分解器校正装置和半导体装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及分解器校正装置和半导体装置。为了校正根据分解器中的转子的旋转的在到模拟滤波器的输入信号中生成的频率偏差，分解器校正装置包括移相器，其偏移通过由载波频率fc的激励信号激励的分解器检测的分解器的相关于至少具有两个以上的相位的信号中第一相位信号的相位；加法器，在激励信号通过分解器中的转子的旋转角度来被调制的情况下，所述加法器将相位偏移的第一相位信号和第二相位信号相加作为相位调制信号；频率误差校正单元，其基于分解器的相位调制信号与激励信号之间的相位差生成相位差校正信号；以及调整器，其基于所述相位差校正信号计算移相器的调整量，其中，所述移相器根据所述调整量调整相位偏移量。

Decomposer correction device and semiconductor device

The present invention relates to a decomposer correction device and a semiconductor device. In order to generate frequency deviation correction according to the decomposition of the rotation of the rotor in the analog filter to the input signal, the decomposition correction device includes a phase shifter, the offset by excited by signal carrier frequency fc decomposition detection for phase decomposition on signal phase with at least two or more of the the first phase signal; adder, excitation signal on the rotation angle of the rotor is decomposed by the modulation, the adder will first phase signal phase shift and second phase signal as the phase modulation signal; frequency error correction unit, the phase between the resolver excitation signal and phase modulated signal based on the formation of phase difference correction signal; and the regulator, the phase difference correction, calculation of phase shifter correction signal based on which the The phase shifter adjusts the phase shift according to the adjustment amount.

【技术实现步骤摘要】
分解器校正装置和半导体装置相关申请的交叉引用于2016年8月23日提交的日本专利申请No.2016-162742的公开的全部内容，包括说明书、附图和摘要，通过引用方式并入本文中。
本专利技术涉及一种分解器校正装置和半导体装置，更具体地说涉及一种用于控制电动机的分解器校正装置和半导体装置。
技术介绍
日本未审专利申请公开No.平成8(1996)-307208描述了具有不同相位偏移量的两个全路径滤波器(APF：全通滤波器)被使用并且被设计为通过预定量将一个输出的相位从另一个输出的相位偏移，因此，以在宽频带宽度中获得预定偏移量，是因为信号频率的每个偏移量具有的相同变动程度。日本未审专利申请公开No.2002-344310描述了相位偏移量被检测和被控制为预定值，因此以通过使用作为可变延迟电路的APF复制件获得预定相位偏移量。
技术实现思路
根据日本未审专利申请公开No.平成8(1996)-307208中公开的技术，诸如电阻器和电容器的模拟元件被用作滤波器，并且因此不利地，当电阻器和电容器的元件特征根据温度而变化时，两个全路径滤波器之间的偏移量的差也变化。为了解决该问题，在日本未审专利申请公开No.2002-344310中，通过应用反应诸如电阻器和电容器的元件特征的复制件作为可变延迟电路，元件的具体值被调整(例如，调整可变电阻器值)以消除根据温度变化的元件特征的变化。当通过在以上二者公开中使用的模拟滤波器形成分解器到数字转换器(RDC)电路时，频率偏差根据分解器的转子的旋转、在到模拟滤波器的输入信号中发生。不利地，不能够校正用于这个频率偏差的偏移量的误差。将会从本说明书和附图的描述显而易见其它目的和新颖特征。根据一个实施例，相关于移相器的相位偏移量，能够基于相位调制信号和激励信号之间的相位差的时间微分来校正根据转子的旋转的频率偏差，并且能够校正用于偏移激励信号的相位的移相器复制件的相位偏移量的变化量。根据实施例，能够伴随分解器中的转子的旋转，校正到模拟滤波器的输入信号中生成的频率偏差。附图说明图1是示出根据实施例的概述的分解器校正装置的结构的框图。图2是示出根据第一实施例的控制器的结构的框图。图3是示出根据第一实施例的差分放大电路的结构的一个示例的电路图。图4是示出根据第一实施例的移相器的结构的一个示例的电路图。图5是示出根据第一实施例的加法器的结构的一个示例的电路图。图6是示出根据第一实施例的相位差检测器的结构的一个示例的电路图。图7是示出根据第一实施例的频率乘法器的结构的一个示例的电路图。图8是示出根据第一实施例的频率乘法器的操作波形的视图。图9是示出根据第一实施例的频率误差校正单元的结构的一个示例的电路图。图10是示出根据第一实施例的调整器的结构的一个示例的电路图。图11是示出根据第二实施例的分解器校正装置的结构的框图。图12是示出根据第二实施例的温度检测电路的结构的一个示例的电路图。图13是示出根据第二实施例的调整器的结构的一个示例的电路图。图14是示出根据第二实施例的温度检测电路701的操作波形的视图。具体实施方式出于更清楚描述的目的，适当省略和缩简以下描述和附图。另外，能够通过作为硬件的CPU、存储器、和其它电路形成并且通过作为软件的加载到存储器中的程序实现附图中描述的作为执行各种处理的功能块的每个元件。因此，本领域技术人员理解能够仅通过硬件、仅通过软件、或通过它们的组合实现这些功能块，并且不限于它们中的一个。在附图中，将相同的参考标号赋予相同的元件，并且根据需要省略重复的描述。(实施例的概述)图1是示出根据一个实施例的分解器校正装置的结构的框图。在图1中，分解器校正装置100包括移相器101、加法器102、频率误差校正单元103、和调整器104。移相器101偏移从通过载波频率fc的激励信号激励的分解器检测的、至少具有两个以上相位的信号中的第一相位信号的相位。另外，移相器101基于稍后描述的调整量调整相位偏移量。加法器102将由移相器101相位偏移的第一相位信号和没有相位偏移的第二相位信号相加。然后，加法器102输出相加的信号作为相位调制信号。频率误差校正单元103基于分解器的相位调制信号与激励信号之间的相位差生成相位差校正信号。调整器104基于在频率误差校正单元103中生成的相位差校正信号计算移相器101的调整量。因此，根据基于没有相位偏移的激励信号和通过移相器复制件相位偏移的激励信号之间的相位差，以及分解器的相位调制信号和激励信号之间的相位差的相位差校正信号，根据实施例的概述的分解器校正装置调整移相器101的相位偏移量，因此以能够校正根据分解器的转子的旋转的在到模拟滤波器的输入信号中生成的频率偏差。第一实施例在第一实施例中，将会描述已经在实施例的概述中描述的分解器校正装置100的详细的结构和使用分解器校正装置100的电动机的控制器。首先，将会描述信号处理器中的部件的每个功能和根据第一实施例的控制器。图2是示出根据第一实施例的控制器的结构的框图。在图2中，控制器200包括RDC电路300、计数器电路400、微计算机控制器500、和电源电路600。控制器200根据来自分解器201的信号控制电动机202的旋转。分解器201和电动机202与固定到旋转轴203的它们的转子部分一起旋转。分解器201进一步包括激励线圈204、检测线圈205、和检测线圈206。激励线圈204是用于根据输入电子信号生成磁场的线圈。检测线圈205和206是用于检测磁场中的波动并且将该磁场中的波动作为电信号输出的线圈。在分解器201中，将激励线圈204和检测线圈205和206布置在定子部分中，并且根据转子部分的旋转检测磁场中的波动。无论什么分解器将会如分解器201一样进行只要其能够利用至少具有两个以上相位的电信号根据转子的旋转，检测磁场中的波动；例如，利用转子部分中布置的激励线圈204和定子部分中布置的检测线圈205和206，可以根据转子部分的旋转检测磁场中的波动。由于检测线圈205和206被布置为具有预定角度，所以检测线圈205和206检测磁场中的波动作为互相具有不同相位的信号。例如，当以90°的角布置检测线圈205和206时，检测信号205检测正弦波以及检测线圈206检测余弦波。将会描述RDC电路300的结构。RDC电路300包括激励电路301、差分放大电路302、差分放大电路303、移相器复制件304、相位差检测器305、移相器101、和加法器102。激励电路301生成具有通过对参考时钟信号分频获得的频率fc的正弦波的激励信号，并且将激励信号输出到分解器201的激励线圈204和移相器复制件304。差分放大电路302放大由检测线圈205检测的信号并且将以上信号输出到移相器101。另外，差分放大电路303放大由检测线圈206检测的信号并且将以上输出到加法器102。加法器102将通过移相器101相位偏移的第一相位信号和没有相位偏移的第二相位信号相加。加法器102将相加的信号输出到CLK同步电路403。移相器复制件304偏移分解器中的激励信号的相位。在相同操作条件下，移相器复制件304的相位偏移量与移相器101的相位偏移量相同。移相器复制件304将相位偏移的激励信号输出到相位差检测器305。相位差检测器305检测没有相位偏移的激本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分解器校正装置，相关于通过由载波频率fc的激励信号激励的分解器检测到的至少具有两个以上的相位的信号，所述分解器校正装置包括：移相器，所述移相器偏移所述分解器的第一相位信号的相位；加法器，在所述激励信号按照所述分解器中的转子的旋转角度来被调制的情况下，所述加法器将被相位偏移的所述第一相位信号和第二相位信号相加作为相位调制信号；频率误差校正单元，所述频率误差校正单元基于在所述分解器的所述相位调制信号与所述激励信号之间的相位差，来生成相位差校正信号；以及调整器，所述调整器基于所述相位差校正信号，来计算所述移相器的调整量，其中，所述移相器根据所述调整量，来调整相位偏移量。

【技术特征摘要】
2016.08.23 JP 2016-1627421.一种分解器校正装置，相关于通过由载波频率fc的激励信号激励的分解器检测到的至少具有两个以上的相位的信号，所述分解器校正装置包括：移相器，所述移相器偏移所述分解器的第一相位信号的相位；加法器，在所述激励信号按照所述分解器中的转子的旋转角度来被调制的情况下，所述加法器将被相位偏移的所述第一相位信号和第二相位信号相加作为相位调制信号；频率误差校正单元，所述频率误差校正单元基于在所述分解器的所述相位调制信号与所述激励信号之间的相位差，来生成相位差校正信号；以及调整器，所述调整器基于所述相位差校正信号，来计算所述移相器的调整量，其中，所述移相器根据所述调整量，来调整相位偏移量。2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述调整器基于所述相位差校正信号以及根据所述移相器中的温度变化的所述相位偏移量的变化量，来计算所述移相器的所述调整量。3.根据权利要求2所述的装置，进一步包括：移相器复制件，所述移相器复制件能够按照与基于所述调整量的所述移相器相同的相位偏移量，来偏移所述分解器的所述激励信号的所述相位；以及相位差检测器，所述相位差检测器检测在所述激励信号和通过所述移相器复制件进行相位偏移的所述激励信号之间的相位差，其中，所述调整器基于通过所述相位差检测器检测到的所述相位差以及所述相位差校正信号，来计算所述移相器的所述调整量。4.根据权利要求3所述的装置，进一步包括：分解器，所述分解器包括激励线圈和多个检测线圈；激励电路，所述激励电路生成激励信号并且将所述激励信号施加到所述激励线圈；以及差分放大电路，所述差分放大电路对通过所述检测线圈检测到的相位信号进行差分放大，并且至少输出第一相位信号和第二相位信...

【专利技术属性】
技术研发人员：池永佳史，
申请(专利权)人：瑞萨电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP