【技术实现步骤摘要】
一种芯片的漏电流测试装置
本专利技术涉及芯片测试设备
，特别涉及一种芯片的漏电流测试装置。
技术介绍
理想条件下，芯片的引脚和大地之间是开路的，但实际情况下，它们之间为高阻状态，加上电压时可能会有微小的电流流过，这种电流称为漏电流。在芯片流片之后，需要测试芯片的漏电流是否达标，如果芯片的漏电流过大，比如应用到手机、笔记本电脑等需要电池供电的电子设备上，芯片会严重的影响待机时间，影响产品的质量，因此漏电流需要慎重考虑。近年来，随着集成电路的发展，各种芯片引脚越来越密，引脚越来越多，引脚间距也越来越小，给生产、维修、组装和测试带来不少的困难。现有的漏电流测量方法，通常为人工采用测试治具和万用表，逐个测试芯片引脚的漏电流，该方法测试效率十分低下，测试精度无法得到保证，大大影响了生产和加工效率。
技术实现思路
(一)解决的技术问题为了解决上述问题，本专利技术提供了一种芯片的漏电流测试装置，通过传送机构向测试机构自动送料，测试机构对待测芯片进行漏电流测试，各引脚的漏电流经多路模拟选择开关送入控制模块进行处理，并判定良品或废品，分拣机构根据控制模块的判定结果分别将良品放入良...
【技术保护点】
1.一种芯片的漏电流测试装置，包括装置本体，其特征在于：所述装置本体包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述第一侧板和所述第二侧板之间设有传送机构，所述传送机构包括第一从动辊和第二从动辊，所述第一从动辊的一端贯穿所述第一侧板的一端并伸出所述第一侧板外，所述第一从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的一端并伸出所述第二侧板外，所述第二从动辊的一端贯穿所述第一侧板的另一端并伸出所述第一侧板外，所述第二从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的另一端并伸出所述第二侧板外，所述第一从动辊和所述第二从...
【技术特征摘要】
1.一种芯片的漏电流测试装置，包括装置本体，其特征在于：所述装置本体包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述第一侧板和所述第二侧板之间设有传送机构，所述传送机构包括第一从动辊和第二从动辊，所述第一从动辊的一端贯穿所述第一侧板的一端并伸出所述第一侧板外，所述第一从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的一端并伸出所述第二侧板外，所述第二从动辊的一端贯穿所述第一侧板的另一端并伸出所述第一侧板外，所述第二从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的另一端并伸出所述第二侧板外，所述第一从动辊和所述第二从动辊之间设有传送带，所述传送带上均匀的设有若干放置槽，所述放置槽位于所述传送带的中轴线上，所述底座的横部上分别设有第一旋转电机和第二旋转电机，所述第一旋转电机和所述第二旋转电机相背的位于所述底座的横部两端，所述第一旋转电机的第一旋转轴贯穿所述底座的一个竖部并伸出所述底座的一个竖部外，伸出于所述底座的一个竖部外的所述第一旋转轴与所述第一从动辊之间设有第一张紧皮带，所述第二旋转电机的第二旋转轴贯穿所述底座的另一个竖部并伸出所述底座的另一个竖部外，伸出于所述底座的另一个竖部外的所述第二旋转轴与所述第一从动辊之间设有第二张紧皮带，所述传送带上设有测试机构，所述测试机构包括测试架，所述测试架为倒U型结构，所述测试架的一个竖部与所述第一侧板相连接，所述测试架的另一个竖部与所述第二侧板相连接，所述测试架的横部内设有控制模块，所述测试架的横部底侧居中的设有第一直线电机，所述第一直线电机的第一伸缩杆的端部设有连接板，所述连接板内设有多路模拟选择开关，所述连接板的底部设有...
【专利技术属性】
技术研发人员：王淑琴，
申请(专利权)人：湖州靖源信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33
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