可切换式3D模组的不良检测方法技术

本发明专利技术提供了一种可切换式3D模组的不良检测方法。该检测方法分别采用三种不同的不良区域检测步骤对3D模组的不良区域进行检查，并通过分别对上述三种检测步骤检测结果进行逻辑判断，相比于现有技术中仅采用一种检测方式的检测方法，提高了检测精度，使检测到的均为表面划伤、内部缺陷等真实不良，有效避免了漏检和过检等非真实不良的情况。经过实践验证，本申请的检测方法所提供的检测结果可靠性较高。

Bad detection method for switchable 3D module

The invention provides a bad detection method for a switchable 3D module. The detection method uses three different bad area detection steps to check the bad areas of the 3D module, and by the logical judgment of the results of the three detection steps respectively. Compared to the existing technology, only one detection method is used, the detection accuracy is raised and the detection is all the table. Surface scratches, internal defects, and other real defects, effectively avoid missing inspection and inspection and other non real bad situation. It has been verified by practice that the test results provided by this application are highly reliable.

【技术实现步骤摘要】
可切换式3D模组的不良检测方法
本专利技术涉及显示
，具体而言，涉及一种可切换式3D模组的不良检测方法。
技术介绍
现有技术中对于可切换式3D模组(3DCell)，在进行不良检验时通常进行人工检查或采用自动光学检查技术。上述自动光学检查技术通常包括两种方式：1)在可切换式3D模组上方直接放置能够采集光线强度的相机(如CCD相机)，以采集3D模组的光学图像，从而通过判断光学图像中存在的灰阶来判断3D模组中是否存在不良区域；2)在相机与3D模组之间加一张偏光片，由于穿过3DCell的出射光为偏振光，从而通过该偏光片能够通过相机观察到全黑图像，若此时3DCell中存在不良区域，该不良区域就会影响该部分的液晶配像，从而改变通过3DCell的光线偏振方向，进而与周围呈现灰阶差异，然后通过相机获取光学图像，并通过算法识别出存在灰阶差异部分，就能够分辨出3DCell中存在的不良区域，如图1所示。上述可切换式裸眼3D的最终产品的组成方式是将3DCell贴合在液晶显示模块(LCM)表面，不良检查时需要以无偏光片人员检出为准。然而，上述3D模组的检测方法存在以下问题：检测时是在3DCell上直接架设相机拍摄，由于相机的传感器与产品结构间会产生干涉，从而会导致3DCell中的部分不良表现轻微，进而导致漏检；并且，在将自动光学检查技术结合偏光片的测试方法中，需要将相机前的偏光片旋转至全黑，此时不良表现会更加明显，从而易导致部分裸视条件下表现较轻微或不可见的不良也会被检出，进而导致过检。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种可切换式3D模组的不良检测方法，以解决现有技术中3D模组的检测方法存在漏检和过检的问题。为了实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种可切换式3D模组的不良检测方法，包括相互独立实施的以下步骤：a，在环境光或自然光下检查3D模组的表面是否存在不良区域；b，采集从二次元影像显示组件发射并穿过3D模组的第一光线得到第一光学图像，并得到第一光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置；c，采集从二次元影像显示组件发射并依次穿过3D模组及偏光片后的第二光线得到第二光学图像，并得到第二光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置，当在步骤a中检测出不良区域时，判断3D模组存在真实不良；当在步骤a中未检测出不良区域而在步骤b中检测出不良区域时，判断3D模组存在真实不良；当在步骤a和步骤b中均未检测出不良区域而在步骤c中检测出不良区域时，判断3D模组的不良区域为非真实不良。进一步地，步骤a包括以下过程：采用光学检测设备对3D模组进行人工外观检查。进一步地，3D模组包括相对的第一表面和第二表面，步骤a包括以下过程：采集被第一表面反射的第三光线得到第三光学图像，并得到第三光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置；采集被第二表面反射的第四光线得到第四光学图像，并得到第四光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置。进一步地，步骤c中的第二光学图像为全黑图像。进一步地，步骤c包括以下过程：S1，调节偏光片，使图像采集设备采集到全黑图像，并记录全黑图像；S2，得到全黑图像的灰阶，并根据灰度差异，判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置。进一步地，偏光片为镜面线偏光片。进一步地，3D模组包括顺序层叠设置第一电极层、柱状透镜阵列和第二电极层，3D模组还包括填充于第一电极层与柱状透镜阵列之间或柱状透镜阵列与第二电极层之间的电光材料。应用本专利技术的技术方案，提供了一种可切换式3D模组的不良检测方法，该检测方法分别采用三种不同的不良区域检测步骤对3D模组的不良区域进行检查，并通过分别对上述三种检测步骤检测结果进行逻辑判断，相比于现有技术中仅采用一种检测方式的检测方法，提高了检测精度，使检测到的均为表面划伤、内部缺陷等真实不良，有效避免了漏检和过检等非真实不良的情况。经过实践验证，本申请的检测方法所提供的检测结果可靠性较高。除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本专利技术还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本专利技术作进一步详细的说明。附图说明构成本专利技术的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1示出了采用现有技术中的自动光学检查技术并在相机与3D模组之间加一张偏光片的不良检出示意图；图2示出了本专利技术实施方式所提供的一种可切换式3D模组的不良检测方法的逻辑关系示意图；图3示出了本专利技术实施方式所提供的步骤a的检测方法中采用图像采集设备采集被3D模组的第一表面反射的第三光线的构架示意图；图4示出了本专利技术实施方式所提供的步骤a的检测方法中采用图像采集设备采集被3D模组的第二表面反射的第四光线的构架示意图；图5示出了本专利技术实施方式所提供的步骤a的检测方法中3D模组、二次元影像显示组件与图像采集设备的构架示意图；以及图6示出了本专利技术实施方式所提供的步骤a的检测方法中3D模组、二次元影像显示组件、图像采集设备与偏光片的构架示意图。其中，上述附图包括以下附图标记：10、3D模组；20、二次元影像显示组件；30、图像采集设备；40、偏光片；50、光学检测设备。具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。正如
技术介绍
中所介绍的，现有技术中3D模组的检测方法存在漏检和/或过检的问题。本专利技术的专利技术人针对上述问题进行研究，提出了一种可切换式3D模组的不良检测方法，如图2所示，包括相互独立实施的以下步骤：a，在环境光或自然光下检查3D模组10的表面是否存在不良区域；b，采集从二次元影像显示组件20发射并穿过3D模组10的第一光线得到第一光学图像，并得到该第一光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组10内是否存在不良区域及不良区域的位置；c，采集从二次元影像显示组件20发射并依次穿过3D模组10及偏光片40后的第二光线得到第二光学图像，并得到该第二光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组10内是否存在不良区域及不良区域的位置，当在步骤a中检测出不良区域时，判断该3D模本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可切换式3D模组的不良检测方法，其特征在于，包括相互独立实施的以下步骤：a，在环境光或自然光下检查所述3D模组(10)的表面是否存在不良区域；b，采集从二次元影像显示组件(20)发射并穿过所述3D模组(10)的第一光线得到第一光学图像，并得到所述第一光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断所述3D模组(10)内是否存在不良区域及所述不良区域的位置；c，采集从所述二次元影像显示组件(20)发射并依次穿过所述3D模组(10)及偏光片(40)后的第二光线得到第二光学图像，并得到所述第二光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断所述3D模组(10)内是否存在不良区域及所述不良区域的位置，当在步骤a中检测出不良区域时，判断所述3D模组存在真实不良；当在步骤a中未检测出不良区域而在步骤b中检测出不良区域时，判断所述3D模组存在真实不良；当在步骤a和步骤b中均未检测出不良区域而在步骤c中检测出不良区域时，判断所述3D模组的所述不良区域为非真实不良。

【技术特征摘要】
1.一种可切换式3D模组的不良检测方法，其特征在于，包括相互独立实施的以下步骤：a，在环境光或自然光下检查所述3D模组(10)的表面是否存在不良区域；b，采集从二次元影像显示组件(20)发射并穿过所述3D模组(10)的第一光线得到第一光学图像，并得到所述第一光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断所述3D模组(10)内是否存在不良区域及所述不良区域的位置；c，采集从所述二次元影像显示组件(20)发射并依次穿过所述3D模组(10)及偏光片(40)后的第二光线得到第二光学图像，并得到所述第二光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断所述3D模组(10)内是否存在不良区域及所述不良区域的位置，当在步骤a中检测出不良区域时，判断所述3D模组存在真实不良；当在步骤a中未检测出不良区域而在步骤b中检测出不良区域时，判断所述3D模组存在真实不良；当在步骤a和步骤b中均未检测出不良区域而在步骤c中检测出不良区域时，判断所述3D模组的所述不良区域为非真实不良。2.根据权利要求1所述的不良检测方法，其特征在于，所述步骤a包括以下过程：采用所述光学检测设备(50)对所述3D模组进行人工外观检查。3.根据权利要求1所述的不良检测方法，其特征在于，所述3D模组(10)包括相对的第一表面和第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘志宇，孙晖，钱静娴，周啸，
申请(专利权)人：张家港康得新光电材料有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32