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高度精密检测机制造技术

技术编号:18004889 阅读:32 留言:0更新日期:2018-05-21 06:14
本发明专利技术公开了一种高度精密检测机,包括底架、设置于底架用于承载测量工件的载料座、及悬设于载料座上方的高度测量头,载料座在纵向驱动装置的驱动下相对底架纵向移动以靠近或远离高度测量头,高度测量头在横向驱动装置的驱动下相对底架横向移动,并在竖向驱动装置的驱动下相对底架竖向移动;高度精密检测机还包括控制装置,控制装置用于控制纵向驱动装置、横向驱动装置、及竖向驱动装置动作,且控制装置连接于高度测量头以获取高度精密检测机的测量数据并进行计算测量工件的高度值。根据本发明专利技术提供的高度精密检测机,保证测量精度的同时提高测量效率。

【技术实现步骤摘要】
高度精密检测机
本专利技术涉及制造行业中的一种检测设备,尤其是涉及一种高度检测机。
技术介绍
目前,制造行业中对产品的尺寸精度要求越来越高,同时对测量效率亦要求越来越高。常规的卡尺、高度规等测量精度较低,而测量精度较高的二次元、三次元等测量效率较低。专为高度测量的高度测量传感器,虽然其本身测量较高,但是在实际测量过程中并不能排除测量干扰因素,导致其测量精度相较生产需求亦有一定的差距,测量效率亦较低。为此,有必要提供一种高精度且高效率的高度精密检测机,以满足制造需求。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种高精度且高效率的高度精密检测机,以满足制造需求。为了实现上述目的,本专利技术公开了一种高度精密检测机,包括底架、设置于所述底架用于承载测量工件的载料座、及悬设于所述载料座上方的高度测量头,所述载料座在纵向驱动装置的驱动下相对所述底架纵向移动以靠近或远离所述高度测量头,所述高度测量头在横向驱动装置的驱动下相对所述底架横向移动,并在竖向驱动装置的驱动下相对所述底架竖向移动;所述高度精密检测机还包括控制装置,所述控制装置用于控制所述纵向驱动装置、所述横向驱动装置、及所述竖向驱动装置动作,且所述控制装置连接于所述高度测量头以获取所述高度精密检测机的测量数据并计算测量工件的高度值。与现有技术相比,本专利技术提供的高度精密检测机,以高度尺寸确定的载料座承载测量工件以保证测量精度,通过由控制装置控制的纵向驱动装置驱动载料座纵向移动以靠近或远离高度测量头、横向驱动装置和竖向驱动装置驱动高度测量头于横向和竖向移动,从而使得高度测量头可以快速测量测量工件的高度值,而后经由控制装置获取高度测量头的测量数据进而计算测量工件的高度值,以满足生产中对高度测量的高精度且高效率的需求。根据本专利技术提供的高度精密检测机,通过控制装置控制横向驱动装置、纵向驱动装置、竖向驱动装置实现测量工件和高度测量头的相对移动以保证测量效率,通过高度尺寸确定的载料座承载测量工件以保证测量精度,在控制装置的控制下实现对测量工件的自动检测,减少干涉误差同时提高测量效率。较佳的,所述载料座朝向所述高度测量头的上侧设置有测量工件承载位和基准平面;于载料座设置基准平面,因而高度检测头通过分别碰触位于测量工件承载位处的测量工件和基准平面,即可以准确获得测量工件的高度,进一步提高测量精度。具体的,所述高度测量头在所述控制装置控制下依次测量所述基准平面和承载于所述测量工件承载位的测量工件的高度。具体的,所述基准平面位于所述测量工件承载位横向外侧;由于基准平面位于测量工件承载位横向外侧,因而高度测量头测量基准平面高度和测量工件承载位处的测量工件高度的过程中,载料座无需相对底架纵向移动、横向驱动装置驱动高度测量头横向移动至测量工件承载位横向外侧的基准平面即可,从而有效提高测量效率。较佳的,所述底架的一侧横向设置有龙门支撑架,所述高度测量头滑动连接于所述龙门支撑架的横梁并在所述横向驱动装置的驱动下沿所述横梁横向移动。较佳的,所述载料座和所述底架设置有所述高度测量头的一侧之间卡设有弹性件。较佳的,所述高度精密检测机还包括显示屏,所述显示屏连接于所述控制装置并显示测量工件高速传输与高速计算的高度测量值。较佳的,所述载料座具有两个,两所述载料座沿横向排列;在载料座沿纵向直线方向可以设置多个测量工件承载位、高度测量头可以对多个测量工件一次性测量时,此时对载料座上料多个测量工件需要耗费一定的时间,为提高生产效率,两载料座可以由同一纵向驱动机构或不同的两个纵向驱动机构控制错位上料。较佳的,所述高度精密检测机还包括不良品排除机构,所述不良品排除机构和所述高度测量头的位置相对固定,所述不良品排除机构包括吸嘴,所述吸嘴根据所述高度测量头的检测结果吸附并排除不良品;当本专利技术高度精密检测机判断筛选的工件尺寸较小时,吸嘴机构控制将检测出的工件不良品吸附取出,从而简化操作、提高检测效率,同时避免人为误判。较佳的,所述高度精密检测机还包括不良品标记机构,所述不良品标记机构和所述高度测量头的位置相对固定,所述不良品标记机构包括喷嘴,所述喷嘴根据所述高度测量头的检测结果对不良品喷涂以标记不良品;当本专利技术高度精密检测机判断筛选的工件尺寸较大时,依靠吸嘴机构无法将检测出的工件不良品吸附取出,此时可以依靠喷嘴对不良品喷涂颜料以标记不良品,方便后续人为取出、减少人为误判。附图说明图1为本专利技术高度精密检测机的结构示意图。图2为高度测量头的结构示意图。图3为本专利技术高度精密检测机的内部结构示意图。图4为载料座的结构示意图。具体实施方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图详予说明。如图1所示,本专利技术提供的高度精密检测机,包括底架100、设置于底架100用于承载测量工件的载料座200、及悬设于载料座200上方的高度测量头300,载料座200在纵向驱动装置500的驱动下相对底架100纵向移动以靠近或远离高度测量头300,高度测量头300在横向驱动装置400的驱动下相对底架100横向移动,并在竖向驱动装置600的驱动下相对底架100竖向移动;高度精密检测机还包括控制装置,控制装置用于控制纵向驱动装置500(如图3所示)、横向驱动装置400、及竖向驱动装置600动作,且控制装置连接于高度测量头300以获取高度精密检测机的测量数据并进行计算测量工件的高度值。结合图2-图4所示,更具体的:如图1所示,本专利技术提供的高度精密检测机,包括底架100、载料座200、高度测量头300、横向驱动装置400、纵向驱动装置500(如图3所示)、竖向驱动装置600、控制装置(图中未示)、及显示屏700。其中,载料座200和高度测量头300均设置于底架100,通过控制装置控制横向驱动装置400、纵向驱动装置500、及竖向驱动装置600动作,以实现装载于载料座200的测量工件和高度测量头300有序地相对移动,随后控制装置获取高度测量头300测得的数据,并据此计算测量工件的高度值并将之显示于显示屏700。如图1所示,底架100的外形大致呈扁平的立方体结构,底架100的前侧面略倾斜,并于前侧的倾斜面设置有多个控制按键、指示灯、电源插接头、通信接口等。底架100的立方体结构内提供了一容置腔,电源模块、控制装置、及各驱动装置的动力部可以根据实际情况选择地安装于该容置腔内。底架100的立方体结构的上侧提供了一个承载面,以承载载料座200和高度测量头300等。可以理解的横向驱动装置400、纵向驱动装置500、竖向驱动装置600可以为小型的伺服电机,而控制装置可以为单片机。再请参阅图1所示,载料座200和高度测量头300均设置于底架100的上侧。其中,底架100的上侧于横向的中间位置纵向设置有纵向导轨510(如图3所示),载料座200滑动连接于该纵向导轨510,并在纵向驱动装置500(如图3所示)的驱动下沿该纵向导轨510往复移动。于底架100上侧固定设置有龙门架800,龙门架800位于载料座200移动方向的末端,且龙门架800横跨纵向导轨510地设置、龙门架800的横梁810呈垂直于纵向导轨510地横向设置。再请结合图2所示,竖向驱动装置600通过设置于横梁810处的横向导轨(图中未示)与该横梁810滑动连接,并在设置于该横梁本文档来自技高网
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高度精密检测机

【技术保护点】
一种高度精密检测机,其特征在于,包括底架、设置于所述底架用于承载测量工件的载料座、及悬设于所述载料座上方的高度测量头,所述载料座在纵向驱动装置的驱动下相对所述底架纵向移动以靠近或远离所述高度测量头,所述高度测量头在横向驱动装置的驱动下相对所述底架横向移动,并在竖向驱动装置的驱动下相对所述底架竖向移动;所述高度精密检测机还包括控制装置,所述控制装置用于控制所述纵向驱动装置、所述横向驱动装置、及所述竖向驱动装置动作,且所述控制装置连接于所述高度测量头以获取所述高度精密检测机的测量数据并计算测量工件的高度值。

【技术特征摘要】
1.一种高度精密检测机,其特征在于,包括底架、设置于所述底架用于承载测量工件的载料座、及悬设于所述载料座上方的高度测量头,所述载料座在纵向驱动装置的驱动下相对所述底架纵向移动以靠近或远离所述高度测量头,所述高度测量头在横向驱动装置的驱动下相对所述底架横向移动,并在竖向驱动装置的驱动下相对所述底架竖向移动;所述高度精密检测机还包括控制装置,所述控制装置用于控制所述纵向驱动装置、所述横向驱动装置、及所述竖向驱动装置动作,且所述控制装置连接于所述高度测量头以获取所述高度精密检测机的测量数据并计算测量工件的高度值。2.如权利要求1所述的高度精密检测机,其特征在于,所述载料座朝向所述高度测量头的上侧设置有测量工件承载位和基准平面。3.如权利要求2所述的高度精密检测机,其特征在于,所述高度测量头在所述控制装置控制下依次测量所述基准平面和承载于所述测量工件承载位的测量工件的高度。4.如权利要求3所述的高度精密检测机,其特征在于,所述基准平面位于所述测量工件承载位横向外侧。5.如权利要求1所述的高度精密检测机,其特征在于,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:李益国
申请(专利权)人:李益国
类型:发明
国别省市:广东,44

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