一种非接触式料位测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种非接触式料位测量装置，包括依次连接的闪烁探测器、脉冲调理与放大器、分析处理单元与用户接口；闪烁探测器包括高压偏置电路，高压偏置电路连接光电倍增管，光电倍增管连接碘化钠晶体；闪烁探测器的外表面设置有磁屏蔽层，磁屏蔽层的外表面包覆有伽马射线屏蔽层。磁屏蔽层包裹于光电倍增管的外壁，用来降低环境中的磁场对光电倍增管内电子束的影响；伽马射线屏蔽层包裹于碘化钠晶体的外壁，用来提高测量装置的指向性和灵敏度。该装置在使用时无需在容器壁上开孔，能够实现真正的非接触式测量。而且，由于其测量是基于特定能量的伽马射线附近的能谱，所以测量精度和温度稳定性也非常好，提高测量的指向性。

A non-contact material level measuring device

The utility model discloses a non-contact material level measuring device, which comprises a scintillation detector, a pulse conditioning and amplifier, an analysis processing unit and a user interface connected sequentially; a scintillation detector comprises a high-voltage bias circuit, a high-voltage bias circuit connected with a photomultiplier tube, and a photomultiplier tube connected with a sodium iodide crystal; and a scintillation detector. A magnetic shielding layer is arranged on the outer surface of the detector, and a gamma shielding layer is covered on the outer surface of the magnetic shielding layer. The magnetic shielding layer is wrapped in the outer wall of the photomultiplier tube to reduce the influence of the magnetic field in the environment on the electron beam in the photomultiplier tube, and the gamma ray shielding layer is wrapped in the outer wall of the sodium iodide crystal to improve the directivity and sensitivity of the measuring device. When the device is used, it does not need to open holes on the wall of the container, so that the real non-contact measurement can be realized. Moreover, because its measurement is based on the energy spectrum near the specific energy gamma rays, so the measurement accuracy and temperature stability are very good, improve the directivity of the measurement.

【技术实现步骤摘要】
一种非接触式料位测量装置
本技术涉及料位测量装置
，具体为一种非接触式料位测量装置。
技术介绍
物料检测是包括火力发电在内的许多生产性企业的过程控制系统的重要组成环节，其检测的精度与可靠性对生产过程具有重要的影响。当前，在上述过程控制系统中，大部分料位检测装置采用接触式测量方式，利用物料和物料检测装置的直接接触来进行料位检测。这种测量方式需要将料位检测装置嵌入到容器内部，安装、维护和更换非常不方便，另一方面，由于很多物料具有高温、高粘、高压等特点，致使料位检测的精度和可靠性受到很大影响。现有的一些非接触式料位测量装置主要是通过简单地测量物料和环境中的伽马射线强度来计算料位。一方面，由于工业现场存在大量的电气设备，电磁干扰比较强，容易导致光电管内的倍增电子束发生不可预知的偏移，影响测量的准确性；另一方面，由于环境中的伽马射线是普遍存在的，且其能量分布在很宽的范围内，该类型检测装置在检测过程中很容易受到来自附近容器内物料及其他以天然矿物质为原料的基础设施的影响，因此其指向性和抗干扰能力比较差，温度稳定性也比较差。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种非接触式料位测量装置，以解决上述背景技本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种非接触式料位测量装置，其特征在于：包括依次连接的闪烁探测器(4)、脉冲调理与放大器(3)、分析处理单元(2)与用户接口(1)；所述闪烁探测器(4)包括高压偏置电路(5)，所述高压偏置电路(5)连接光电倍增管(401)，所述光电倍增管(401)连接碘化钠晶体(404)；所述闪烁探测器(4)的外表面设置有磁屏蔽层(402)，所述磁屏蔽层(402)的外表面包覆有伽马射线屏蔽层(403)。

【技术特征摘要】
1.一种非接触式料位测量装置，其特征在于：包括依次连接的闪烁探测器(4)、脉冲调理与放大器(3)、分析处理单元(2)与用户接口(1)；所述闪烁探测器(4)包括高压偏置电路(5)，所述高压偏置电路(5)连接光电倍增管(401)，所述光电倍增管(401)连接碘化钠晶体(404)；所述闪烁探测器(4)的外表面设置有磁屏蔽层(402)，所述磁屏蔽层(402)的外表面包覆有伽马射线屏蔽层(403)。2.根据权利要求1所述的一种非接触式料位测量装置，其特征在于：所述高压偏置电路(5)包括依次连接的高压电源(501)、电阻链分压器(502)与取样电阻(503)；所述光电倍增管(401)与所述电阻链分压器(502)连接，所述取样电阻(503)连接所述脉冲调理与放大器(3)。3.根据权利要求2所述的一种非接触式料位测量装置，其特征在于：所述脉冲调理与放大器(3)包括RC低通滤波器(301)及与所述RC低通滤波器(301)连接的反向放大电路(302)；所述RC低通滤波器(301)连接所述取样电阻(503)。4.根据权利要求3所述的一种非接触式料位测量装置，其特征在于：所述分析处理...

【专利技术属性】
技术研发人员：仝涵琦，
申请(专利权)人：无锡福特汉姆科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32