【技术实现步骤摘要】
频域介电响应测试的温度校正设备及测试设备
本申请涉及信号测量
，特别涉及介电响应测试
技术介绍
在电力设备绝缘诊断领域，介电谱分析技术作为一种无损检测技术，在不破坏绝缘材料的前提下能够获得绝缘劣化或绝缘受潮的信息。时域介电谱测试法包括去极化电流法(PolarizationDepolarizationCurrent，PDC)和回复电压法(RecoveryVoltageMethod，RVM)。频域介电谱测试(FrequencyDomainSpectroscopy，FDS)是一种基于介电响应的测试技术，该方法具有无损测量、抗干扰能力强、获取绝缘信息丰富的优点。现有的采用FDS评估油纸绝缘含水量和老化程度的方法，通常将单次测试时间的温度视为不变。而对于多次温度不同的FDS测量，则通过温度平移公式对FDS曲线进行平移校正。在实际频域介电响应测试过程中，FDS需要测量1mHz(毫赫兹)甚至是0.1mHz的低频信号。对于频域介电响应，一般要求电介质响应信号的频率范围从0.001Hz到10kHz，并且低频下测量的时间过长，单个测试周期最高长达五个小时。因此，在实际...
【技术保护点】
1.一种频域介电响应测试的温度校正设备，其特征在于，所述设备包括温度测量电路、信号合成电路、高压放大电路、信号处理电路、校正电路；所述温度测量电路与所述信号处理电路相连，以便所述温度测量电路将在频域介电谱FDS测试之前测量的电介质的温度，发送给所述信号处理电路；所述信号处理电路与所述校正电路相连，以便所述信号处理电路将其得到的所述电介质在高频信号下的介质损耗参数，以及所述高频信号下的介质损耗参数与所述FDS测试之前电介质温度的对应关系，发送给所述校正电路；所述信号合成电路与所述高压放大电路相连，以便所述信号合成电路将所述高频信号与待测频率信号合成的信号发送给所述高压放大电路...
【技术特征摘要】
1.一种频域介电响应测试的温度校正设备，其特征在于，所述设备包括温度测量电路、信号合成电路、高压放大电路、信号处理电路、校正电路；所述温度测量电路与所述信号处理电路相连，以便所述温度测量电路将在频域介电谱FDS测试之前测量的电介质的温度，发送给所述信号处理电路；所述信号处理电路与所述校正电路相连，以便所述信号处理电路将其得到的所述电介质在高频信号下的介质损耗参数，以及所述高频信号下的介质损耗参数与所述FDS测试之前电介质温度的对应关系，发送给所述校正电路；所述信号合成电路与所述高压放大电路相连，以便所述信号合成电路将所述高频信号与待测频率信号合成的信号发送给所述高压放大电路；所述高压放大电路与所述信号处理电路相连，以便所述高压放大电路将所述合成信号放大后发送给所述信号处理电路，从而使所述信号处理电路得到所述合成信号在各频点的介质损耗参数；所述信号处理电路与所述校正电路相连，以便所述校正电路根据来自所述信号处理电路的所述合成信号各频点的介质损耗参数，以及根据所述高频信号下所述电介质的介质损耗参数与所述电介质温度的对应关系，确定同一温度下所述待测频率信号的各频点的介质损耗参数。2.如权利要求1所述的一种频域介电响应测试的温度校正设备，其特征在于，所述频域介电响应测试的温度校正设备还包括电流测量电路；所述电流测量电路与所述信号处理电路相连，以便所述电流测量电路将其测量得到的电介质的响应电流信号，发送给所述信号处理电路，从而使所述信号处理电路根据所述电介质的响应电流信号，得到所述电介质的介质损耗参数。3.如权利要求2所述的一种频域介电响应测试的温度校正设备，其特征在于，所述电流测量电路包括相互连接的低偏置电流运算放大器、反馈电阻。4.如权利要求1所述的一种频域介电响应测试的温度校正设备，其特征在于，所述高压放大电路包括相互连接的高压算法放大器、负反馈电路、分压电路。5.一种频域介电响应测试设备，其特征在于，所述设备包括温度测量电路、信号合成电路、高压放大电路、信号处理电路、...
【专利技术属性】
技术研发人员：秦少瑞，张大宁，牛朝滨，丁国成，朱太云，秦金飞，宋东波，吴兴旺，尹睿涵，张晨晨，
申请(专利权)人：国家电网公司，国网安徽省电力公司电力科学研究院，西安交通大学，
类型：新型
国别省市：北京,11
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