【技术实现步骤摘要】
一种用于测距控制电路的检测装置
本技术涉及激光测距
,具体涉及一种用于测距控制电路的检测装置。
技术介绍
在激光测距领域,对测距控制电路进行全面的性能测试,对保证产品的质量及提高生产效率具有重要意义。以前在进行测距控制电路测试时,一般根据激光测距的电路原理,通过搭建光学系统,将测距必须的激光器组件、探测器组件、接收放大电路连接到测距控制电路,通过实际测距产生的取样和回波信号进行电路测试。这样,检测装置昂贵复杂,一般需2万多元;测试必须在具有合适目标的场所进行,且容易受外界天气等干扰,测试准确度较差,容易误测;需要连接的接口多,测距时的装置的瞄准等操作麻烦,效率较低。
技术实现思路
为解决上述缺陷,本技术的目的是提供一种用于测距控制电路的检测装置,结构简单,设计合理,不仅有效提高了测试效率和测试的准确度,而且降低了测试成本,对保证产品的质量及提高生产效率具有重要意义。为达到上述目的,本技术采用的技术方案是:一种用于测距控制电路的检测装置,包括与非门施密特触发器74LS132、双单稳态多谐振荡器74LS221、移位寄存器74LS164及5M晶振,测距控制电路的电源输出端 ...
【技术保护点】
一种用于测距控制电路的检测装置,其特征在于:包括与非门施密特触发器74LS132、双单稳态多谐振荡器74LS221、移位寄存器74LS164及5M晶振,测距控制电路的电源输出端输出电压供给所述双单稳态多谐振荡器74LS221和移位寄存器74LS164使用,所述5M晶振的时钟信号经过C2处理后,为所述移位寄存器74LS164提供移位时钟;所述测距控制电路的增益控制信号AGC输出端与所述与非门施密特触发器74LS132连接,所述与非门施密特触发器74LS132接收到的AGC信号经过反相后连接RC延时电路,所述RC延时电路经过两次反相后输出第一取样信号QY,所述第一取样信号QY通 ...
【技术特征摘要】
1.一种用于测距控制电路的检测装置,其特征在于:包括与非门施密特触发器74LS132、双单稳态多谐振荡器74LS221、移位寄存器74LS164及5M晶振,测距控制电路的电源输出端输出电压供给所述双单稳态多谐振荡器74LS221和移位寄存器74LS164使用,所述5M晶振的时钟信号经过C2处理后,为所述移位寄存器74LS164提供移位时钟;所述测距控制电路的增益控制信号AGC输出端与所述与非门施密特触发器74LS132连接,所述与非门施密特触发器74LS132接收到的AGC...
【专利技术属性】
技术研发人员:邱广仁,陈世良,唐磊,封俊宝,高吉珍,王海泉,
申请(专利权)人:河南中光学集团有限公司,
类型:新型
国别省市:河南,41
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