粒子特效处理方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种粒子特效处理方法及装置，该方法包括：对包括粒子特效及场景物体的全场景进行渲染，以获得全场景的深度信息及颜色信息；对渲染后的全场景中的粒子特效进行再次渲染，获得经过再次渲染后的粒子特效中的各像素点的深度值；对获得的各像素点的深度值进行透视变换，获得透视变换后的各像素点的深度值；计算透视变换前后各像素点的深度值的差值，将差值小于预设阈值的像素点作为待处理像素点，对待处理像素点进行模糊处理。该粒子特效处理方案，可根据粒子特效中各像素点进行透视变换前后的深度值的差值情况来确定离场景物体较近的像素点，以对该像素点进行模糊处理，解决了粒子特效与场景物体相接时出现的切边问题。

【技术实现步骤摘要】
粒子特效处理方法及装置
本专利技术涉及计算机图形
，具体而言，涉及一种粒子特效处理方法及装置。
技术介绍
在三维渲染程序中，粒子系统是整个程序模块中不可或缺的部分，适当的在场景中添加粒子特效，能极大丰富场景内容，让整个场景更加生动。一般的粒子特效都选择使用始终朝向相机的一个片进行渲染，这样能以较小的渲染代价实现较为丰富的效果，但是在这种方式下，当粒子特效与地形或者场景中其他物体接触时会产生很明显的切边。现有技术中，一般通过要求场景在设计过程中减少特效与场景物体的接触，避免出现切边的情况。这种方式虽然能在一定程度上避免切边的问题出现，但是并不能从根本上解决出现切边的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种粒子特效处理方法及装置，以解决上述问题。本专利技术的较佳实施例提供一种粒子特效处理方法，所述方法包括：对待处理的全场景进行渲染，以获得所述全场景的深度信息及颜色信息，所述全场景包括粒子特效及场景物体；将所述深度信息写入深度纹理，将所述颜色信息写入颜色纹理；对渲染后的全场景中的粒子特效进行再次渲染，获得经过再次渲染后的粒子特效中的各像素点的深度值；对获得的各所述像素点的深度值进行透视变换，获得透视变换后的各所述像素点的深度值；计算透视变换前后各所述像素点的深度值的差值，将差值小于预设阈值的像素点作为待处理像素点，对所述待处理像素点进行模糊处理。可选地，在上述方法中，所述对所述待处理像素点进行模糊处理的步骤之后，所述方法还包括：获取模糊处理后的待处理像素点的颜色值，将所述颜色值写入所述颜色纹理中。可选地，在上述方法中，所述对所述待处理像素点进行模糊处理的步骤，包括：采样获得与所述待处理像素点相邻的多个相邻像素点；根据所述颜色纹理获得所述待处理像素点的颜色值以及所述多个相邻像素点的颜色值；计算得到所述待处理像素点和所述多个相邻像素点的颜色值的平均值，将所述平均值作为所述待处理像素点的当前的颜色值。可选地，在上述方法中，所述采样获得与所述待处理像素点相邻的多个相邻像素点的步骤，包括：获得所述待处理像素点进行透视变换前后的深度值的差值，根据所述差值计算得到模糊系数；根据所述模糊系统计算得到采样步长；根据所述采样步长采样获得与所述待处理像素点相邻的多个相邻像素点。可选地，在上述方法中，所述获得经过再次渲染后的粒子特效中的各像素点的深度值的步骤，包括：获得经过再次渲染后的粒子特效中各像素点的坐标值；根据各所述像素点的坐标值获得所述深度纹理中与各所述坐标值对应位置处的深度值，以得到各所述像素点对应的深度值。本专利技术的另一较佳实施例提供一种粒子特效处理装置，所述装置包括：第一渲染模块，用于对待处理的全场景进行渲染，以获得所述全场景的深度信息及颜色信息，所述全场景包括粒子特效及场景物体；写入模块，用于将所述深度信息写入深度纹理，将所述颜色信息写入颜色纹理；第二渲染模块，用于对渲染后的全场景中的粒子特效进行再次渲染，获得经过再次渲染后的粒子特效中的各像素点的深度值；透视变换模块，用于对获得的各所述像素点的深度值进行透视变换，获得透视变换后的各所述像素点的深度值；计算模块，用于计算透视变换前后各所述像素点的深度值的差值；模糊处理模块，用于将差值小于预设阈值的像素点作为待处理像素点，对所述待处理像素点进行模糊处理。可选地，在上述装置中，所述装置还包括：颜色值获取模块，用于获取模糊处理后的待处理像素点的颜色值，将所述颜色值写入所述颜色纹理中。可选地，在上述装置中，所述模糊处理模块包括采样单元、颜色值获取单元以及计算单元；所述采样单元用于采样获得与所述待处理像素点相邻的多个相邻像素点；所述颜色值获取单元用于根据所述颜色纹理获得所述待处理像素点的颜色值以及所述多个相邻像素点的颜色值；所述计算单元用于计算得到所述待处理像素点和所述多个相邻像素点的颜色值的平均值，将所述平均值作为所述待处理像素点的当前的颜色值。可选地，在上述装置中，所述采样单元包括模糊系数计算子单元、采样步长计算子单元以及采样子单元；所述模糊系数计算子单元用于获得所述待处理像素点进行透视变换前后的深度值的差值，根据所述差值计算得到模糊系数；所述采样步长计算子单元用于根据所述模糊系统计算得到采样步长；所述采样子单元用于根据所述采样步长采样获得与所述待处理像素点相邻的多个相邻像素点。可选地，在上述装置中，所述第二渲染模块包括坐标值获取单元以及深度值获取单元；所述坐标值获取单元用于获得经过再次渲染后的粒子特效中各像素点的坐标值；所述深度值获取单元用于根据各所述像素点的坐标值获得所述深度纹理中与各所述坐标值对应位置处的深度值，以得到各所述像素点对应的深度值。本专利技术实施例提供的粒子特效处理方法及装置，通过对包含粒子特效和场景物体的全场景进行渲染以得到全场景的深度信息及颜色信息，再对经过渲染后的特效粒子进行再次渲染，获得再次渲染后的粒子特效中的各像素点的深度值。对获得的像素点的深度值进行透视变换，获得透视变换后的像素点的深度值。计算透视变化前后各像素点的深度值的差值，将差值小于预设阈值的像素点作为待处理像素点，对待处理像素点进行模糊处理。本专利技术实施例提供的粒子特效处理方案，可根据粒子特效中各像素点进行透视变换前后的深度值的差值情况来确定离场景物体较近的像素点，以对该像素点进行模糊处理，解决了粒子特效与场景物体相接时出现的切边问题。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术较佳实施例提供的一种电子设备的结构框图。图2为本专利技术较佳实施例提供的粒子特效处理方法的流程图。图3为图2中步骤S103的子步骤的流程图。图4为图2中步骤S105的子步骤的流程图。图5为图4中步骤S1051的子步骤的流程图。图6为本专利技术较佳实施例提供的特效处理装置的功能模块框图。图7为本专利技术较佳实施例提供的模糊处理模块的功能模块框图。图8为本专利技术较佳实施例提供的采样单元的功能模块框图。图9为本专利技术较佳实施例提供的第二渲染模块的功能模块框图。图标：100-电子设备；110-粒子特效处理装置；111-第一渲染模块；112-写入模块；113-第二渲染模块；1131-坐标值获取单元；1132-深度值获取单元；114-透视变换模块；115-计算模块；116-模糊处理模块；1161-采样单元；11611-模糊系数计算子单元；11612-采样步长计算子单元；11613-采样子单元；1162-颜色值获取单元；1163-计算单元；117-颜色值获取模块；120-处理器；130-存储器。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种粒子特效处理方法，其特征在于，所述方法包括：对待处理的全场景进行渲染，以获得所述全场景的深度信息及颜色信息，所述全场景包括粒子特效及场景物体；将所述深度信息写入深度纹理，将所述颜色信息写入颜色纹理；对渲染后的全场景中的粒子特效进行再次渲染，获得经过再次渲染后的粒子特效中的各像素点的深度值；对获得的各所述像素点的深度值进行透视变换，获得透视变换后的各所述像素点的深度值；计算透视变换前后各所述像素点的深度值的差值，将差值小于预设阈值的像素点作为待处理像素点，对所述待处理像素点进行模糊处理。

【技术特征摘要】
1.一种粒子特效处理方法，其特征在于，所述方法包括：对待处理的全场景进行渲染，以获得所述全场景的深度信息及颜色信息，所述全场景包括粒子特效及场景物体；将所述深度信息写入深度纹理，将所述颜色信息写入颜色纹理；对渲染后的全场景中的粒子特效进行再次渲染，获得经过再次渲染后的粒子特效中的各像素点的深度值；对获得的各所述像素点的深度值进行透视变换，获得透视变换后的各所述像素点的深度值；计算透视变换前后各所述像素点的深度值的差值，将差值小于预设阈值的像素点作为待处理像素点，对所述待处理像素点进行模糊处理。2.根据权利要求1所述的粒子特效处理方法，其特征在于，所述对所述待处理像素点进行模糊处理的步骤之后，所述方法还包括：获取模糊处理后的待处理像素点的颜色值，将所述颜色值写入所述颜色纹理中。3.根据权利要求1所述的粒子特效处理方法，其特征在于，所述对所述待处理像素点进行模糊处理的步骤，包括：采样获得与所述待处理像素点相邻的多个相邻像素点；根据所述颜色纹理获得所述待处理像素点的颜色值以及所述多个相邻像素点的颜色值；计算得到所述待处理像素点和所述多个相邻像素点的颜色值的平均值，将所述平均值作为所述待处理像素点的当前的颜色值。4.根据权利要求3所述的粒子特效处理方法，其特征在于，所述采样获得与所述待处理像素点相邻的多个相邻像素点的步骤，包括：获得所述待处理像素点进行透视变换前后的深度值的差值，根据所述差值计算得到模糊系数；根据所述模糊系统计算得到采样步长；根据所述采样步长采样获得与所述待处理像素点相邻的多个相邻像素点。5.根据权利要求1所述的粒子特效处理方法，其特征在于，所述获得经过再次渲染后的粒子特效中的各像素点的深度值的步骤，包括：获得经过再次渲染后的粒子特效中各像素点的坐标值；根据各所述像素点的坐标值获得所述深度纹理中与各所述坐标值对应位置处的深度值，以得到各所述像素点对应的深度值。6.一种粒子特效处理装置，其特征在于，所述装置包括：第一渲染模块，用于对待处理的全场景进行渲染，以获得所述全场景的深度信息及...

【专利技术属性】
技术研发人员：辛双江，
申请(专利权)人：北京像素软件科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11