一种发光器件的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种发光器件的检测装置，其特征是：包括机体，所述的机体设有用于承载发光器件工作台、用于和发光器件电极接触的测试探针、对工作台上发光器件位置进行扫描识别的扫描视觉系统、驱使工作台与测试探针相互靠近以使得探针与发光器件电极接触的控制系统，所述的机体设有驱使扫描视觉组件靠近工作台的运动机构，可以使扫描视觉系统靠近工作台，以减少扫描视觉系统与测试探针之间的距离，从而提升扫描视觉系统的扫描准确性。

A detection device for light emitting devices

The utility model discloses a device for detecting the light emitting device, which is characterized by comprising a body, wherein the body is provided with a light emitting device for carrying the table, used for emitting device and electrode contact test probes, on the table light emitting device position scanning scanning vision system, driven by the worktable and the test probe close to each other so that the probe and the light emitting device electrode contact control system, the machine body is provided with a moving mechanism driven by scanning visual component is near the table, can make scanning vision system near the table, in order to reduce the scanning between the vision system and test probe distance, so as to enhance the accuracy of scanning scanning vision system.

【技术实现步骤摘要】
一种发光器件的检测装置
本技术涉一种发光器件的检测装置。
技术介绍
有一种发光元器件如图1所示，电极面与发光面在同一平面上；发光器件的检测装置通过运动机构使其电极与相应的测试针接触，施加相应的电流后，点亮发光元器件，测试其光参数及电压值。在同时对多个发光器件进行检测时，需要通过扫描视觉系统对每个发光器件的位置进行扫描，以获取每个发光器件的位置，从而控制承载发光器件的工作平台以及探针运动，使得发光器件的电极与探针进行接触，完成对发光器件的检测。然而现有技术中发光器件的检测装置中的扫描视觉系统是固定不动的，如果扫描视觉系统距离发光器件的位置较远的时候，扫描视觉系统所扫描所获得位置信息会不准确，导致检测到的位置信息与实际位置不符，不利于检测装置的高效运行。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本技术的目的在于提供一种发光器件的检测装置，可以使扫描视觉系统靠近工作台，以减少扫描视觉系统与测试探针之间的距离，从而提升扫描视觉系统的扫描准确性。为实现上述目的，本技术提供了如下技术方案：一种发光器件的检测装置，包括机体，所述的机体设有用于承载发光器件工作台、用于和发光器件电极接触的测试探针、对工作台上发光器件位置进行扫描识别的扫描视觉系统、驱使工作台与测试探针相互靠近以使得探针与发光器件电极接触的控制系统，所述的机体设有驱使扫描视觉组件靠近工作台的运动机构。通过采用上述技术方案，扫描视觉系统在运动机构的作用之下靠近工作台，提升扫描视觉系统扫描识别发光器件时的准确性，扫描视觉机构将发光器件的位置信息传送至控制系统，控制系统对信息进行分析计算之后控制工作台或者探针运动，使探针和工作台相互靠近，最终使得探针与发光器件的电极接触，获取发光器件的光参数以及电压值；其中运动机构驱使扫描视觉系统的运行方向可以竖直朝向工作台，也可以倾斜朝向工作台，还包括驱使扫描视觉机构水平运动，从而运行至工作台的正上方，使相互之间的距离缩短；探针与发光器件的电极接触的过程，可以通过单独驱使探针运动，也可单独驱使工作台运动，当然也可以使两者同时运动实现相互靠近。本技术进一步设置为：所述的运动机构包括设置于机体上的导轨和可滑移安装于导轨的滑架，所述的扫描视觉系统固定于滑架。通过采用上述技术方案，导轨限定滑架的运动方向，使滑架上固定的扫描视觉系统可以准确稳定的运行，其中滑架相对于导轨的运动可以采用一些驱动机构驱动，也可采用手动推送滑架，使扫描视觉系统运行到相应位置。本技术进一步设置为：所述的运动机构包括驱动扫描视觉系统在导轨上滑动的驱动组件。通过采用上述技术方案，优选采用驱动组件进行驱动，增加了发光器件的检测装置的自动化程度，使发光器件的检测装置的运行更加高效准确的运行，驱动组件的形式可以采用电机通过丝杠驱动，或油缸驱动，或气缸驱动。本技术进一步设置为：所述的驱动组件为固定于机架的气缸，气缸的气缸轴与滑架相连。通过采用上述技术方案，采气缸驱动滑架滑移，可以实现扫描视觉系统快速的到位与回位，驱动结构较为简单。本技术进一步设置为：所述的运动机构包括行程开关，所述的行程开关位于导轨靠近工作台的一端。通过采用上述技术方案，行程开关的设置用于限制扫描视觉系统的极限位置，使扫描视觉系统准确运行到位。本技术进一步设置为：所述的扫描视觉系统包括显微镜组件和安装于显微镜组件用于对显微镜放大后的图像进行识别的扫描视觉组件。通过采用上述技术方案，扫描视觉组件与显微镜组件进行结合，显微镜组件将工作台的发光器件进行放大，扫描视觉系统根据放大后的图像进行扫描识别，既满足显微镜观察的功能，又满足短行程的扫描，提升精度；其中显微镜组件位于下方，扫描视觉系统在运动机构运动至工作台上方，使扫描视觉组件准确的识别发光器件。本技术进一步设置为：所述的机体固定有观察显微镜，所述观察显微镜的物镜朝向工作台。通过采用上述技术方案，观察显微镜与扫描视觉系统分离设置，扫描视觉系统在运动机构的驱动之下，并不影响操作人员随时对发光器件进行观察。本技术进一步设置为：所述的工作台上设置有探针清洁装置以及用于对探针进行打磨的打磨组件。通过采用上述技术方案，探针的头部在长期使用的时候容易沾染污垢或发生锈蚀，通过打磨组件进行打磨以及探针清洗装置进行清洗，清楚掉探针上附着的一些影响导电效果的物质，使探针在和电极进行接触的时候，可以具有较好的导电效果，使检测结果更加精确。本技术进一步设置为：所述的打磨组件包括设置于工作台的磨块，所述的磨块的外侧面贴附有砂纸。通过采用上述技术方案，磨块随工作台的运动而运动，在需要对探针进行打磨的时候，控制工作台运动，使磨块外侧面贴附的砂纸与探针进行摩擦，擦除表面锈蚀的部分以及其他污垢。本技术进一步设置为：所述的机体设有吹气装置，所述吹气装置的出气口朝向工作台。通过采用上述技术方案，测试过程中，由于探针以及发光器件的表面沾污，需要定期清洁，保证测试的准确性，可以定期移动到探针清洁位置，通过吹气及清洁装置进行清洁。与现有技术相比，本技术的有益效果是：通过运动机构驱动扫描视觉靠近工作台，从而增加扫描视觉系统识别的准确性，从而使探针可以准确的与发光器件的电极接触。附图说明图1为发光器件的结构示意图；图2为实施例一的结构示意图；图3为实施例一中工作台的结构示意图图4为实施例一发光器件的检测装置背面的结构示意图；图5为实施例一中运动机构和扫描视觉系统的结构示意图；图6为实施例二的结构示意图。附图标记：1、机体；2、工作台；21、探针清洗装置；22、打磨组件；23、固定架；24、磨块；3、探针测试组件；31、探针；4、扫描视觉系统；41、扫描视觉组件；42、显微镜组件；5、光参数测试组件；6、运动机构；61、底座；62、导轨；63、滑架；64、行程开关；65、气缸；7、观察显微镜；8、吹气装置。具体实施方式实施例一：如图2所示，一种发光器件的检测装置，包括机体1，在机体1设置有工作台2、探针测试组件3、扫描视觉系统4、光参数测试组件5、控制系统。如图2、图3所示，工作台2可沿X轴、Y轴、Z轴运动，工作台2的作用在于承载发光器件，本实施例所指的发光器件可以为led芯粒，若干个发光器件放置于工作台2后随工作台2在X、Y、Z轴方向运动；如图3所示，在工作台2上安装有打磨组件22和探针清洁装置21，用于对探针31上的污垢或其他影响导电的物质进行去除；打磨组件22包括固定于工作台2的固定架23，固定架23上固定有圆形的磨块24，在磨块24的圆周面贴附有砂纸，磨块24会随工作台2的运动而运动；探针清洗装置21的结构可以采用公告号为CN103316865B所公开的结构。如图2、图4、图5所示，扫描视觉组件41用于对工作台2上放置的若干发光器件进行扫描识别，扫描视觉组件41将若干发光器件的位置信息发送至控制系统，由控制系统控制工作台2以及探针31的运动。在机体1上设置了驱动扫描视觉系统4靠近工作台2或远离工作台2的运动机构6，运动机构6包括底座61，在底座61上安装有水平设置的导轨62，导轨62沿圆形工作台2的径向设置，导轨62上设置有可滑动的滑架63，扫描视觉系统4固定于滑架63，在底座61靠近工作台2的一端安装有行程开关64，用于控制扫描视觉系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种发光器件的检测装置，其特征是：包括机体，所述的机体设有用于承载发光器件工作台、用于和发光器件电极接触的测试探针、对工作台上发光器件位置进行扫描识别的扫描视觉系统、驱使工作台与测试探针相互靠近以使得探针与发光器件电极接触的控制系统，所述的机体设有驱使扫描视觉组件靠近工作台的运动机构。

【技术特征摘要】
1.一种发光器件的检测装置，其特征是：包括机体，所述的机体设有用于承载发光器件工作台、用于和发光器件电极接触的测试探针、对工作台上发光器件位置进行扫描识别的扫描视觉系统、驱使工作台与测试探针相互靠近以使得探针与发光器件电极接触的控制系统，所述的机体设有驱使扫描视觉组件靠近工作台的运动机构。2.根据权利要求1所述的发光器件的检测装置，其特征是：所述的运动机构包括设置于机体上的导轨和可滑移安装于导轨的滑架，所述的扫描视觉系统固定于滑架。3.根据权利要求2所述的发光器件的检测装置，其特征是：所述的运动机构包括驱动扫描视觉系统在导轨上滑动的驱动组件。4.根据权利要求3所述的发光器件的检测装置，其特征是：所述的驱动组件为固定于机架的气缸，气缸的气缸轴与滑架相连。5.根据权利要求4所述的发光器件的检测装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘振辉，沈杰，杨波，
申请(专利权)人：深圳市矽电半导体设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44