一种用于TO-CAN激光器的测试装置和测试系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及TO‑CAN激光器测试领域，具体涉及一种用于TO‑CAN激光器的测试装置。所述测试装置包括测试插座、同轴波导基板和测试PCB板，所述测试插座包括容纳TO‑CAN激光器信号输出引脚的同轴波导管，以及容纳TO‑CAN激光器信号输入引脚的导电插槽，所述同轴波导基板分别与测试PCB板的同轴波导引脚和插座的同轴波导管连接，所述测试插座的导电插槽与测试PCB板的对应控制引脚连接。本发明专利技术还涉及一种用于TO‑CAN激光器的测试系统。本发明专利技术通过设计一种用于TO‑CAN激光器的测试装置和测试系统，测试TOCAN时无需剪短其引线，有利于批量生产测试，以及对TOCAN光发射器进行全面测试；同时，通过同轴波导基板可将带宽从DC扩展到约60GHz。

A testing device and testing system for TO-CAN laser

The invention relates to the testing field of the TO_CAN laser, in particular to a testing device for the TO_CAN laser. The test device comprises a test socket, a coaxial waveguide substrate and a test PCB board. The test socket comprises a coaxial waveguide tube containing a signal output pin of a TO_CAN laser, and a conductive slot containing a signal input pin of a TO_CAN laser. The coaxial waveguide substrate respectively tests coaxial waveguide pins and plugs of the PCB board. The coaxial waveguide tube of the seat is connected, and the conductive slot of the test socket is connected with the corresponding control pin of the test PCB board. The invention also relates to a testing system for TO CAN laser. By designing a test device and a test system for TOCAN lasers, the TOCAN laser can be tested without cutting its lead, which is beneficial for batch production test and comprehensive test of TOCAN light emitters. At the same time, the bandwidth can be extended from DC to about 60 GHz by coaxial waveguide substrate.

【技术实现步骤摘要】
一种用于TO-CAN激光器的测试装置和测试系统
本专利技术涉及TO-CAN激光器测试领域，具体涉及一种用于TO-CAN激光器的测试装置和测试系统。
技术介绍
TO-CAN激光器为镭射二极体模组，特别是同轴型，壳体通常为圆柱形，一般用于40Gbit/s的传输系统内。目前最主要的用途还在于2.5Gbit/s及10Gbit/s短距离传输，但现在已经有同轴带制冷技术在发展，10Gbit/s及20km传输技术已经初步具备，并且由于其成本低廉，工艺简单，前景极佳。对TO-CAN激光器进行测试，获取；然而，现有的测试TOCAN时，需剪短其引线，不利于批量生产测试。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种用于TO-CAN激光器的测试装置，解决现有测试效率低、不利于批量生产测试的问题。本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种用于TO-CAN激光器的测试系统，解决现有测试效率低、不利于批量生产测试的问题。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种用于TO-CAN激光器的测试装置，所述测试装置包括测试插座、同轴波导基板和测试PCB板，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于TO‑CAN激光器的测试装置，其特征在于：所述测试装置包括测试插座、同轴波导基板和测试PCB板，所述测试插座包括容纳TO‑CAN激光器信号输出引脚的同轴波导管，以及容纳TO‑CAN激光器信号输入引脚的导电插槽，所述同轴波导基板分别与测试PCB板的同轴波导引脚和插座的同轴波导管连接，所述测试插座的导电插槽与测试PCB板的对应控制引脚连接。

【技术特征摘要】
1.一种用于TO-CAN激光器的测试装置，其特征在于：所述测试装置包括测试插座、同轴波导基板和测试PCB板，所述测试插座包括容纳TO-CAN激光器信号输出引脚的同轴波导管，以及容纳TO-CAN激光器信号输入引脚的导电插槽，所述同轴波导基板分别与测试PCB板的同轴波导引脚和插座的同轴波导管连接，所述测试插座的导电插槽与测试PCB板的对应控制引脚连接。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述同轴波导基板为铜基板。3.根据权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于：所述同轴波导基板还包括射频接地引脚，所述射频接地引脚与测试PCB板的接地引脚连接。4.根据权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于：所述测试插座包括插座筒身，所述插座筒身的端面设有作为同轴波导...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄自宁，布沙依卜，阚家溪，
申请(专利权)人：昂纳信息技术深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44