一种精密检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种精密检测装置，其特征在于：主要包括底板和支脚，底板上方设有立柱、定位块和传感器固定座，立柱上设有一个平行传动机构和传感器，底座与平行传动机构测量点垂直处设有一个传感器，其两个传感器数据线分别接入一个电子柱上；传感器固定座上分别固定传感器，其两个传感器分别接入另一个电子柱上。本发明专利技术结构简单，使用方便，检测值准确无误，检测精度达到0.001mm，提高检测效率，降低劳动强度。

【技术实现步骤摘要】
一种精密检测装置
[0001 ] 本专利技术涉及一种精密检测装置。
技术介绍
随着科技不断的进步，制造的设备及部件加工的精度要求越来越高，特别是关键部件的配合面，加工精度在0.02mm以内，有的精确到0.0lmm以内，要求精度非常高，在生产过程中，特别是在流水线生产线对厚度或高度，外圆尺寸进行过程控制检测，检测时间要求很短，检测数值准确无误。其部件使用千分尺不容易测量或测量不方便，检测效率比较低。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种结构简单、检测操作方便可靠、检测精度达到 0.001_，提高检测效率，降低劳动强度，检测数量准确无误的精密检测装置。 为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案:一种精密检测装置，主要包括底板和支脚，底板上方设有立柱、定位块和传感器固定座，立柱上设有一个平行传动机构和传感器，底座与平行传动机构测量点垂直处设有一个传感器，其两个传感器数据线分别接入一个电子柱上，主要检测工件高度或厚度尺寸；传感器固定座上分别固定传感器，其两个传感器分别接入另一个电子柱上，主要检测工件的外圆尺寸。 所述的传感器为电感式传感器。 所述的电子柱为电感式电子柱测微仪。 本专利技术结构简单，使用方便，检测值准确无误，检测精度达到0.001_，提高检测效率，降低劳动强度。 【附图说明】 图1为本专利技术的结构示意图。 图2为本专利技术的侧面结构示意图。 图3为本专利技术的俯视结构示意图。 【具体实施方式】 如图1、图2、图3所示的一种精密测量装置，主要包括底板4和支脚1，底板4上方设有立柱5、定位块10、10’和传感器固定座12，立柱5上设有一个平行传动机构7，平行传动机构7上设有一个传感器8,底座4与平行传动机构7测量点9垂直处设有一个传感器2，传感器2由螺丝3固定在底座4上，其两个传感器2、8数据线分别接入一个电子柱上；传感器固定座11、11’上分别固定传感器12、12’，其传感器12和12’分别接入另一个电子柱上。 工作时:首先要把精密测量装置上的传感器和电子柱连接好，并检测各个部件部位是否完好。根据测量工件的尺寸首先制作一个标准件，将工件标准件放入底板4上，首先调整定位块10、10’固定紧，然后调整平行传动机构7、传感器8和传感器2，使传感器8与传感器2在电子柱上显示数值与实际测量数值相一致，紧固平行传动机构7、传感器8和传感器2，主要检测工件高度或厚度尺寸；最后调整传感器固定座11、11’及传感器12、12’，其传感器12和12’应检测标准件的最大直径点，使传感器12和12’在电子柱上显示数值与实际测量数值相一致，其主要检测工件的外圆尺寸。经过反复试验测量三次，电子柱显示数值和工件标准件尺寸数值相一致，然后再对生产工件进行检测，从而实现高效、高精度、准确无误的测量数值。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种精密检测装置，其特征在于：主要包括底板和支脚，底板上方设有立柱、定位块和传感器固定座，立柱上设有一个平行传动机构和传感器，底座与平行传动机构测量点垂直处设有一个传感器，其两个传感器数据线分别接入一个电子柱上；传感器固定座上分别固定传感器，其两个传感器分别接入另一个电子柱上。

【技术特征摘要】
1.一种精密检测装置，其特征在于:主要包括底板和支脚，底板上方设有立柱、定位块和传感器固定座，立柱上设有一个平行传动机构和传感器，底座与平行传动机构测量点垂直处设有一个传感器，其两个传感器数据线分别接入一个电子柱上；传感器固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：许晓东，
申请(专利权)人：许晓东，
类型：发明
国别省市：河南;41