玻璃基板检查系统技术方案

本公开涉及一种玻璃基板检查系统。所述玻璃基板以竖直状态由传送装置进行水平传送，所述系统包括：图像采集装置，用于采集所述玻璃基板的图像；图像处理装置，与所述图像采集装置相连，用于接收所述图像并对所述图像进行处理，以获取所述玻璃基板的缺陷信息；调整装置，与所述图像采集装置相连，用于在所述玻璃基板水平前进的过程中调整所述图像采集装置的位置，使所述图像采集装置沿竖直方向往返移动。由此，可以在保证玻璃基板缺陷检测精确度的同时实现对玻璃基板缺陷的快速检测。

Glass substrate inspection system

The present disclosure relates to a glass substrate inspection system. The glass substrate for horizontal transfer in the vertical state by the transfer device, the system includes an image acquisition device for acquiring the image of the glass substrate; the image processing device is connected with the image acquisition device is used for receiving the image and the image for processing, to obtain the information of defects glass substrate; adjustment device is connected with the image acquisition device is used to adjust the image acquisition device in the process of moving the glass substrate in the horizontal position, the image acquisition device to move back and forth along the vertical direction. Thus, the rapid detection of glass substrate defects can be realized while ensuring the accuracy of glass substrate defect detection.

【技术实现步骤摘要】
玻璃基板检查系统
本公开涉及玻璃基板加工领域，具体地，涉及一种玻璃基板检查系统。
技术介绍
玻璃基板作为平板显示产业的关键基础材料之一，应用十分广泛。在玻璃基板的生产过程中，由于生产工序以及生产环境的影响，玻璃基板可能存在缺陷，如磨损、表面裂纹、表面粉尘、内部缺陷等。因此，需要对玻璃基板进行检查。现有技术中，对于玻璃基板的缺陷检查方式比较单一，且精确度较低，无法对缺陷进行同时检查。并且，在一些检查工序中，对检查装置的控制精度不高，易造成原料及时间浪费。
技术实现思路
本公开的目的是提供一种玻璃基板检查系统，以实现对玻璃基板的快速全面检查。为了实现上述目的，本公开提供一种玻璃基板检查系统，所述玻璃基板以竖直状态由传送装置进行水平传送，所述系统包括：图像采集装置，用于采集所述玻璃基板的图像；图像处理装置，与所述图像采集装置相连，用于接收所述图像并对所述图像进行处理，以获取所述玻璃基板的缺陷信息；调整装置，与所述图像采集装置相连，用于在所述玻璃基板水平前进的过程中调整所述图像采集装置的位置，使所述图像采集装置沿竖直方向往返移动可选地，所述调整装置包括：调整机构，与所述图像采集装置相连，用于调整所述图像采集装置的位置；沿竖直方向连续排列的多个传感器，用于检测所述玻璃基板沿竖直方向的位置范围；控制模块，与所述调整机构和所述多个传感器相连，用于根据所述位置范围控制所述调整机构，使其调整所述图像采集装置在竖直方向的所述位置范围内往返移动。可选地，所述图像采集装置为CCD相机。可选地，所述系统还包括照射光源，用于在所述图像采集装置采集所述玻璃基板的图像时照射所述玻璃基板。可选地，所述照射光源为LED发光体。可选地，所述系统还包括：提醒装置，与所述图像处理装置相连，用于根据所述图像处理装置得到的所述缺陷信息进行提醒。可选地，所述提醒装置包括以下至少一者：电子显示屏、灯光提醒装置、语音提醒装置。可选地，所述系统还包括底座，用于支撑所述调整装置。通过上述技术方案，可以在保证玻璃基板缺陷检测精确度的同时实现对玻璃基板缺陷的快速检测。本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。附图说明附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：图1是根据本公开的一种实施方式提供的玻璃基板检查系统的示意图。图2是根据本公开提供的玻璃基板检查系统中，调整装置的一种示例性结构示意图。图3根据本公开提供的玻璃基板检查系统中，调整装置在工作时的场景示意图。图4是根据本公开提供的玻璃基板检查系统中，图像采集装置的移动轨迹的示意图。附图标记说明101图像采集装置102图像处理装置103调整装置104调整机构105传感器106控制模块3玻璃基板具体实施方式以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。图1是根据本公开的一种实施方式提供的玻璃基板检查系统的示意图。如图1所示，该玻璃基板检查系统可以包括：图像采集装置101，用于采集玻璃基板的图像；图像处理装置102，与图像采集装置101相连，用于接收图像采集装置101采集到的图像并对图像进行处理，以获取玻璃基板的缺陷信息；调整装置103，与图像采集装置101相连，用于在玻璃基板水平前进的过程中调整图像采集装置101的位置，使其沿竖直方向往返移动。图像采集装置101可以是高精度图像采集设备，以保证对玻璃基板图像采集的精确性。示例地，图像采集装置可以是CCD(电荷耦合器件)相机，CCD相机抓拍速度快、效果好、图像精度高，可以得到十分高质量的图像，有利于后续的玻璃基板检查。该图像采集装置101可以设置在调整装置103上，经调整装置103的调整可以实现图像采集装置101沿竖直方向的往返移动。在一种实施方式中，调整装置103的结构可以如图2所示，调整装置103可以包括：调整机构104、多个传感器105(包括1051～105N)和控制模块106。传感器1051～105N可以沿竖直方向连续排列，以在玻璃基板到达时检测玻璃基板沿竖直方向的位置范围。示例地，传感器1051～105N可以是红外线传感器。在一种示例性的实施方式中，控制模块106可以包括接收单元、计算单元和控制单元。其中，接收单元可以与上述沿竖直方向连续排列的传感器1051～105N相连，以接收检测结果，即玻璃基板所处的位置范围。计算单元可以与接收单元相连，以根据接收单元接收到的位置范围确定图像采集装置的目标活动范围。示例地，如图3所示，当玻璃基板3被传送到传感器1051～105N所处位置时，传感器1051～105N可以检测到玻璃基板沿竖直方向的位置范围，如图中AB所示，接收单元可以接收到该位置范围，相应的，计算单元确定的目标位置范围可以如图中CD所示。控制单元可以与计算单元相连，并且可以根据计算单元确定的目标位置范围控制调整机构104。调整机构104可以与图像采集装置101相连，可以控制图像采集装置101在该目标位置范围往返移动。在一种实施方式中，图像采集装置采集玻璃基板图像的轨迹可以如图4所示，其中，玻璃基板3以竖直状态在传送装置的传送下沿水平方向移动，如图4中水平箭头所示。图像采集装置101沿竖直方向往返移动以采集玻璃基板的图像。示例地，如图4中竖直方向的箭头所示，图像采集装置101经过两次往返可以完成对玻璃基板3的图像采集。结合传送装置对玻璃基板的水平传送以及图像采集装置沿竖直方向在目标范围内的往返移动，可以快速采集到玻璃基板的清晰图像，节省时间，并且，通过对图像采集装置活动范围的控制也可以减少调整装置和图像采集装置之间的磨损。图像处理装置102可以与图像采集装置101相连。当图像采集装置101采集到图像后，图像处理装置102可以接收该图像并对图像进行处理。示例地，在图像处理装置中可以预先存储有玻璃基板的缺陷图像特征，该缺陷图像特征可以为玻璃基板所有类型的缺陷特征的集合。根据图像采集装置101采集到的图像以及预存的缺陷图像特征，可以得到玻璃基板的缺陷信息。示例地，当采集到的玻璃基板的图像符合表面磨损的图像特征时，图像处理装置得到的结果为玻璃基板存在表面磨损的缺陷。再例如，当采集到的玻璃基板的图像符合表面粉尘且内部存在气泡的图像特征时，图像处理装置得到的结果为玻璃基板内部存在气泡且表面附着有粉尘。上述利用图像特征提取确定缺陷类型属于现有技术，本领域技术人员可以实现，在此不进行详细描述。在一种实施方式中，图像处理装置102可以在图像采集装置101采集玻璃基板图像的过程中进行图像处理。在另一种实施方式中，图像处理装置102可以在图像采集装置101完成对玻璃基板的图像采集后进行图像处理。通过上述方案，可以在保证玻璃基板缺陷检测精确度的同时实现对玻璃基板缺陷的快速检测。由于图像采集装置101在采集玻璃基板图像的过程中，采集到的图像会受到周围光线的影响，因此，在本公开提供的玻璃基板检查系统中还可以设置有照射光源，在图像采集装置101采集玻璃基板图像的过程中照射玻璃基板，使玻璃基板受到的光照恒定，减小其他光线对图像采集的影响。示例地，照射光源可以是LED发光体。并且，该本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种玻璃基板检查系统，所述玻璃基板以竖直状态由传送装置进行水平传送，其特征在于，所述系统包括：图像采集装置，用于采集所述玻璃基板的图像；图像处理装置，与所述图像采集装置相连，用于接收所述图像并对所述图像进行处理，以获取所述玻璃基板的缺陷信息；调整装置，与所述图像采集装置相连，用于在所述玻璃基板水平前进的过程中调整所述图像采集装置的位置，使所述图像采集装置沿竖直方向往返移动。

【技术特征摘要】
1.一种玻璃基板检查系统，所述玻璃基板以竖直状态由传送装置进行水平传送，其特征在于，所述系统包括：图像采集装置，用于采集所述玻璃基板的图像；图像处理装置，与所述图像采集装置相连，用于接收所述图像并对所述图像进行处理，以获取所述玻璃基板的缺陷信息；调整装置，与所述图像采集装置相连，用于在所述玻璃基板水平前进的过程中调整所述图像采集装置的位置，使所述图像采集装置沿竖直方向往返移动。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述调整装置包括：调整机构，与所述图像采集装置相连，用于调整所述图像采集装置的位置；沿竖直方向连续排列的多个传感器，用于检测所述玻璃基板沿竖直方向的位置范围；控制模块，与所述调整机构和所述多个传感器相连，用于根据所述位置范围控制所述调整机构，使其...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭向阳，刘文泰，蔡伟祥，彭飞，郭锋，
申请(专利权)人：芜湖东旭光电装备技术有限公司，东旭光电科技股份有限公司，东旭集团有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34