一种键盘检测设备制造技术

技术编号:17391975 阅读:42 留言:0更新日期:2018-03-04 16:05
本实用新型专利技术键盘检测设备包括控制装置、驱动装置、第一测试部以及第二测试部,该控制装置控制该第一测试部以第一力击打该第一按键,该驱动装置用于控制该第二测试部以第二力击打该第一按键,测试该第一按键,且该第一测试部和该第二测试部可分别击打该第一按键,该第一力的大小不同于该第二力的大小,如此既可以以该第一力测试该第一按键,亦可以以该第二力测试该按键,不同的力对应测试不同的项目,实现键盘检测设备可以对该第一按键的多个项目的检测,方便、快捷,结构简单,易操作,且成本较低。

【技术实现步骤摘要】
一种键盘检测设备
本技术涉及电子元件检测设备领域,尤其涉及一种检测键盘按键的新型键盘检测设备。
技术介绍
键盘是最常用也是计算机系统中最主要的输入设备,通过敲打键盘上的按键使触电导通断电,从而将字母、数字、标点符号等输入到计算机中。目前,键盘生产中,对成品进行质量检测时,需要对每一个按键进行击打,测试其回弹和触点的通断,击打时力度要适中,行程要一致,施力和撤力要在瞬间完成。现有键盘测试设备,通过电磁阀的通断,来控制一颗砝码,通过将砝码击打到第一按键上来测试信号,判断第一按键与键盘的电路板的电路开关是否对应导通,其检测功能比较单一,只能测试按键的开/关功能。因此,有必要设计一种新的键盘检测设备,以克服上述缺陷。需要说明的是,“
技术介绍
”段落只是用来帮助了解本
技术实现思路
,因此在“
技术介绍
”段落所揭露的内容可能包含一些没有构成所属
中普通技术人员所知道的公知技术。在“
技术介绍
”段落所揭露的内容,不代表该内容或者本技术一个或多个实施例所要解决的问题,也不代表在本技术申请前已被所属
中普通技术人员所知晓或认知。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种键盘检测设备,可对同一按键进行至少两种项目的测试。为达到上述目的,本技术提供了一种键盘检测设备,用于测试键盘的第一按键,该键盘检测设备包括,控制装置;驱动装置;第一测试部,与该控制装置连接,藉由该控制装置的控制实现移动,以第一力击打该第一按键;第二测试部,与该驱动装置连接,藉由该驱动装置实现移动,以第二力击打该第一按键,该第二测试部具有通孔,该第一测试部穿设该通孔,且该第二测试部和该第一测试部可相对移动;其中,该第一力的大小不等于该第二力的大小,该第一测试部和该第二测试部可分别击打该第一按键以检测该第一按键的不同参数,且当该第一测试部进行测试时,该第一测试部于该第二测试部内自由移动。较佳的,该第一力的大小大于该第二力的大小。较佳的,该第一测试部的重量大于该第二测试部的重量从而使该第一力大于该第二力。较佳的,该第一测试部包括相连的第一部和第二部,该第一部和该第二部沿该第一方向分布,该第二部穿设于该通孔内,该第一测试部还包括沿该第一方向的相对的第一端和第二端,该第一端位于该第一部,该第一端与该控制装置连接,该第二端位于该第二部上,该第二端用于击打该第一按键,该第一部和该第二测试部之间具有间距,以提供该第一测试部相对该第二测试部移动以击打该第一按键的空间,其中,该第一方向为该第一测试部移动击打该第一按键的方向,该第二方向垂直于该第一方向。较佳的,该第二测试部沿该第一方向具有相对的第三端和第四端,该第三端与该驱动装置连接,该第四端用于击打该第一按键。较佳的,当该第一测试部击打该第一按键时,该第二端凸出该第四端,以藉由该第二端击打该第一按键,当该第二测试部击打该第一按键时,该第四端凸出该第二端,以藉由该第四端击打该第一按键。较佳的,该控制装置控制该第一测试部进行自由落体运动以击打该第一按键。较佳的,该键盘检测设备还包括导向结构,该导向结构用于导引该第一测试部沿该第一方向移动,该第一方向为该第一测试部移动击打该第一按键的方向。较佳的,一个该第一测试部和一个该第二测试部构成一个测试组,该键盘检测设备包括多个测试部,以同时测试多个第一按键。较佳的,该第一测试部藉由拉钩或者弹性元件与该控制装置连接。较佳的,该键盘检测设备用于对该第一按键进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目测试,其中,该第一测试部用于对该第一按键进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目中的至少其中的一个项目进行测试,该第二测试部用于对该第一按键进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目中的至少其中的一个项目进行测试,且该第一测试部测试的项目与该第二测试部测试的项目不相同。较佳的,该控制装置为电磁阀,该第一测试部为实心砝码,该第二测试部为空心砝码,该驱动装置为可移动导向板。与现有技术相比,本技术提供一种键盘检测设备,包括控制装置、驱动装置、第一测试部以及第二测试部,该控制装置控制该第一测试部以第一力击打该第一按键,该驱动装置用于控制该第二测试部以第二力击打该第一按键,测试该第一按键,且该第一测试部和该第二测试部可分别击打该第一按键,该第一力的大小不同于该第二力的大小,如此既可以以该第一力测试该第一按键,亦可以以该第二力测试该按键,不同的力对应测试不同的项目,实现键盘检测设备可以对该第一按键的多个项目的检测,方便、快捷,结构简单,易操作,且成本较低。附图说明图1为本技术实施例的键盘检测设备100的结构示意图。图2为本技术实施例的键盘检测设备100的剖面结构示意图。具体实施方式为使对本技术的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解,兹配合实施例详细说明如下。在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的元件。所属领域中具有通常知识者应可理解,制造商可能会用不同的名词来称呼同一个元件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区分元件的方式,而是以元件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及权利要求当中所提及的「包括」为开放式的用语,故应解释成「包括但不限定于」。图1为本技术实施例的键盘检测设备100的结构示意图,图2为本技术实施例的键盘检测设备100的剖面结构示意图。如图1和图2所示,键盘检测设备100用于测试键盘的第一按键200,例如,对第一按键200进行键硬、键软、灵敏度(包括不灵敏和过灵敏)、死键以及键的开/关功能等情况进行检测。说明的是,第一按键200可以为任何电子装置上的按键,例如为键盘、投影装置、显示装置、平板电脑、手机、游戏机、智能手表上的按键,但不以此为限。键盘检测设备100包括控制装置11、驱动装置12、第一测试部13以及第二测试部14,控制装置11用于控制第一测试部13以第一力击打第一按键200,以测试第一按键200,例如测试第一按键200的键硬,驱动装置12用于控制第二测试部14以第二力击打第一按键200,测试第一按键200,例如测试第一按键200的键软,且第一测试部13和第二测试部14可分别击打第一按键200,且该第一力的大小不同于该第二力的大小,则第一测试部13可用于对第一按键200进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目中的至少其中的一个项目进行测试,第二测试部14可用于对第一按键200进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目中的至少其中的一个项目进行测试,且该第一测试部测试的相对与该第二测试部测试的项目不相同,如此既可以以该第一力测试第一按键200,亦可以以该第二力测试该按键,不同的力对应测试不同的项目,实现键盘检测设备100可以对第一按键200的多个项目的检测,并且,在第一测试部13和第二测试部14分别对第一按键200进行检测时,第一按键200无需移动位置,即在第一测试部13测试完第一按键200后,无需再移动第一按键200的位置,便可以通过第二测试部14测试第一按键200,方便快捷;此外,本技术键盘检测设备100藉由两个不同的测试部实现以两个不同的力测试第一按键200,相较于采用同一测试部实现以两种不同的力测试第一按键200的结构设备,本技术结构更为简单,易控制、操作,且成本文档来自技高网...
一种键盘检测设备

【技术保护点】
一种键盘检测设备,用于测试键盘的第一按键,其特征在于,该键盘检测设备包括,控制装置;驱动装置;第一测试部,与该控制装置连接,藉由该控制装置的控制实现移动,以第一力击打该第一按键;以及第二测试部,与该驱动装置连接,藉由该驱动装置实现移动,以第二力击打该第一按键,该第二测试部具有通孔,该第一测试部穿设该通孔,且该第二测试部和该第一测试部可相对移动;其中,该第一力的大小不等于该第二力的大小,该第一测试部和该第二测试部可分别击打该第一按键以检测该第一按键的不同参数,且当该第一测试部进行测试时,该第一测试部于该第二测试部内自由移动。

【技术特征摘要】
1.一种键盘检测设备,用于测试键盘的第一按键,其特征在于,该键盘检测设备包括,控制装置;驱动装置;第一测试部,与该控制装置连接,藉由该控制装置的控制实现移动,以第一力击打该第一按键;以及第二测试部,与该驱动装置连接,藉由该驱动装置实现移动,以第二力击打该第一按键,该第二测试部具有通孔,该第一测试部穿设该通孔,且该第二测试部和该第一测试部可相对移动;其中,该第一力的大小不等于该第二力的大小,该第一测试部和该第二测试部可分别击打该第一按键以检测该第一按键的不同参数,且当该第一测试部进行测试时,该第一测试部于该第二测试部内自由移动。2.如权利要求1所述的键盘检测设备,其特征在于,该第一力的大小大于该第二力的大小。3.如权利要求1所述的键盘检测设备,其特征在于,该第一测试部的重量大于该第二测试部的重量,从而使该第一力大于该第二力。4.如权利要求1所述的键盘检测设备,其特征在于,该第一测试部包括相连的第一部和第二部,该第一部和该第二部沿第一方向分布,该第二部穿设于该通孔内,该第一测试部还包括沿该第一方向的相对的第一端和第二端,该第一端位于该第一部,该第一端与该控制装置连接,该第二端位于该第二部上,该第二端用于击打该第一按键,该第一部和该第二测试部之间具有间距,以提供该第一测试部相对该第二测试部移动以击打该第一按键的空间,其中,该第一方向为该第一测试部移动击打该第一按键的方向。5.如权利要求4所述的键盘检测设备,其特征在于,该第二测试部沿该第一方向具有相对的第三端和第四端,该第三端与该驱动装置连接,该第四端用于击打...

【专利技术属性】
技术研发人员:华叙国王振亭
申请(专利权)人:苏州达方电子有限公司
类型:新型
国别省市:江苏,32

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