多光轴平行度测量系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种多光轴平行度测量系统及方法，涉及组合光学侦测系统领域。所述多光轴平行度测量系统包括基准调整设备、靶板调整装置和靶板，靶板设置于靶板调整装置上，基准调整设备上设置有组合光学侦测装置，基准调整设备和靶板调整装置间隔相对设置，基准调整设备上设置有俯仰校准装置，基准调整设备上还设置有方位校准装置，靶板上设置有靶纸，靶纸用于获取被测成像系统光轴距离基准系统光轴的位置偏差，以基于该位置偏差获取被测成像系统光轴的平行度。本发明专利技术提出了一种多光轴平行度测量系统来模拟大口径平行光管，降低了测量校准设备设计制作和调校的难度，且降低了对测量场地的要求，操作方便，具有较高的实用性。

Multi axis parallelism measurement system and method

The invention provides a multi optical axis parallelism measurement system and method, which relates to the field of combined optical detection system. The optical axis parallelism measuring system includes a reference to adjust the equipment, plate adjustment device and a target plate, the target plate is arranged on the target plate adjustment device, reference adjustment device is also provided with a combined optical detection device, reference adjustment device and target device to adjust relative interval set, reference adjustment device is also provided with a pitch calibration device reference adjustment device is arranged on the azimuth calibration device, the target plate is arranged on the target, target is used to obtain the measured position deviation of the axis of imaging system from a reference optical axis of the system, in order to obtain the measured optical imaging system based on the position deviation of parallelism. The invention proposes a multi optical axis parallelism measuring system to simulate large diameter collimator, which reduces the difficulty of designing, making and adjusting the calibration equipment, and reduces the requirement for the measuring site. It is easy to operate and has high practicability.

【技术实现步骤摘要】
多光轴平行度测量系统及方法
本专利技术涉及组合光学侦测系统领域，具体而言，涉及一种多光轴平行度测量系统及方法。
技术介绍
军用光学成像系统在对远距离目标进行昼夜监视时，采用红外、微光、可见光等多种成像器件分时工作，为了能够捕捉、监视到同一个目标，各成像系统一般平行安装成一个整体，这样的系统被称为组合光学侦测装置。为了能够监测远距离(≥3km)目标，系统的各个器件所配用的成像镜头往往焦距很长；而且为了在夜间获得更多的能量，从而实现更好的成效效果，成像镜头的口径也都较大。故各光轴之间的距离也较大，整个系统体积也较大。传统的多光轴系统的光轴平行度偏差测量方法一般有两种：一种是大口径非球面反射镜组成的平行光管法，但是由于此军用多光轴系统体积较大，各光轴之间的距离也较大，需要用直径超过500mm平行光管，这样的平行光管很难找到，定做的费用也相当昂贵，设备架设难度较大，对场地条件要求较高，不适用于小批量生产测试；第二种是瞄准远距离的目标进行直接校准，但是在城市、厂区很难找到足够远的目标，如果到外场试验又很不方便。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种多光轴平行度测量系统及方法，其能够有效改善上述问题。本专利技术的实施例是这样实现的：第一方面，本专利技术实施例提供了一种多光轴平行度测量系统，其包括基准调整设备、靶板调整装置和靶板，所述靶板设置于所述靶板调整装置上，所述基准调整设备上设置有组合光学侦测装置，所述基准调整设备和所述靶板调整装置间隔相对设置，所述基准调整设备用于调整所述组合光学侦测装置的方位和俯仰角度，所述靶板调整装置用于调整所述靶板的方位和俯仰角度，所述基准调整设备上设置有俯仰校准装置，所述俯仰校准装置用于为所述基准调整设备和所述靶板调整装置的俯仰角校准提供参照，以使所述组合光学侦测装置处于水平位置，以及使所述靶板垂直于水平面，所述基准调整设备上还设置有方位校准装置，所述方位校准装置用于为所述基准调整设备和所述靶板调整装置的方位校准提供参照，以使所述组合光学侦测装置的基准系统光轴与所述靶板垂直，所述靶板上设置有靶纸，所述靶纸用于获取被测成像系统光轴距离所述基准系统光轴的位置偏差，以基于所述位置偏差获取所述被测成像系统光轴的平行度。在本专利技术较佳的实施例中，所述多光轴平行度测量系统还包括显示设备，所述显示设备与所述组合光学侦测装置连接，所述显示设备用于显示所述靶纸的像以及所述基准系统光轴和所述组合光学侦测装置中的各个成像系统光轴在所述靶纸上的位置。在本专利技术较佳的实施例中，所述靶纸为网格状，所述靶纸上设置有所述基准系统光轴对应的十字分划线以及所述组合光学侦测装置中各个成像系统光轴对应的标准十字分划线。在本专利技术较佳的实施例中，所述基准系统光轴对应的十字分划线为所述靶纸的正中心原点。在本专利技术较佳的实施例中，所述靶纸的视场面积大于或等于整个视场面积的二分之一。在本专利技术较佳的实施例中，所述靶纸上的所述组合光学侦测装置中各个成像系统光轴对应的标准十字分划线为不同线型。在本专利技术较佳的实施例中，所述俯仰校准装置为水平仪。在本专利技术较佳的实施例中，所述方位校准装置为激光指示灯，所述靶板上对应于所述激光指示灯的区域能够反射由所述激光指示灯发出的激光。在本专利技术较佳的实施例中，所述靶板上对应于所述激光指示灯的位置设置有平面反光镜。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种多光轴平行度测量方法，应用于如上所述的多光轴平行度测量系统，所述多光轴平行度测量方法包括：利用俯仰校准装置，调整基准调整设备和靶板调整装置的俯仰角，使靶板垂直于水平面，以及使组合光学侦测装置处于水平位置；利用方位校准装置，调整所述组合光学侦测装置的基准系统光轴与所述靶板垂直；获取被测成像系统光轴到基准系统光轴的位置偏差，并基于所述位置偏差获取所述被测成像系统光轴的平行度。本专利技术实施例提供的多光轴平行度测量系统及方法，通过在安装有组合光学侦测装置的基准调整设备上设置俯仰校准装置和方位校准装置，再通过俯仰校准装置来调整基准调整设备和靶板调整装置的俯仰角，使靶板垂直于水平面，以及使组合光学侦测装置处于水平位置，通过方位校准装置来调整所述组合光学侦测装置的基准系统光轴，可使被测的组合光学侦测装置的基准系统光轴与靶板垂直；再通过在靶板上设置靶纸，并以基准系统光轴在靶纸上对应的位置作为参照，来获取被测成像系统光轴距离基准系统光轴的位置偏差，最终即可基于该位置偏差来计算被测成像系统光轴的平行度。相对于现有技术，本专利技术提出了一种多光轴平行度测量系统来模拟大口径平行光管，降低了测量校准设备设计制作和调校的难度，且降低了对测量场地的要求，操作方便，具有较高的实用性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术第一实施例提供的多光轴平行度测量系统的结构示意图；图2为本专利技术第一实施例提供的一种优选的多光轴平行度测量系统的结构示意图；图3为本专利技术第一实施例提供的靶纸的示意图；图4为本专利技术第一实施例提供的测量系统调整完毕后基准系统显示示意图；图5为本专利技术第一实施例提供的被测系统十字分划线显示及测量测量示意图；图6为本专利技术第一实施例提供的基准系统和被测系统十字分划线校准后显示示意图；图7为本专利技术第二实施例提供的多光轴平行度测量方法的流程框图。图标：10-基准系统光轴；100-组合光学侦测装置；200-靶板；220-靶纸；240-平面反射镜；300-基准调整设备；320-俯仰校准装置；340-方位校准装置；400-靶板调整装置；500-显示设备；1000-多光轴平行度测量系统。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中”、“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多光轴平行度测量系统，其特征在于，包括基准调整设备、靶板调整装置和靶板，所述靶板设置于所述靶板调整装置上，所述基准调整设备上设置有组合光学侦测装置，所述基准调整设备和所述靶板调整装置间隔相对设置，所述基准调整设备用于调整所述组合光学侦测装置的方位和俯仰角度，所述靶板调整装置用于调整所述靶板的方位和俯仰角度，所述基准调整设备上设置有俯仰校准装置，所述俯仰校准装置用于为所述基准调整设备和所述靶板调整装置的俯仰角校准提供参照，以使所述组合光学侦测装置处于水平位置，以及使所述靶板垂直于水平面，所述基准调整设备上还设置有方位校准装置，所述方位校准装置用于为所述基准调整设备和所述靶板调整装置的方位校准提供参照，以使所述组合光学侦测装置的基准系统光轴与所述靶板垂直，所述靶板上设置有靶纸，所述靶纸用于获取被测成像系统光轴距离所述基准系统光轴的位置偏差，以基于所述位置偏差获取所述被测成像系统光轴的平行度。

【技术特征摘要】
1.一种多光轴平行度测量系统，其特征在于，包括基准调整设备、靶板调整装置和靶板，所述靶板设置于所述靶板调整装置上，所述基准调整设备上设置有组合光学侦测装置，所述基准调整设备和所述靶板调整装置间隔相对设置，所述基准调整设备用于调整所述组合光学侦测装置的方位和俯仰角度，所述靶板调整装置用于调整所述靶板的方位和俯仰角度，所述基准调整设备上设置有俯仰校准装置，所述俯仰校准装置用于为所述基准调整设备和所述靶板调整装置的俯仰角校准提供参照，以使所述组合光学侦测装置处于水平位置，以及使所述靶板垂直于水平面，所述基准调整设备上还设置有方位校准装置，所述方位校准装置用于为所述基准调整设备和所述靶板调整装置的方位校准提供参照，以使所述组合光学侦测装置的基准系统光轴与所述靶板垂直，所述靶板上设置有靶纸，所述靶纸用于获取被测成像系统光轴距离所述基准系统光轴的位置偏差，以基于所述位置偏差获取所述被测成像系统光轴的平行度。2.根据权利要求1所述的多光轴平行度测量系统，其特征在于，所述多光轴平行度测量系统还包括显示设备，所述显示设备与所述组合光学侦测装置连接，所述显示设备用于显示所述靶纸的像以及所述基准系统光轴和所述组合光学侦测装置中的各个成像系统光轴在所述靶纸上的位置。3.根据权利要求1所述的多光轴平行度测量系统，其特征在于，所述靶纸为网格状，所述靶纸上设置有所述基准系统光轴对应的十字分划线以及所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张振宇，王皓，熊海林，
申请(专利权)人：北京国泰蓝盾科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11