一种食品加工机的电流检测方法技术

本发明专利技术实施例公开了一种食品加工机的电流检测方法，该食品加工机包括负载回路和电流采样电阻，电流采样电阻串联于负载回路中，用于对负载回路进行电流检测；食品加工机的负载包括加热装置和电机，该方法包括：根据负载的全部控制周期的最小公倍数确定电流检测中的采样周期T，并根据负载的控制斩波角确定电流检测中的采样次数m。通过该实施例方案，提高了电流检测精度。

【技术实现步骤摘要】
一种食品加工机的电流检测方法
本专利技术实施例涉及食品加工机控制技术，尤指一种食品加工机的电流检测方法。
技术介绍
食品加工机如果出现加热管不工作或电机不工作的现象，会严重影响食品加工效果，破坏用户体验。为了有效识别食品加工机加热管和电机异常，目前最有效的方法就是实时检测加热管和电机电流，根据检测电流判断机器工作状态，及时处理机器异常。并且实时检测电流不仅能识别机器异常，当加热管或电机电流过大时，可以及时保护加热管和电机，防止机器损坏。因此，食品加工机的电流检测对保护机器正常工作，改善用户体验具有重要意义。然而，受目前的控制电路结构或采样方式限制，相关电流检测技术均会出现电流检测精度差的问题，从而影响食品加工机的正常工作，为用户带来很差的使用体验。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种食品加工机的电流检测方法，能够提高电流检测精度。本专利技术实施例采用如下技术方案：一种食品加工机的电流检测方法，该食品加工机包括负载回路和电流采样电阻，电流采样电阻串联于负载回路中，用于对负载回路进行电流检测；食品加工机的负载包括加热装置和电机，该方法包括：根据负载的全部控制周期的最小公倍数确定电流检测中的采样周期T，并根据负载的控制斩波角确定电流检测中的采样次数m。可选地，负载的全部控制周期的最小公倍数是指：加热装置和电机的全部控制方式中的全部控制周期的最小公倍数。可选地，加热装置采用掉波控制方式控制，电机采用斩波控制方式控制；根据负载的控制斩波角确定电流检测中的采样次数m包括：根据掉波控制方式以及斩波控制方式中的最小控制斩波角β确定采样次数m。可选地，T＝12/f；其中，f为交流工频。可选地，该方法还包括：在进行电流检测之前，关闭全部负载的控制电流，并采样待机电流I0；在进行电流检测之后，根据当前检测出电流I1、待机电流I0以及预设的第一关系式计算最终检测电流I。可选地，第一关系式包括：I＝I1-I0。可选地，该方法还包括：根据线路板采样系数对当前采样电压值Uout进行校正；根据校正后获得的实际采样电压值U’out计算检测电流I。可选地，根据线路板采样系数对当前采样电压值Uout进行校正包括：根据线路板采样系数当前采样电压值Uout以及预设的第二关系式计算实际采样电压值U’out；其中，第二关系式包括：可选地，该方法还包括：预先在食品加工机的采样电阻上通过固定校准电流I校准，并采样该采样电阻上的校准电压U校准；根据校准电压U校准和预设的理论电压U理论计算线路板采样系数可选地，该方法还包括：在线路板出厂时计算线路板采样系数并对线路板采样系数进行校正。本专利技术实施例的有益效果包括：1、本专利技术实施例的食品加工机包括负载回路和电流采样电阻，电流采样电阻串联于负载回路中，用于对负载回路进行电流检测；食品加工机的负载包括加热装置和电机，食品加工机的电流检测方法包括：根据负载的全部控制周期的最小公倍数确定电流检测中的采样周期T，并根据负载的控制斩波角确定电流检测中的采样次数m。该实施例方案解决了相关技术中因为使用可控硅控制电路使得采样电压不对称导致电流检测精度差，以及应为电流采样电路的运放电路失调电压导致电流检测精度差等诸多问题，提高了电流检测精度。2、本专利技术实施例中负载的全部控制周期的最小公倍数是指：加热装置和电机的全部控制方式中的全部控制周期的最小公倍数。食品加工机中的加热装置的全部功率档位和电机的控制周期，以及控制导通及关闭的控制周期设置为交流电周期的整数倍，是为了保证控制周期内导通半波及关闭半波的正负半波对称。因此该实施例方案中的采样周期T设置为所有控制周期的最小公倍数，可以保证采样周期内所有控制档位的导通及关闭交流半波对称，从而消除采样电压U不是完全对称导致的电流检测误差。3、本专利技术实施例中加热装置采用掉波控制方式控制，电机采用斩波控制方式控制；根据负载的控制斩波角确定电流检测中的采样次数m包括：根据掉波控制方式以及斩波控制方式中的最小控制斩波角β确定采样次数m。由于主控单元MCU斩波控制存在最小斩波角β，单个交流半波电流检测次数需要保证即使最小斩波角也能采样到电流，才能准确检测电流；另外，保证电机斩波时的微小电流也能使得电流检测更可靠。因此该实施例方案可以提高电流检测可靠性，从而进一步提高电流检测精度。4、本专利技术实施例的方法还包括：在进行电流检测之前，关闭全部负载的控制电流，并采样待机电流I0；在进行电流检测之后，根据当前检测出电流I1、待机电流I0以及预设的第一关系式计算最终检测电流I。该实施例方案可消除运放电路失调电压导致的电流检测误差。5、本专利技术实施例的方法还包括：根据线路板采样系数对当前采样电压值Uout进行校正；根据校正后获得的实际采样电压值U’out计算检测电流I。该实施例方案可消除印刷电路板PCB走线铜箔电阻导致的电流检测误差。6、本专利技术实施例的方法还包括：在线路板出厂时计算线路板采样系数并对线路板采样系数进行校正。该实施例方案将线路板采样系数存储在EEPROM(ElectricallyErasableProgrammableRead-OnlyMemory，带电可擦可编程只读存储器)内部，仅需在线路板出厂时进行一次校准，使用时MCU直接读取EEPROM内部的数据，生产成本更低，工艺更简单。附图说明下面结合附图对本专利技术做进一步的说明：图1为本专利技术实施例的消除由于采样电压U不是完全对称而导致的误差的实施例方法流程图；图2为常规的电流检测硬件结构示意图；图3为本专利技术实施例的消除由于运放电路失调电压导致的误差的实施例方法流程图；图4为本专利技术实施例的消除由于PCB铜箔电阻导致的误差的实施例方法流程图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。实施例一一种食品加工机的电流检测方法，该食品加工机包括负载回路和电流采样电阻，电流采样电阻串联于负载回路中，用于对负载回路进行电流检测；食品加工机的负载包括加热装置和电机，如图1所示，该方法可以包括步骤S11：S11、根据负载的全部控制周期的最小公倍数确定电流检测中的采样周期T，并根据负载的控制斩波角确定电流检测中的采样次数m。在本专利技术实施例中，目前利用采样电阻检测电流是食品加工机的电流检测中成本最低，并且最常用的方法，具体电路拓扑如图2所示：采样电阻R采样加热装置或电机回路1中的电流I，采样电压U＝I×R，放大电路2对采样电压U进行放大Uout＝I×R×α，α为放大倍数，然后输入主控单元MCU，MCU根据采样电压值Uout计算电流I。但目前的电流检测方案存在以下问题：1、由于目前加热装置或电机都是使用可控硅控制，而外加电压VCC会导致可控硅导通斩波点超前或滞后，所以采样电压U不是完全对称的交流波形(即正负半波不一样)，实际采样电压Uout＝VCC±α×I×R-ΔU1，使用一般的采样算法计算采样电流会导致电流值检测不准。2、相关采样电路中的放大电路一般均使用运算放大本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种食品加工机的电流检测方法，所述食品加工机包括负载回路和电流采样电阻，所述电流采样电阻串联于所述负载回路中，用于对所述负载回路进行电流检测；所述食品加工机的负载包括加热装置和电机，其特征在于，所述方法包括：根据所述负载的全部控制周期的最小公倍数确定所述电流检测中的采样周期T，并根据所述负载的控制斩波角确定所述电流检测中的采样次数m。

【技术特征摘要】
1.一种食品加工机的电流检测方法，所述食品加工机包括负载回路和电流采样电阻，所述电流采样电阻串联于所述负载回路中，用于对所述负载回路进行电流检测；所述食品加工机的负载包括加热装置和电机，其特征在于，所述方法包括：根据所述负载的全部控制周期的最小公倍数确定所述电流检测中的采样周期T，并根据所述负载的控制斩波角确定所述电流检测中的采样次数m。2.根据权利要求1所述的食品加工机的电流检测方法，其特征在于，所述负载的全部控制周期的最小公倍数是指：所述加热装置和电机的全部控制方式中的全部控制周期的最小公倍数。3.根据权利要求1或2所述的食品加工机的电流检测方法，其特征在于，所述加热装置采用掉波控制方式控制，所述电机采用斩波控制方式控制；所述根据所述负载的控制斩波角确定所述电流检测中的采样次数m包括：根据所述掉波控制方式以及所述斩波控制方式中的最小控制斩波角β确定所述采样次数m。4.根据权利要求3所述的食品加工机的电流检测方法，其特征在于，所述T＝12/f；所述其中，f为交流工频。5.根据权利要求1所述的食品加工机的电流检测方法，其特征在于，所述方法还包括：在进行电流检测之前，关闭全部负载的控制电流，并采样待机电流I0...

【专利技术属性】
技术研发人员：王旭宁，吴涯，张小川，
申请(专利权)人：九阳股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37