分解器校正装置和半导体装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及分解器校正装置和半导体装置。为了校正根据分解器中的转子的旋转的在到模拟滤波器的输入信号中生成的频率偏差，分解器校正装置包括移相器，其偏移通过由载波频率fc的激励信号激励的分解器检测的分解器的相关于至少具有两个以上的相位的信号中第一相位信号的相位；加法器，在激励信号通过分解器中的转子的旋转角度来被调制的情况下，所述加法器将相位偏移的第一相位信号和第二相位信号相加作为相位调制信号；频率误差校正单元，其基于分解器的相位调制信号与激励信号之间的相位差生成相位差校正信号；以及调整器，其基于所述相位差校正信号计算移相器的调整量，其中，所述移相器根据所述调整量调整相位偏移量。

Decomposer correction device and semiconductor device

The present invention relates to a decomposer correction device and a semiconductor device. In order to generate frequency deviation correction according to the decomposition of the rotation of the rotor in the analog filter to the input signal, the decomposition correction device includes a phase shifter, the offset by excited by signal carrier frequency fc decomposition detection for phase decomposition on signal phase with at least two or more of the the first phase signal; adder, excitation signal on the rotation angle of the rotor is decomposed by the modulation, the adder will first phase signal phase shift and second phase signal as the phase modulation signal; frequency error correction unit, the phase between the resolver excitation signal and phase modulated signal based on the formation of phase difference correction signal; and the regulator, the phase difference correction, calculation of phase shifter correction signal based on which the The phase shifter adjusts the phase shift according to the adjustment amount.

【技术实现步骤摘要】
分解器校正装置和半导体装置相关申请的交叉引用于2016年8月23日提交的日本专利申请No.2016-162742的公开的全部内容，包括说明书、附图和摘要，通过引用方式并入本文中。
本专利技术涉及一种分解器校正装置和半导体装置，更具体地说涉及一种用于控制电动机的分解器校正装置和半导体装置。
技术介绍
日本未审专利申请公开No.平成8(1996)-307208描述了具有不同相位偏移量的两个全路径滤波器(APF：全通滤波器)被使用并且被设计为通过预定量将一个输出的相位从另一个输出的相位偏移，因此，以在宽频带宽度中获得预定偏移量，是因为信号频率的每个偏移量具有的相同变动程度。日本未审专利申请公开No.2002-344310描述了相位偏移量被检测和被控制为预定值，因此以通过使用作为可变延迟电路的APF复制件获得预定相位偏移量。
技术实现思路
根据日本未审专利申请公开No.平成8(1996)-307208中公开的技术，诸如电阻器和电容器的模拟元件被用作滤波器，并且因此不利地，当电阻器和电容器的元件特征根据温度而变化时，两个全路径滤波器之间的偏移量的差也变化。为了解决该问题，在日本未审专利申请公开No本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分解器校正装置，相关于通过由载波频率fc的激励信号激励的分解器检测到的至少具有两个以上的相位的信号，所述分解器校正装置包括：移相器，所述移相器偏移所述分解器的第一相位信号的相位；加法器，在所述激励信号按照所述分解器中的转子的旋转角度来被调制的情况下，所述加法器将被相位偏移的所述第一相位信号和第二相位信号相加作为相位调制信号；频率误差校正单元，所述频率误差校正单元基于在所述分解器的所述相位调制信号与所述激励信号之间的相位差，来生成相位差校正信号；以及调整器，所述调整器基于所述相位差校正信号，来计算所述移相器的调整量，其中，所述移相器根据所述调整量，来调整相位偏移量。

【技术特征摘要】
2016.08.23 JP 2016-1627421.一种分解器校正装置，相关于通过由载波频率fc的激励信号激励的分解器检测到的至少具有两个以上的相位的信号，所述分解器校正装置包括：移相器，所述移相器偏移所述分解器的第一相位信号的相位；加法器，在所述激励信号按照所述分解器中的转子的旋转角度来被调制的情况下，所述加法器将被相位偏移的所述第一相位信号和第二相位信号相加作为相位调制信号；频率误差校正单元，所述频率误差校正单元基于在所述分解器的所述相位调制信号与所述激励信号之间的相位差，来生成相位差校正信号；以及调整器，所述调整器基于所述相位差校正信号，来计算所述移相器的调整量，其中，所述移相器根据所述调整量，来调整相位偏移量。2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述调整器基于所述相位差校正信号以及根据所述移相器中的温度变化的所述相位偏移量的变化量，来计算所述移相器的所述调整量。3.根据权利要求2所述的装置，进一步包括：移相器复制件，所述移相器复制件能够按照与基于所述调整量的所述移相器相同的相位偏移量，来偏移所述分解器的所述激励信号的所述相位；以及相位差检测器，所述相位差检测器检测在所述激励信号和通过所述移相器复制件进行相位偏移的所述激励信号之间的相位差，其中，所述调整器基于通过所述相位差检测器检测到的所述相位差以及所述相位差校正信号，来计算所述移相器的所述调整量。4.根据权利要求3所述的装置，进一步包括：分解器，所述分解器包括激励线圈和多个检测线圈；激励电路，所述激励电路生成激励信号并且将所述激励信号施加到所述激励线圈；以及差分放大电路，所述差分放大电路对通过所述检测线圈检测到的相位信号进行差分放大，并且至少输出第一相位信号和第二相位信...

【专利技术属性】
技术研发人员：池永佳史，
申请(专利权)人：瑞萨电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP