【技术实现步骤摘要】
一种分程式并行结构电容阵列测量电路
本专利技术涉及一种分程式并行结构电容阵列测量电路，属于分布参数测量领域。
技术介绍
电容层析成像(ElectricalCapacitanceTomography，ECT)技术是一种用于测量被测场域内介电常数分布的可视化技术手段，常用于多相流动过程监测。它通过测量被测场域边界的电容值来反演出被测场域内的介电常数分布，进而获得不同介电常数对应的物质分布情况。与传统的参数检测技术相比，ECT技术具有以下优点：①非侵入，不破坏被测物场分布；②采用低压交流激励，无辐射、安全；③无需机械扫描，响应快、实时性高；④结构简单，成本低；⑤可反演得到被测对象内部的介电常数分布信息，提供在线的二维或三维可视化图像。因此，ECT技术在石油、化工、电力、冶金及航空航天等领域中的过程监测及特征参数提取方面具有广泛的应用前景。电容的精确测量是ECT技术的核心。最常用的微小电容测量方法主要有两种，分别为充放电式(charge-discharge)和交流式(AC-based)。其中，充放电式电容测量电路以其结构简单、成本低廉、功耗低等优点而最早被ECT系统所采用...
【技术保护点】
1.一种分程式并行结构电容阵列测量电路，其特征在于包括五个部分：通道选择电路(1)、分程式C/V转换器(2)、数字递推解调器(3)、激励信号发生电路(4)和控制电路(5)；针对具有N个电极的电容阵列传感器，所述电路具有N个测量通道；每个通道包括一个通道选择电路，每个通道选择电路(1)具有两个“T”型开关电路(11,12)，每个“T”型开关电路电路包括三个电子开关(111,112,113)；每个通道包括一个分程式C/V转换器(21)，每个C/V转换器包括一个反馈电容(217)、M个反馈电阻(212,214,216)、M个电子开关(211,213,215)、一个运算放大器(21...
【技术特征摘要】
1.一种分程式并行结构电容阵列测量电路，其特征在于包括五个部分：通道选择电路(1)、分程式C/V转换器(2)、数字递推解调器(3)、激励信号发生电路(4)和控制电路(5)；针对具有N个电极的电容阵列传感器，所述电路具有N个测量通道；每个通道包括一个通道选择电路，每个通道选择电路(1)具有两个“T”型开关电路(11,12)，每个“T”型开关电路电路包括三个电子开关(111,112,113)；每个通道包括一个分程式C/V转换器(21)，每个C/V转换器包括一个反馈电容(217)、M个反馈电阻(212,214,216)、M个电子开关(211,213,215)、一个运算放大器(218)；数字递推解调器(3)包括N个模数转换器(31)和一个数字信号处理芯片(34)，每个通道单独使用一个模数转换器，多个通道共用一个数字信号处理芯片；激励信号发生电路(4)包括一个参考时钟(41)、一个相位累加器(42)、一个正弦查找表(43)、一个数模转换器(44)、一个低通滤波器(45)；所述激励信号发生电路(4)产生固定频率的正弦电压激励信号，施加...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙世杰，徐立军，曹章，黄昂，何玉珠，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：北京,11
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