一种半导体测试机连接线制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体测试机连接线，包括主连接插头和连接线，所述主连接插头的两端对称固定连接有插接螺纹柱，所述插接螺纹柱的内部螺纹插接有固定接头，所述主连接插头的两侧安装有防滑手柄，所述主连接插头的末端固定连接有密封连接圈，所述连接线固定连接在密封连接圈背离主连接插头的一端，所述连接线背离主连接插头的端头对称安装有第一辅助连接插头和第二辅助连接插头，所述主连接插头的内部均匀开设有连接孔，所述连接线的内部均匀安装有多组隔离保护线圈，所述隔离保护线圈的外部固定安装有第二套管，所述第二套管的内部固定套接有第一套管。本实用新型专利技术耐磨损使用寿命长，使用过程中不易断裂，并且抗干扰能力强。

A connecting line for semiconductor tester

The utility model discloses a connection wire of a semiconductor testing machine, which comprises a main connecting plug and a connecting wire. The two ends of the main connecting plug are symmetrically fixed and connected with a plugging thread column. The internal thread of the plugging thread column is plugged with a fixed joint, and the two sides of the main connecting plug are equipped with anti-skid handles, and the main connecting plug is connected with a plug. The end of the head is fixed and connected with a sealed connection ring. The connection wire is fixed and connected at one end of the sealed connection ring deviating from the main connection plug. The end of the connection line deviating from the main connection plug is symmetrically installed with the first auxiliary connection plug and the second auxiliary connection plug. The inner part of the main connection plug is evenly provided with a connecting hole. A plurality of sets of isolation protection coils are uniformly installed inside the connecting line. The external fixing of the isolation protection coil is provided with a second sleeve, and the internal fixing sleeve of the second sleeve is connected with a first sleeve. The utility model has the advantages of long wear resistance and long service life, and is not easy to break in use, and has strong anti-interference ability.

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试机连接线
本技术涉及连接线设备
，具体为一种半导体测试机连接线。
技术介绍
现有的半导体测试机连接线在使用的过程中容易破损和断裂，不方便使用，并且使用的过程中不能够有效的抵抗电磁信号的干扰，使用效果较差。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种半导体测试机连接线，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体测试机连接线，包括主连接插头和连接线，所述主连接插头的两端对称固定连接有插接螺纹柱，所述插接螺纹柱的内部螺纹插接有固定接头，所述主连接插头的两侧安装有防滑手柄，所述主连接插头的末端固定连接有密封连接圈，所述连接线固定连接在密封连接圈背离主连接插头的一端，所述连接线背离主连接插头的端头对称安装有第一辅助连接插头和第二辅助连接插头，所述主连接插头的内部均匀开设有连接孔，所述连接孔的两侧对称开设有插接孔，所述连接线的内部均匀安装有多组隔离保护线圈，所述隔离保护线圈的外部固定安装有第二套管，所述第二套管的内部固定套接有第一套管，所述第一套管的内部固定套接有第一编织网，所述第一编织网的内部固定套接有第二编织网。优选的，所述固定接头的前端插接在插接孔的内部。优选的，所述第一辅助连接插头和第二辅助连接插头的结构规格均相同，且第一辅助连接插头和第二辅助连接插头的中部均开设有插接孔和连接孔。优选的，所述固定接头上开设有防滑螺纹。优选的，所述连接线内部的隔离保护线圈结构规格均相同。优选的，所述连接线的外部安装有防水保护圈。优选的，所述第一辅助连接插头和第二辅助连接插头与连接线相连接的一端均安装有密封连接圈。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、本技术主连接插头通过连接线与第一辅助连接插头与第二辅助连接插头相连接，连接线的内部均匀安装了多个隔离保护线圈，并且隔离保护线圈的内部安装了第一编织网、第二编织网、第一套管和第二套管，连接线内部信号输出线均分别安装在隔离保护线圈的内部彼此互不连接，从而隔离保护线圈内部的信号输出线具有极强的电磁抗干扰能力，同时又能够保证连接线的耐磨性能和防断裂性能，能够确保连接线在使用的过程中能够使用的更加长久，同时大大减少了因连接线的断裂而对半导体测试机的维修情况的发生。2、本技术连接线在与主连接插头和第一辅助连接插头以及第二辅助连接插头的连接处均安装了密封连接圈，充分确保了在是使用连接线的过程中水分以及灰尘进入至主连接插头和第一辅助连接插头以及第二辅助连接插头的内部，大大减少了连接线内部腐蚀现象的发生，主连接插头和第一辅助连接插头以及第二辅助连接插头的两侧均安装了防滑手柄，方便对插接头的插接和拔取，方便使用。附图说明图1为本技术主体结构示意图；图2为本技术主连接插头结构示意图；图3为本技术连接线结构示意图；图4为本技术防第一辅助连接插头结构示意图。图中：1-主连接插头；2-防滑手柄；3-密封连接圈；4-连接线；5-第一辅助连接插头；6-第二辅助连接插头；7-固定接头；8-插接螺纹柱；9-插接孔；10-连接孔；11-第一编织网；12-第二编织网；13-第一套管；14-第二套管；15-隔离保护线圈。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-4，本技术提供一种技术方案：一种半导体测试机连接线，包括主连接插头1和连接线4，主连接插头1的两端对称固定连接有插接螺纹柱8，插接螺纹柱8的内部螺纹插接有固定接头7，主连接插头1的两侧安装有防滑手柄2，主连接插头1的末端固定连接有密封连接圈3，连接线4固定连接在密封连接圈3背离主连接插头1的一端，连接线4背离主连接插头1的端头对称安装有第一辅助连接插头5和第二辅助连接插头6，主连接插头1的内部均匀开设有连接孔10，连接孔10的两侧对称开设有插接孔9，连接线4的内部均匀安装有多组隔离保护线圈15，隔离保护线圈15的外部固定安装有第二套管14，第二套管14的内部固定套接有第一套管13，第一套管13的内部固定套接有第一编织网11，第一编织网11的内部固定套接有第二编织网12。固定接头7的前端插接在插接孔9的内部，第一辅助连接插头5和第二辅助连接插头6的结构规格均相同，且第一辅助连接插头5和第二辅助连接插头6的中部均开设有插接孔9和连接孔10，固定接头7上开设有防滑螺纹，连接线4内部的隔离保护线圈15结构规格均相同，连接线4的外部安装有防水保护圈，第一辅助连接插头5和第二辅助连接插头6与连接线4相连接的一端均安装有密封连接圈3。工作原理：在使用本技术的过程中，主连接插头1通过连接线4与第一辅助连接插头5与第二辅助连接插头6相连接，连接线4的内部均匀安装了多个隔离保护线圈15，并且隔离保护线圈15的内部安装了第一编织网11、第二编织网12、第一套管13和第二套管14，连接线4内部信号输出线均分别安装在隔离保护线圈15的内部彼此互不连接，从而隔离保护线圈15内部的信号输出线具有极强的电磁抗干扰能力，同时又能够保证连接线的耐磨性能和防断裂性能，能够确保连接线在使用的过程中能够使用的更加长久，同时大大减少了因连接线的断裂而对半导体测试机的维修情况的发生，连接线4在与主连接插头1和第一辅助连接插头5以及第二辅助连接插头6的连接处均安装了密封连接圈3，充分确保了在是使用连接线的过程中水分以及灰尘进入至主连接插头1和第一辅助连接插头5以及第二辅助连接插头6的内部，大大减少了连接线内部腐蚀现象的发生，主连接插头1和第一辅助连接插头5以及第二辅助连接插头6的两侧均安装了防滑手柄2，方便对插接头的插接和拔取，方便使用，本技术耐磨损使用寿命长，使用过程中不易断裂，并且抗干扰能力强。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体测试机连接线，包括主连接插头（1）和连接线（4），其特征在于：所述主连接插头（1）的两端对称固定连接有插接螺纹柱（8），所述插接螺纹柱（8）的内部螺纹插接有固定接头（7），所述主连接插头（1）的两侧安装有防滑手柄（2），所述主连接插头（1）的末端固定连接有密封连接圈（3），所述连接线（4）固定连接在密封连接圈（3）背离主连接插头（1）的一端，所述连接线（4）背离主连接插头（1）的端头对称安装有第一辅助连接插头（5）和第二辅助连接插头（6），所述主连接插头（1）的内部均匀开设有连接孔（10），所述连接孔（10）的两侧对称开设有插接孔（9），所述连接线（4）的内部均匀安装有多组隔离保护线圈（15），所述隔离保护线圈（15）的外部固定安装有第二套管（14），所述第二套管（14）的内部固定套接有第一套管（13），所述第一套管（13）的内部固定套接有第一编织网（11），所述第一编织网（11）的内部固定套接有第二编织网（12）。

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试机连接线，包括主连接插头（1）和连接线（4），其特征在于：所述主连接插头（1）的两端对称固定连接有插接螺纹柱（8），所述插接螺纹柱（8）的内部螺纹插接有固定接头（7），所述主连接插头（1）的两侧安装有防滑手柄（2），所述主连接插头（1）的末端固定连接有密封连接圈（3），所述连接线（4）固定连接在密封连接圈（3）背离主连接插头（1）的一端，所述连接线（4）背离主连接插头（1）的端头对称安装有第一辅助连接插头（5）和第二辅助连接插头（6），所述主连接插头（1）的内部均匀开设有连接孔（10），所述连接孔（10）的两侧对称开设有插接孔（9），所述连接线（4）的内部均匀安装有多组隔离保护线圈（15），所述隔离保护线圈（15）的外部固定安装有第二套管（14），所述第二套管（14）的内部固定套接有第一套管（13），所述第一套管（13）的内部固定套接有第一编织网（11），所述第一编织网（11）的内部固定套接有第...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟臣，
申请(专利权)人：东莞市茂佳塑胶电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44