】
一种精密测量复合架及测量装置
本技术涉及精密测量
，尤其涉及一种精密测量复合架及测量装置。
技术介绍
高速铁路建设完成后，在运营初期需进行精测网复测及沉降监测，为线路维修养护、线路现状评估等工作提供数据基础。在线上平面控制网建网及复测工作中，常规方法是将CPⅡ(即线路控制网)与CPⅢ(即基桩控制网)分开测量，同一段里程线路申请两次天窗点各自进行CPⅡ与CPⅢ的单独测量。但目前高速铁路线路运行日益繁忙，铁路线路长度、站点不断增多，因此，为保证正常运行，检测天窗点呈现不断减少的趋势，而上述现有检测方式中，又要以保证足够数量的天窗点为前提，两者之间存在矛盾。
技术实现思路
本技术针对现有技术的上述缺陷，提供一种精密测量复合架及具有该精密测量复合架的测量装置，其可以将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一，在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量，由此提高测量效率。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一方面，提供了一种精密测量复合架，其包括：架体，其具有中空的内部；所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位，且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜；所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。优选的，所述架体侧部设有用于安装可对所述GPS天线高度进行测量的量具的第三安装位。优选的，所述架体整体为矩形或正方形。优选的，所述架体的四个转角处均为弧形，且所述架体内部的周面上设有弧形加强筋。优选的，所述架体高度为165-175mm，宽度为120-140mm，厚度20-30mm；所述架体内部净空高度为150-160mm，宽度为115-125mm。另一方面，还提供一种可同时进行CPⅡ和CPⅢ测量的测量装置，其特征在于，包括：用于进行CPⅢ测量的基座和棱镜、用于进行CPⅡ测量的GPS天线以及上述精密测量复合架。优选的，所述进行CPⅢ测量的基座和棱镜通过所述第一安装位可拆卸地连接；所述进行CPⅡ测量的GPS天线与所述第二安装位可拆卸地连接。优选的，所述基座包括插接部，其穿过所述第一安装位后与容纳于所述架体内部的棱镜插接。优选的，所述棱镜与GPS天线所处的平面精度小于0.6mm。优选的，所述测量装置还包括：可对所述GPS天线高度进行测量的量具，且所述量具与所述第三安装位可拆卸地连接。本技术技术方案的有益效果在于：本技术中的精密测量复合架及具有该精密测量复合架的测量装置可以将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一，在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量，由此节省天窗点时间的使用，同时又避免了人力、物力和财力的浪费，提高测量效率。附图说明下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明，附图中：图1是本技术实施例一中精密测量复合架的正视图；图2是本技术实施例一中精密测量复合架的侧视图；图3是本技术实施例一中精密测量复合架的俯视图；图4是本技术实施例二中测量装置的正视图；图5是本技术实施例二中测量装置的侧视图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案以及优点更加清楚明白，以下结合附图和实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本技术，并不用于限定本技术。实施例一：如图1-3所示，本技术的精密测量复合架包括：架体1，其具有中空的内部S，本实施例中，所述架体1高度H1为165-175mm(优选为170mm)，宽度W1为120-140mm(优选为135mm)，厚度D1为20-30mm(优选为25mm)；所述架体内部净空高度H2为150-160mm(优选为155mm)，宽度W2为115-125mm(优选为120mm)，此外，所述架体1优选为航空铝合金材料制成，整体为矩形或正方形，且为防止尖锐的突出部伤人，所述架体1的四个转角处均为弧形，且所述弧形半径均为15mm；进一步的，为增强架体整体结构强度，且所述架体内部的周面上设有弧形加强筋5(优选的，所述架体内部的周面的一整周都设有弧形加强筋5)，且所述弧形加强筋5厚度D2为5mm，且弧形半径为40mm；所述架体1底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位2，且所述架体内部S用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜；所述架体1顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位3；所述架体1侧部设有用于安装可对所述GPS天线高度进行测量的量具的第三安装位4。实施例二：如图4-5所示，本实施例提供一种可同时进行CPⅡ和CPⅢ测量的测量装置，包括：用于进行CPⅢ测量的基座10和棱镜20、用于进行CPⅡ测量的GPS天线30以及实施例一中的精密测量复合架。其中，所述进行CPⅢ测量的基座10和棱镜20通过所述第一安装位2可拆卸地连接；所述进行CPⅡ测量的GPS天线与所述第二安装位3可拆卸地连接(例如螺纹连接、卡接、扣接等)。具体的，所述第一安装位2为一通孔，所述基座10包括插接部11，其穿过所述第一安装位2后与容纳于所述架体内部S的棱镜20插接，同时，为保证两者之间连接的牢固程度，紧固件(如紧固螺钉等)还可在垂直于所述架体1所在平面的方向上通过开设在第一安装位2上的通孔21对基座10与棱镜20的结合部进行紧固；进一步的，所述棱镜20与GPS天线所处的平面精度小于0.6mm，由此保证可对同一位置点的CPⅡ与CPⅢ进行平面测量。此外，所述测量装置还包括可对所述GPS天线30高度进行测量的量具40(例如量尺等)，且所述量具40与所述第三安装位4可拆卸地连接(例如螺纹连接、卡接、扣接等)。使用时，先将精密测量复合架安装于强制对中在CPⅡ控制点并精确调平好的基座10上，再将GPS天线及测量棱镜分别安装在精密测量架顶部的第二安装位3和底部的第一安装位2。综上所述，本技术中的精密测量复合架及具有该精密测量复合架的测量装置可以将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一，在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量，由此节省天窗点时间的使用，同时又避免了人力、物力和财力的浪费，提高测量效率。以上所述仅为本技术的较佳实施例，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种精密测量复合架，其特征在于，包括：架体，其具有中空的内部；所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位，且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜；所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。

【技术特征摘要】
1.一种精密测量复合架，其特征在于，包括：架体，其具有中空的内部；所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位，且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜；所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。2.如权利要求1所述的精密测量复合架，其特征在于，所述架体侧部设有用于安装可对所述GPS天线高度进行测量的量具的第三安装位。3.根据权利要求1所述的精密测量复合架，其特征在于，所述架体整体为矩形或正方形。4.根据权利要求3所述的精密测量复合架，其特征在于，所述架体的四个转角处均为弧形，且所述架体内部的周面上设有弧形加强筋。5.根据权利要求1所述的精密测量复合架，其特征在于，所述架体高度为165-175mm，宽度为120-140mm，厚度20-30mm；所述架体内部净空高度为150-160...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁玫，张金龙，李德悦，
申请(专利权)人：中铁工程设计咨询集团有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11