一种探测器光谱测量方法技术

本发明专利技术公开了一种探测器光谱测量方法，通过LED光源特征量预先测定、探测器特征量预先测定、变电流测量、分析过程、输出结果等步骤，实现了一种利用单探测器的LED混合光谱测量方法。本发明专利技术不仅可以通过测量更多组实验数据、通过减小测量随机误差来提高测量精度，还可以通过选用更高级的算法来进一步提高其测量精度。与通常的光谱测量系统比较，不仅具有硬件结构的优势，减少了现有系统的结构组件，使得成本与系统体积大大降低，而且软件算法部分可以不断升级，使得产品性能更强、应用更广泛。

A method of detector spectral measurement

The invention discloses a detector spectral measurement method. A LED mixed spectrum measurement method using single detector is realized by pre measuring the characteristic parameters of LED light source, pre measuring the characteristic quantity of the detector, changing the current measurement, analyzing the process and outputting results. The invention can not only improve the measurement accuracy by measuring more group experimental data, but also reduce the random error of measurement, and further improve the measurement accuracy by selecting a more advanced algorithm. Compared with the usual spectral measurement system, it not only has the advantage of hardware structure, but also reduces the components of the existing system, greatly reduces the cost and the volume of the system. Moreover, the software algorithm can be upgraded continuously, making the product more powerful and widely applied.

【技术实现步骤摘要】
一种探测器光谱测量方法
本专利技术涉及一种探测器光谱测量方法，属于光电测量领域。
技术介绍
目前光谱测量通常采用两种方法：一是采用单色仪先对光源分光后再用探测器逐个测量单色光的响应，二是通过色散分光后直接通过线阵或面阵探测器一次测量得到光谱，但这两种光谱测量方法均存在测量成本高的缺点。近年来，LED作为一种稳定光源得到越来越广泛的应用，但在光谱测量应用中，LED光源的应用受到限制，这是因为LED光谱具有一定宽度，不能作为理想的单色光应用，同时，LED光谱的宽度又比较窄，难以适合宽光谱的应用需求。如果能够通过1个或数个LED与1个探测器直接实现光谱测量，必将大大降低光谱测量的成本，也有利于提高测量的稳定性。LED的发光强度与工作电流i存在一定的对应关系，一般情况下可近似认为与波长无关，总发光强度与电流i成正比，但我们通过研究发现，LED的发光强度与工作电流i不是严格线性关系，而是存在一个与其波长及工作电流i均相关的对应关系。
技术实现思路
针对目前单个探测器不能直接测量复合光光谱的问题，本专利技术提供了一种探测器光谱测量方法。为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案为：一种探测器光谱测量方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探测器光谱测量方法，其步骤包括：A、光源特征量预先测定：采用单个或多个LED作为光源，光源的发光强度用函数P(λ)*I(λ，i)*i表示，波长λ的取值分别为L1、L2、...、LN，N为大于1的自然数，其中，i是工作电流大小，N阶数组P(λ)为LED单位工作电流(i＝1mA)下的发光强度，N*M阶数组I(λ，i)为LED的工作电流i对应的波长因子，其中，定义I(λ，1mA)＝1 1...1，N个1，N为波长λ的个数，M代表不同工作电流i的取值个数，M为大于1的自然数，M大于等于N，则N*M阶数组

【技术特征摘要】
1.一种探测器光谱测量方法，其步骤包括：A、光源特征量预先测定：采用单个或多个LED作为光源，光源的发光强度用函数P(λ)*I(λ，i)*i表示，波长λ的取值分别为L1、L2、...、LN，N为大于1的自然数，其中，i是工作电流大小，N阶数组P(λ)为LED单位工作电流(i＝1mA)下的发光强度，N*M阶数组I(λ，i)为LED的工作电流i对应的波长因子，其中，定义I(λ，1mA)＝11...1，N个1，N为波长λ的个数，M代表不同工作电流i的取值个数，M为大于1的自然数，M大于等于N，则N*M阶数组B、探测器特征量预先测定：采用单个探测器，探测器对光谱的响应函数为N阶数组X(λ)，其中，X(λ)＝X(L1)、X(L2)、...、X(LN)，波长λ的取值分别为L1、L2、....

【专利技术属性】
技术研发人员：张开骁，雷撼，张爱梅，邹华，
申请(专利权)人：河海大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32