一种发光器件测试系统的载片台技术方案

本实用新型专利技术公开了一种发光器件测试系统的载片台，解决了常见发光器件测试系统的载片台在输送和调节过程中较为不便的问题，其技术方案要点是，包括：用于承载被测发光器件的承载台；设于所述承载台上、用于驱动所述承载台旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整的旋转机构；设于所述承载台下、用于驱动所述承载台纵向移动以靠近或远离测试位置的第一传输机构；以及，设于所述第一传输机构下、用于驱动所述第一传输机构及所述承载台横向移动以靠近或远离测试位置的第二传输机构，达到在输送和调节过程中较为方便的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种发光器件测试系统的载片台
本技术涉及发光器件检测领域，特别涉及一种发光器件测试系统的载片台。
技术介绍
有一种二极管发光器件，电极面与发光面相对。在发光器件测试系统中，通过导电物体接触电极面的P极和N极，点亮发光器件，对其光参数进行检测。发光器件测试系统中的载片台用以承载被测发光器件，光参数测试装置用于收集被测发光器件导通时发光面的光参数，光参数测试装置可在竖直方向移动以靠近或远离测试位置，现有技术中，发光器件测试系统的载片台在输送和调节过程中较为不便，有待改进。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种发光器件测试系统的载片台，具有在输送和调节过程中较为方便的优点。本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种发光器件测试系统的载片台，包括：用于承载被测发光器件的承载台；设于所述承载台上、用于驱动所述承载台旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整位置的旋转机构；设于所述承载台下、用于驱动所述承载台纵向移动以靠近或远离测试位置的第一传输机构；以及，设于所述第一传输机构下、用于驱动所述第一传输机构及所述承载台横向移动以靠近或远离测试位置的第二传输机构。通过采用上述技术方案，第一传输机构可驱动承载台纵向移动以靠近或远离测试位置，第二传输机构可驱动第一传输机构及承载台横向移动以靠近或远离测试位置，旋转机构用于驱动承载台旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整位置，发光器件测试系统进行测试时，将被测发光器件置于承载台上，可以很方便地通过第一传输机构及第二传输机构将承载台向测试位置移动并进行调整至测试位置，然后通过旋转机构对承载台的位置进行进一步的调整，使承载台准确地到达测试位置以使测量数据较为准确；测试完后，通过第一传输机构及第二传输机构将承载台退出，以便取下被测发光器件；从而载片台具有在输送和调节过程中较为方便的优点。本技术的进一步设置，所述承载台设有安装座，所述旋转机构包括：设于所述安装座上的电机；以及，设于所述安装座上、受所述电机驱动以带动所述承载台旋转的传动件。通过采用上述技术方案，在进行对承载台圆周方向调整时，安装座上的电机转动，受电机驱动的传动件带动承载台旋转，以使承载台准确地到达测试位置。本技术的进一步设置，所述安装座上设有检测组件，所述检测组件包括：若干个光电传感器；以及，设于所述承载台上用于隔挡所述光电传感器所发射光源以感应承载台转动位置的挡片。通过采用上述技术方案，在进行对承载台圆周方向调整时，当承载台上的挡片经过某一光电传感器时，挡片隔挡住光电传感器所发射光源以感应挡片的位置，从而感应承载台转动位置，从而可以通过检测组件限制承载台的转动角度，保证了承载台在圆周方向的调整。本技术的进一步设置，所述第一传输机构包括：滑移座；若干设于所述滑移座上、供所述承载台滑移的第一导轨；以及，驱动所述承载台在所述第一导轨上滑移的第一驱动件。通过采用上述技术方案，第一驱动件驱动承载台在滑移座上的第一导轨上滑移，以使承载台靠近或远离测试位置，便于承载台的输送和调节；承载台通过第一导轨滑移，使承载台在输送和调节的过程更为稳定。本技术的进一步设置，所述第二传输机构包括：固定座，所述固定座上设有供一光参数测试装置容置的让位缺口；若干设于所述固定座上、供所述滑移座滑移的第二导轨；以及，驱动所述滑移座在所述第二导轨上滑移的第二驱动件。通过采用上述技术方案，第二驱动件驱动滑移座在固定座上的第二导轨上滑移，带动滑移座上的承载台移动，以使承载台靠近或远离测试位置，便于承载台的输送和调节；滑移座通过第二导轨滑移，使滑移座和承载台在输送和调节的过程更为稳定。本技术的进一步设置，所述第一驱动件及第二驱动件均为丝杠。通过采用上述技术方案，丝杠具有传动效率高，定位较为精准的优点，从而在第一传输机构及第二传输机构对承载台进行传输和调节的过程中，较为精准和稳定。本技术的进一步设置，所述丝杠设于所述第二导轨靠近所述让位缺口的一侧。通过采用上述技术方案，可以充分利用固定座上的结构，节省了空间。本技术的进一步设置，所述丝杠设于所述第二导轨背离所述让位缺口的一侧。通过采用上述技术方案，可以较大限度地避免丝杠的布置对光参数测试装置的干涉。综上所述，本技术具有以下有益效果：第一传输机构可驱动承载台纵向移动以靠近或远离测试位置，第二传输机构可驱动第一传输机构及承载台横向移动以靠近或远离测试位置，旋转机构用于驱动承载台旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整，发光器件测试系统进行测试时，将被测发光器件置于承载台上，可以很方便地通过第一传输机构及第二传输机构将承载台向测试位置移动并进行调整至测试位置，然后通过旋转机构对承载台的位置进行进一步的调整，使承载台准确地到达测试位置以使测量数据较为准确；测试完后，通过第一传输机构及第二传输机构将承载台退出，以便取下被测发光器件；从而载片台具有在输送和调节过程中较为方便的优点。附图说明图1是实施例1中发光器件测试系统的整体结构示意图；图2是实施例1中载片台的结构示意图；图3是实施例1中旋转机构的结构示意图；图4是实施例1中检测组件的结构示意图；图5是实施例1中第二驱动件与第二导轨的连接关系示意图；图6是实施例1中光参数测试装置的结构示意图；图7是实施例1中接触板与积分球的连接关系示意图；图8是实施例1中驱动机构的结构示意图；图9是实施例1中导电保护结构的结构示意图；图10是实施例1中第一导电件的安装结构的结构示意图；图11是实施例2中第二驱动件与第二导轨的另一连接关系示意图。附图标记：1、机座；2、载片台；21、承载台；22、旋转机构；221、电机；222、传动件；23、滑移座；24、第一导轨；25、第一驱动件；26、固定座；27、第二导轨；28、第二驱动件；29、安装座；3、光参数测试装置；31、收光组件；311、积分球；312、积分球安装座；313、积分球夹具；32、驱动机构；321、固定板；322、移动座；323、丝杠；324、驱动电机；325、滑轨；326、滑块；327、延伸板；33、接触板；4、导电保护结构；41、第一导电件；42、第二导电件；43、安装结构；44、安装板；45、夹持块；46、卡槽；47、第一锁孔；48、第二锁孔；5、检测组件；51、光电传感器；52、挡片；6、让位缺口。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步详细说明。实施例1：一种发光器件测试系统，如图1所示，包括：罩设于一护罩内的机座1；水平滑移连接于机座1上、用于承载被测发光器件的载片台2；设置于机座1上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的光参数测试装置3；以及，用于对光参数测试装置3进行保护的导电保护结构4。在发光器件测试系统的测试过程中，光参数测试装置3接近载片台2的位置以进行对被测发光器件的光参数进行收集并测试，当载片台2在水平方向移动以调整被测发光器件的位置时，导电保护结构4能够有效地对光参数测试装置3进行保护。如图2所示，载片台2包括：用于承载被测发光器件的承载台21；设置于承载台21上、用于驱动承载台21旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整位置的旋转机构22；设置于承载台21下、用于驱动承载台21纵向移动以靠近或远离测试位置的第一传输机构；以及，设置于第一传本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种发光器件测试系统的载片台，其特征在于，包括：用于承载被测发光器件的承载台(21)；设于所述承载台(21)上、用于驱动所述承载台(21)旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整位置的旋转机构(22)；设于所述承载台(21)下、用于驱动所述承载台(21)纵向移动以靠近或远离测试位置的第一传输机构；以及，设于所述第一传输机构下、用于驱动所述第一传输机构及所述承载台(21)横向移动以靠近或远离测试位置的第二传输机构。

【技术特征摘要】
1.一种发光器件测试系统的载片台，其特征在于，包括：用于承载被测发光器件的承载台(21)；设于所述承载台(21)上、用于驱动所述承载台(21)旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整位置的旋转机构(22)；设于所述承载台(21)下、用于驱动所述承载台(21)纵向移动以靠近或远离测试位置的第一传输机构；以及，设于所述第一传输机构下、用于驱动所述第一传输机构及所述承载台(21)横向移动以靠近或远离测试位置的第二传输机构。2.根据权利要求1所述的一种发光器件测试系统的载片台，其特征在于，所述承载台(21)设有安装座(29)，所述旋转机构(22)包括：设于所述安装座(29)上的电机(221)；以及，设于所述安装座(29)上、受所述电机(221)驱动以带动所述承载台(21)旋转的传动件(222)。3.根据权利要求2所述的一种发光器件测试系统的载片台，其特征在于，所述安装座(29)上设有检测组件(5)，所述检测组件(5)包括：若干个光电传感器(51)；以及，设于所述承载台(21)上用于隔挡所述光电传感器(51)所发射光源以感应所述承载台(21)转动位置的挡片(5...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨波，刘振辉，韦日文，李景均，
申请(专利权)人：深圳市矽电半导体设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44