一种温度自动控制装置测试系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种温度自动控制装置测试系统，包括工控机、微处理器、可调电阻模块、AD转换模块、第一多路切换开关、第二多路切换开关；可调电阻模块、第一多路切换开关、第二多路切换开关均与微处理器连接，可调电阻模块可切换地与各个测温输入口、各个控温输入口连接；AD转换模块的输入可切换地与控温输出口连接，其输出与微处理器连接；测温输出口与工控机连接。本实用新型专利技术利用高精度箔电阻模拟温度变化，能够自动测试温度自动控制装置的测温功能和控温功能。本实用新型专利技术的测试系统能够实现温度自动控制装置测试的自动化，解决了人工测试工作效率低下、精度差的问题，且能避免人工测量误差。

A test system for automatic temperature control device

The utility model provides a test system for automatic temperature control device, including industrial control machine, microprocessor, adjustable resistance module, AD conversion module, first multiplexed switch switch, and more than 2 switch switch. The adjustable resistance module, the first multiple switch switch, the more than 2 Road switch switch are all connected with the microprocessor, and the electricity can be adjusted. The blocking module can be switched with each temperature input port and the temperature control input port. The input of the AD conversion module is connected to the temperature control output switch, and the output is connected with the microprocessor, and the temperature measurement port is connected with the industrial control machine. The utility model uses the high-precision foil resistance to simulate the temperature change, and can automatically test the temperature measuring function and the temperature control function of the temperature automatic control device. The test system of the utility model can realize the automation of the test of the temperature automatic control device, and solve the problem of low efficiency and poor precision of the manual test work, and can avoid the manual measurement error.

【技术实现步骤摘要】
一种温度自动控制装置测试系统
本技术涉及温度自动控制装置的测量，属于温度控制装置的测量校准领域。
技术介绍
在惯组系统内部，各关键部位的温度需保持在设定值。温度自动控制装置能够精确测量各关键部位的温度值，并能够使各关键部位的温度值保持在设定值。温度自动控制装置在使用前需测试测温输出口和控温输出口的温度数据，每个通道需测试若干个测试点。温度自动控制装置在使用前需进行多次测试，防止测试过程中的外界干扰和接触不良产生的坏值影响测量精度。目前温度自动控制装置的测试工作使用多功能校准仪作为模拟温度负载，人工输入模拟阻值，人工切换测试通道，人工记录测试数据。目前，每个温度自动控制装置测试需时较长，记录人员需人工记录数据并判断是否合格，极易疲劳出错。另外，由于需连接的温控调试装置电缆的接点较多，极易发生接触不良或其他不稳定现象，不但延长调试时间，还使测量精度容易出现较大误差。因此，现有温度自动控制装置无法满足工程实际要求。
技术实现思路
本技术要解决的问题是提供一种温度自动控制装置测试系统，解决现有对目前温度自动控制装置进行人工测试的测试需时较长、测试结果易出错的问题。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：一种温度自动控制装置测试系统，所述温度自动控制装置上设置有测温输出口、控温输出口、测温输入口和控温输入口，所述温度自动控制装置测试系统包括相互连接的工控机和微处理器，还包括可调电阻模块、AD转换模块、第一多路切换开关、第二多路切换开关；所述可调电阻模块、第一多路切换开关、第二多路切换开关均与微处理器连接；所述可调电阻模块的输出通过第一多路切换开关可切换地与温度自动控制装置的各个测温输入口、各个控温输入口连接；所述AD转换模块的输入通过第二多路切换开关可切换地与温度自动控制装置的控温输出口连接，其输出与微处理器连接；所述温度自动控制装置的测温输出口与工控机连接。本技术中，可以根据测试需求，通过微处理器控制可调电阻模块的输出电阻实现各种不同的组合，即可通过不同电阻模拟不同的温度，而且通过微处理器控制第一多路切换开关，使得可调电阻模块通过第一多路切换开关可切换地与温度自动控制装置的各个测温输入口、控温输入口连接，即通过控制温度自动控制装置的输入电阻的变化来模拟环境温度的变化，无需人工切换，即可实现依次对各个测温通道、各个控温通道是否工作正常、精度是否符合要求进行测试，测试方便、测试需时时间短、测试效率高。进一步地，所述可调电阻模块包括采用并联和/或串联设置的多个电阻以及与每个电阻所对应设置的电阻加载开关，所述电阻加载开关由微处理器控制，所述电阻加载开关优选为固态继电器。本技术中，可调电阻模块中的多个电阻采用并联和/或串联设置，且每个电阻均对应有电阻加载开关，因此可根据需要将某些电阻串联或将某些电阻并联，也可根据温度自动控制装置的输入电阻的要求打开或关闭某个或多个电阻对应的电阻加载开关，使得可调电阻模块的输出电阻的调整范围和调整精度均可根据需要设置，从而保证了温度自动控制装置的测试的精度。进一步地，所述电阻加载开关为固态继电器。进一步地，所述可调电阻模块由高精度箔电阻组成。本技术中，可调电阻模块由高精度箔电阻组成，可以保证温度自动控制装置的输入电阻的精度，保证对温度自动控制装置的测试精度。进一步地，还包括第一通信模块、第二通信模块，所述微处理器与温度自动控制装置通过第一通信模块进行通信，所述微处理器与工控机通过第二通信模块进行通信；所述温度自动控制装置的测温输出口以通信方式连接到工控机的通信模块。进一步地，所述第一通信模块、第二通信模块均为RS232通信模块。进一步地，所述微处理器为单片机、DSP或FPGA。本技术具有的优点和积极效果是：本技术能自动完成温度自动控制装置测量的系统，此系统能够实现输入模拟阻值的自动变化、测温输入口和控温输入口的自动切换、数据的自动记录和分析。本技术提供的温度自动控制装置测试系统，能广泛应用于通过热敏电阻测量及调控环境温度的温度自动控制装置的测试，可完成模拟温度变化、数据采集等工作，自动化程度高，可代替人工操作提高工作效率，避免人工测量的误差。本技术专利公布了一种全新的温度自动控制装置测试系统，利用高精度箔电阻模拟温度变化，能够自动测试温度自动控制装置的测温功能和控温功能。测试系统能够实现温度自动控制装置测试的自动化，解决了人工测试工作效率低下、精度差的问题，且能避免人工测量误差。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术的实施例的温度自动控制装置测试系统与温度自动控制装置的连接示意图；图2为本技术的实施例的温度自动控制装置测试系统与温度自动控制装置的具体连接示意图。图中，1、工控机，2、测量模块，21、微处理器，22、可调电阻模块，23、AD转换模块，24、第一多路切换开关，25、第一通信模块，26、第二通信模块，27、第二多路切换开关，3、温度自动控制装置，31、测温输出口，32、测温输入口，33、控温输出口，34、控温输入口。具体实施方式下面将结合本申请的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。实施例本技术中，温度自动控制装置测试系统对温度自动控制装置3进行测量，测试当模拟温度变化时温度自动控制装置3的测温输出和控温输出。温度自动控制装置3可通过阻值对环境温度进行测量，且可通过阻值与温度的对应关系对环境温度进行测量及控制。在温度自动控制装置3的工作原理为：在测温时，将所测温度信号转换为温度自动控制装置3可接受的信号，对被控对象的温度进行测量；在控温时，将所测温度信号转换为温度自动控制装置3可接受的信号，通过温度自动控制装置3输出的控温输出电压控制加热介质流量的大小从而对被控对象的温度进行控制。如图1—图2所示，温度自动控制装置测试系统由测量模块2、工控机1组成。温度自动控制装置测试系统包括相互连接的工控机1和微处理器21，还包括可调电阻模块22、AD转换模块23、第一多路切换开关24、第二多路切换开关27；可调电阻模块22、第一多路切换开关24、第二多路切换开关27均与微处理器21连接；可调电阻模块22的输出通过第一多路切换开关24可切换地与温度自动控制装置3的各个测温输入口32、各个控温输入口34连接；AD转换模块23的输入通过第二多路切换开关27可切换地与温度自动控制装置3的各个控温输出口33连接，其输出与微处理器21连接；温度自动控制装置3的测温输出口31与工控机1连接。工控机1的通信模块与温度自动控制装置3的测温输出口31相连，接收测温输出数据。所有的数据都在工控机1中进行处理。在工控机1中保存测试数据，对数据进行分析，并打印分析结果。测量模块2用于模拟温度负载，采集控温输出电压。工控机1用于接收测温输出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温度自动控制装置测试系统，所述温度自动控制装置(3)上设置有测温输出口(31)、控温输出口(33)、测温输入口(32)和控温输入口(34)，其特征在于：所述温度自动控制装置测试系统包括相互连接的工控机(1)和微处理器(21)，还包括可调电阻模块(22)、AD转换模块(23)、第一多路切换开关(24)、第二多路切换开关(27)；所述可调电阻模块(22)、第一多路切换开关(24)、第二多路切换开关(27)均与微处理器(21)连接；所述可调电阻模块(22)的输出通过第一多路切换开关(24)可切换地与温度自动控制装置(3)的各个测温输入口(32)、各个控温输入口(34)连接；所述AD转换模块(23)的输入通过第二多路切换开关(27)可切换地与温度自动控制装置(3)的各个控温输出口(33)连接，其输出与微处理器(21)连接；所述温度自动控制装置(3)的测温输出口(31)与工控机(1)连接。

【技术特征摘要】
1.一种温度自动控制装置测试系统，所述温度自动控制装置(3)上设置有测温输出口(31)、控温输出口(33)、测温输入口(32)和控温输入口(34)，其特征在于：所述温度自动控制装置测试系统包括相互连接的工控机(1)和微处理器(21)，还包括可调电阻模块(22)、AD转换模块(23)、第一多路切换开关(24)、第二多路切换开关(27)；所述可调电阻模块(22)、第一多路切换开关(24)、第二多路切换开关(27)均与微处理器(21)连接；所述可调电阻模块(22)的输出通过第一多路切换开关(24)可切换地与温度自动控制装置(3)的各个测温输入口(32)、各个控温输入口(34)连接；所述AD转换模块(23)的输入通过第二多路切换开关(27)可切换地与温度自动控制装置(3)的各个控温输出口(33)连接，其输出与微处理器(21)连接；所述温度自动控制装置(3)的测温输出口(31)与工控机(1)连接。2.根据权利要求1所述的温度自动控制装置测试系统，其特征在于：所述可调电阻模块(22)包括采用并...

【专利技术属性】
技术研发人员：周文杰，谭振中，周全，阳建华，
申请(专利权)人：湖南航天远望科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖南,43