温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型公开了一种发光器件的检测装置，其特征是：包括机体，所述的机体设有用于承载发光器件工作台、用于和发光器件电极接触的测试探针、对工作台上发光器件位置进行扫描识别的扫描视觉系统、驱使工作台与测试探针相互靠近以使得探针与发光器件电极接触的...
该专利属于深圳市矽电半导体设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市矽电半导体设备有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。