半导体器件的超结结构及其制作方法技术

本发明专利技术提供一种半导体器件的超结结构及其制作方法。所述超结结构包括N型衬底、依序形成于N型衬底上的第一P型外延、第一N型外延、第二P型外延及第二N型外延、贯穿所述第二N型外延、所述第二P型外延、所述第一N型外延及所述第一P型外延的沟槽、在所述沟槽中的N型衬底上填充的第三N型外延、在所述第三N型外延上形成的第三P型外延、在所述第三P型外延上形成第四P型外延、P型体区与栅极多晶硅结构。

【技术实现步骤摘要】
半导体器件的超结结构及其制作方法
本专利技术涉及半导体器件
，特别地，涉及一种半导体器件的超结结构及其制作方法。
技术介绍
为了节约能量，减少例如在直流到直流转换器中所使用的晶体管中的功率损耗尤为重要，在半导体器件如MOSFET中，能够通过减小器件的导通电阻来减小功率损耗。而由于击穿电压与导通电阻成反比关系，所以当导通电阻减小时，会产生对击穿电压不利的影响。为了解决这一问题，引入了超结型功率器件如MOSFET，其包括位于器件有源区一下的交替的P型区和N型区。超结功率半导体器件如MOSFET中交替的P型区和N型区理想的处于电荷平衡状态，从而这些区在反向电压条件下相互耗尽，能够更好的耐击穿。超结半导体器件通过P型柱和N型柱的缓冲层存在来实现一个更好的耐击穿，对于N沟道超结器件来说，目前P型柱的制作方法主要有以下三种。1.深槽外延技术。此种技术的缺点在于需使用外延设备以及外延之后的CMP(化学机械抛光)设备，成本较高。而且一般的芯片生产厂家不会配备外延设备，量产较难。同时器件反偏时，P型柱只能和左右两侧的N型外延层发生耗尽，电荷极易不平衡，造成器件漏电，严重时甚至导致器件失效本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体器件的超结结构，其特征在于：所述超结结构包括N型衬底、依序形成于N型衬底上的第一P型外延、第一N型外延、第二P型外延及第二N型外延、贯穿所述第二N型外延、所述第二P型外延、所述第一N型外延及所述第一P型外延的沟槽、在所述沟槽中的N型衬底上填充的第三N型外延、在所述第三N型外延上形成的第三P型外延、在所述第三P型外延上形成第四P型外延、P型体区与栅极多晶硅结构，所述第三N型外延的厚度大于所述第一P型外延的厚度但是小于所述第一P型外延与所述第一N型外延的厚度之和，所述第三P型外延与所述第三N型外延的厚度之和小于所述第一P型外延与第一N型外延的厚度之和，所述第三N型外延、第三P型外延及第四...

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件的超结结构，其特征在于：所述超结结构包括N型衬底、依序形成于N型衬底上的第一P型外延、第一N型外延、第二P型外延及第二N型外延、贯穿所述第二N型外延、所述第二P型外延、所述第一N型外延及所述第一P型外延的沟槽、在所述沟槽中的N型衬底上填充的第三N型外延、在所述第三N型外延上形成的第三P型外延、在所述第三P型外延上形成第四P型外延、P型体区与栅极多晶硅结构，所述第三N型外延的厚度大于所述第一P型外延的厚度但是小于所述第一P型外延与所述第一N型外延的厚度之和，所述第三P型外延与所述第三N型外延的厚度之和小于所述第一P型外延与第一N型外延的厚度之和，所述第三N型外延、第三P型外延及第四P型外延的厚度之和小于所述第一P型外延、第一N型外延、第二P型外延及第二N型外延的厚度之和，所述第四N型外延上表面与第二N型外延上表面齐平，所述P型体区形成于所述第二P型外延上及所述第四N型外延表面。2.如权利要求1所述的半导体器件的超结结构，其特征在于：所述第三N型外延的厚度小于所述第一P型外延的厚度与所述第一N型外延的一半厚度的和。3.如权利要求1所述的半导体器件的超结结构，其特征在于：所述第三P型外延的厚度小于所述第三N型外延的一半厚度。4.如权利要求1所述的半导体器件的超结结构，其特征在于：所述第三P型外延与所述第三N型外延的厚度之和大于所述第一P型外延的厚度与所述第一N型外延的一半的厚度之和。5.一种半导体器件的超结结构的制作方法，其特征在于：所述制作方法包括以下步骤：提供N型衬底，在所述N型衬底上依序形成第一P型外延、第一N型外延、第二P型外延及第二N型外延；形成贯穿所述第二N型外延、所述第二P型外延、所述第一N型外延及所述第一P型外延的沟槽；在所述沟槽中的N型衬底上填充第三N型外延，所述第三N型外延的厚度大于所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：深圳市晶特智造科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44