一种基于MCU的锁相环锁定检测方法和MCU技术

技术编号:17488502 阅读:54 留言:0更新日期:2018-03-17 12:08
本发明专利技术公开了一种基于MCU的锁相环锁定检测方法和MCU,该MCU包括模数转换器、存储单元和数据处理单元,所述模数转换器与所述存储单元相连接,所述存储单元与所述数据处理单元相连接;利用所述模数转换器每间隔一预设时间段检测锁相环中压控振荡器的输入电压,获得与所述输入电压对应输出数据,并将所述输出数据存储到所述存储单元;利用所述数字处理单元判断在N个所述预设时间段中每个预设时间段,所述存储单元中存储的输出数据的变化量,从而判定所述锁相环稳定锁定。充分利用了MCU中的现有资源,判断锁相环的稳定锁定,不需要额外增加MCU的内部和外部资源,成本低且能够有效精准的判断锁相环的稳定锁定。

A locking detection method for phase-locked loop based on MCU and MCU

The invention discloses a lock detection method and MCU MCU phase locked loop based on the MCU includes an analog-to-digital converter, a storage unit and a data processing unit, the analog-to-digital converter and the storage unit is connected with the storage unit and the data processing unit is connected; the ADC input voltage intervals a preset period of time controlled oscillator PLL voltage detection, obtain input data and the corresponding output voltage, and the output data is stored in the storage unit; digital processing unit judges in N the pre setting time period in each preset period of time using the variation of the output data storage in the storage unit, so as to determine the stability of PLL lock. Making full use of the available resources in MCU, we can identify the phase-locked loop's stable locking, and do not need to increase the internal and external resources of MCU, which is low cost and can accurately and effectively identify the phase locked loop's stable locking.

【技术实现步骤摘要】
一种基于MCU的锁相环锁定检测方法和MCU
本专利技术涉及电子
,尤其涉及一种基于MCU(MicrocontrollerUnit,微控制单元)的锁相环锁定检测方法和MCU。
技术介绍
时钟是数字器件的心脏,在数字器件的工作中发挥着十分重要的作用,一旦时钟出现问题,很容易导致数字器件出现数字逻辑错误,从而导致整个系统无法工作。例如,MCU在切换到设置的时钟时需要先判断该设置的时钟是否稳定,这需要额外的锁相环稳定检测电路。如果设置的时钟不稳定时进行时钟切换,会导致系统时钟出现问题,整个SoC(System-on-a-Chip,系统级芯片)失效无法工作。现有技术中对于MCU的时钟切换,需要额外的锁相环稳定检测电路,这样增加了时钟切换电路的成本且容易误判。
技术实现思路
本专利技术实施例通过提供一种基于MCU的锁相环锁定检测方法和MCU,用于解决现有技术中技术问题。第一方面,本专利技术一实施例提供了一种基于MCU的锁相环锁定检测方法,所述MCU包括模数转换器、存储单元和数字处理单元,所述模数转换器与所述存储单元相连接,所述存储单元与所述数字处理单元相连接;利用所述模数转换器每间隔一预设时间本文档来自技高网...
一种基于MCU的锁相环锁定检测方法和MCU

【技术保护点】
一种基于MCU的锁相环锁定检测方法,其特征在于,所述MCU包括模数转换器、存储单元和数字处理单元,所述模数转换器与所述存储单元相连接,所述存储单元与所述数字处理单元相连接;利用所述模数转换器每间隔一预设时间段检测锁相环中压控振荡器的输入电压,获得与所述输入电压对应输出数据,并将所述输出数据存储到所述存储单元;利用所述数字处理单元判断在N个所述预设时间段中每个预设时间段,所述存储单元中存储的输出数据的变化量是否小于锁定稳定阈值,若所述数字处理单元判断所述存储单元中存储的输出数据的变化量均小于锁定稳定阈值,所述数字处理单元判定所述锁相环稳定锁定,其中,N为大于1的整数。

【技术特征摘要】
1.一种基于MCU的锁相环锁定检测方法,其特征在于,所述MCU包括模数转换器、存储单元和数字处理单元,所述模数转换器与所述存储单元相连接,所述存储单元与所述数字处理单元相连接;利用所述模数转换器每间隔一预设时间段检测锁相环中压控振荡器的输入电压,获得与所述输入电压对应输出数据,并将所述输出数据存储到所述存储单元;利用所述数字处理单元判断在N个所述预设时间段中每个预设时间段,所述存储单元中存储的输出数据的变化量是否小于锁定稳定阈值,若所述数字处理单元判断所述存储单元中存储的输出数据的变化量均小于锁定稳定阈值,所述数字处理单元判定所述锁相环稳定锁定,其中,N为大于1的整数。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述N个所述预设时间段为连续的至少两个预设时间段。3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述判断在N个所述预设时间段中每个预设时间段,所述存储单元中存储的输出数据的变化量是否小于锁定稳定阈值,包括:计算N个所述预设时间段中每个预设时间段所述存储单元中存储的输出数据的变化量;判断所述变化量是否都小于锁定稳定阈值。4.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述模数转换器的最低有效位的满足如下条件:LSB<Vctrl*δ;其中,所述LSB的计算公式为LSB=Vrange/(2ENOB);LSB是所述模数转换器的最低有效位,Vrange是所述模数转换器的工作电压,ENOB是所述模数转换器的有效位数,Vctrl是所述输入电压,δ是预设百分比。5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,在利用所述数字处理单元判断在N个预设时间间隔中每个预设时间间隔,所述存储单元中存储的输出数据的变化量是否小于锁定稳定阈值之前,所述方法还包括:利用所述数字处理单元计算所述锁定稳定阈值,其中所述稳定锁定阈值的计算公式为6....

【专利技术属性】
技术研发人员:彭新朝徐以军白晓宁殷慧萍谢育桦张亮冯玉明王静
申请(专利权)人:珠海格力电器股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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