相变温度测试仪及其测试方法技术

本发明专利技术提供了一种相变温度测试仪及其测试方法。其中，相变温度测试仪包括：用于容纳被测样品的容器；加热装置，对所述容器内的被测样品进行加热；图像获取装置，用于获取被测样品的图像；温度传感器，与所述容器连接，用于检测所述被测样品的温度变化；处理器，与所述图像获取装置和温度传感器电子连接，用于执行下述处理：根据获取的图像检测被测样品由于加热导致的位移变化，并根据检测到的位移变化和温度变化生成被测样品的温度位移曲线。本发明专利技术所提供的相变温度测试仪及其测试方法实现了对镍钛合金相变温度的非接触式测量，能对任何规格和形状类型的镍钛合金支架进行精准的测试，并且适用性广。

【技术实现步骤摘要】
相变温度测试仪及其测试方法
本专利技术涉及一种相变温度测试仪，尤其涉及一种用于检测镍钛合金的相变温度的非接触式相变温度测试仪及其测试方法。
技术介绍
现有实践中，通常采用人工判断的方法来测试镍钛合金的相变温度AS和AF，但这样测试的准确度不高且工作量大。因此，近几年研发出了可以实现自动检测AF的接触式相变温度测试仪，即通过接触镍钛合金来检测其随温度变化的形状变化。但对于毫米级的微小的镍钛合金支架，接触式相变温度测试仪具有局限性，其位置传感器与被探测棒之间会存在机械摩擦误差，难以对微小的镍钛合金支架进行准确测量。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种非接触式的能够准确检测相变温度AS和AF的相变温度测试仪。为了实现上述目的，本专利技术提供的相变温度测试仪，包括：用于容纳被测样品的容器；加热装置，对所述容器内的被测样品进行加热；图像获取装置，用于获取被测样品的图像；温度传感器，与所述容器连接，用于检测所述被测样品的温度变化；以及处理器，与所述图像获取装置和温度传感器电子连接，用于执行下述处理：根据获取的图像检测被测样品由于加热导致的位移变化，并根据检测到的位移变化和温度变化生成被测样品本文档来自技高网...

【技术保护点】
相变温度测试仪，其特征在于，包括：用于容纳被测样品的容器；加热装置，对所述容器内的被测样品进行加热；图像获取装置，用于获取被测样品的图像；温度传感器，与所述容器连接，用于检测所述被测样品的温度变化；处理器，与所述图像获取装置和温度传感器电子连接，用于执行下述处理：根据获取的图像检测被测样品由于加热导致的位移变化，并根据检测到的位移变化和温度变化生成被测样品的温度位移曲线。

【技术特征摘要】
1.相变温度测试仪，其特征在于，包括：用于容纳被测样品的容器；加热装置，对所述容器内的被测样品进行加热；图像获取装置，用于获取被测样品的图像；温度传感器，与所述容器连接，用于检测所述被测样品的温度变化；处理器，与所述图像获取装置和温度传感器电子连接，用于执行下述处理：根据获取的图像检测被测样品由于加热导致的位移变化，并根据检测到的位移变化和温度变化生成被测样品的温度位移曲线。2.如权利要求1所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述图像获取装置包括：摄像头，用于拍摄被测样品以获得被测样品的图像；支撑机构，用于将摄像头支撑在拍摄位置以对被测样品进行拍摄。3.如权利要求2所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述支撑机构包括：支撑座；位置调整机构，设置在支撑座上，适于调整所述摄像头的拍摄位置。4.如权利要求3所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述位置调整机构包括：导轨，在所述支撑座中沿上下方向设置；滑动件，所述摄像头与该滑动件固定，并且所述滑动件与所述导轨接合以使所述摄像头能够沿所述导轨移动。5.如权利要求4所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述位置调整机构还包括：驱动机构，所述驱动机构与滑动件接合以驱动所述滑动件沿所述导轨移动。6.如权利要求5所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述驱动机构为直线电机。7.如权利要求6所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述直线电机位于所述相变温度测试仪的底部。8.如权利要求7所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述相变温度测试仪还包括容纳所述容器、加热装置、图像获取装置和温度传感器的罩体，其中，所述罩体具有使容器、加热装置、摄相头和温度传感器可见的开口和用于打开或关闭该开口的移门。9.如权利要求8所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述移门设置成180度可移动。10.如权利要求9所述的相变温度测试仪，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱鹏冲，艾建勇，
申请(专利权)人：苏州迈迪威检测技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32