【技术实现步骤摘要】
一种基于机器视觉的Mura缺陷检测方法及系统
本专利技术属于液晶屏显示缺陷检测
,具体涉及一种基于机器视觉的Mura缺陷检测方法及系统。
技术介绍
近年来,由于液晶屏广泛应用于个人电脑、桌面显示器、液晶电视、手持设备如手机、移动设备如车载显示等产品,其需求量呈现出爆发式的增长。特别是最近两年,液晶屏分辨率不断提高,尤其是视网膜级的液晶屏的逐渐普及,消费者的体验要求日益苛刻,液晶屏厂商之间的竞争日益激烈,亚像素缺陷检测的需求日益凸显,在液晶屏质量控制中扮演着日益重要的角色。由于目前该行业的检测主要还是依靠人工裸眼检测,检测结果受人主观判别影响较大,视觉疲劳易影响缺陷的检测和分析,并且由于缺陷判断缺乏统一的量化标准,难以保证检测结果的一致性,不利于缺陷的定量分析。机器视觉法通过采集液晶屏图像,利用图像分析算法识别和测量缺陷。由于机器视觉法具有精确性、可重复性、速度快等优点,受到液晶屏制造商的广泛关注。机器视觉法不会产生疲劳效应,可实现非接触式的长时间快速在线缺陷检测。利用机器视觉法替代传统的人工视觉法,为液晶屏缺陷检测研究带来一种全新的思路。因此研究基于机器视觉 ...
【技术保护点】
一种基于机器视觉的Mura缺陷检测方法,其特征在于:所述方法的具体步骤为:S1、图像采集:线阵CCD相机采集液晶屏的灰度图像I,传输至缺陷检测处理设备;S2、预处理:对液晶屏图像I采用梯度阈值的边缘检测法,获取液晶屏的边缘,按边缘分割,得到待检测液晶屏图像P;并对液晶屏图像P进行高斯模糊,得到待处理的图像S;S3、背景消除:对于图像S采用公式一的基于领域信息的背景消除法,获得前景图像M:M(x,y)=|S(x+Δd,y)+S(x‑Δd,y)+S(x,y+Δd)+S(x,y‑Δd)‑4M(x,y)|公式一其中x,y表示图像中像素点的二维坐标,Δd是增强边缘的宽度;S4、二值化 ...
【技术特征摘要】
1.一种基于机器视觉的Mura缺陷检测方法,其特征在于:所述方法的具体步骤为:S1、图像采集:线阵CCD相机采集液晶屏的灰度图像I,传输至缺陷检测处理设备;S2、预处理:对液晶屏图像I采用梯度阈值的边缘检测法,获取液晶屏的边缘,按边缘分割,得到待检测液晶屏图像P;并对液晶屏图像P进行高斯模糊,得到待处理的图像S;S3、背景消除:对于图像S采用公式一的基于领域信息的背景消除法,获得前景图像M:M(x,y)=|S(x+Δd,y)+S(x-Δd,y)+S(x,y+Δd)+S(x,y-Δd)-4M(x,y)|公式一其中x,y表示图像中像素点的二维坐标,Δd是增强边缘的宽度;S4、二值化:对前景图M采用阈值μ进行阈值化,获得二值图像B;S5、去噪:基于形态学滤波的去噪方法,得到去噪图像BW;S6、缺陷判定:对二值图像BW统计连通域面积,如果面积大于设定的检测阈值T则认为该处存在缺陷,否则认为是噪声点。2.根据权利要求1所述的基于机器视觉的Mura缺陷检测方法,其特征在于:所述步骤S4中,对图像M按像素值255~0进行直方图统计,使不超过1%的定义为缺陷或者噪声点,得到阈值μ。3.根据权利要求1、2任一项所述的基于机器视觉的Mura缺陷检测方法,其特征在于:所述步骤S2中,采用3*3的模板大...
【专利技术属性】
技术研发人员:钱基德,钱基业,陈斌,王佐才,陈刚,吴强,李科,张衡,
申请(专利权)人:中科院成都信息技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:四川,51
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