一种用于测距控制电路的检测装置制造方法及图纸

技术编号:17221427 阅读:39 留言:0更新日期:2018-02-08 09:26
本实用新型专利技术公开了一种用于测距控制电路的检测装置,包括与非门施密特触发器74LS132、双单稳态多谐振荡器74LS221、移位寄存器SN74LS16及5M晶振,测距控制电路的电源输出端输出电压供给所述双单稳态多谐振荡器74LS221、移位寄存器SN74LS164及使用,所述5M晶振的时钟信号经过C2处理后,为所述移位寄存器SN74LS164提供移位时钟;所述测距控制电路的增益控制信号AGC输出端与所述与非门施密特触发器74LS132连接。与现有技术相比,本实用新型专利技术不仅有效提高了测试效率和测试的准确度,而且降低了测试成本,对保证产品的质量及提高生产效率具有重要意义。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测距控制电路的检测装置
本技术涉及激光测距
,具体涉及一种用于测距控制电路的检测装置。
技术介绍
在激光测距领域,对测距控制电路进行全面的性能测试,对保证产品的质量及提高生产效率具有重要意义。以前在进行测距控制电路测试时,一般根据激光测距的电路原理,通过搭建光学系统,将测距必须的激光器组件、探测器组件、接收放大电路连接到测距控制电路,通过实际测距产生的取样和回波信号进行电路测试。这样,检测装置昂贵复杂,一般需2万多元;测试必须在具有合适目标的场所进行,且容易受外界天气等干扰,测试准确度较差,容易误测;需要连接的接口多,测距时的装置的瞄准等操作麻烦,效率较低。
技术实现思路
为解决上述缺陷,本技术的目的是提供一种用于测距控制电路的检测装置,结构简单,设计合理,不仅有效提高了测试效率和测试的准确度,而且降低了测试成本,对保证产品的质量及提高生产效率具有重要意义。为达到上述目的,本技术采用的技术方案是:一种用于测距控制电路的检测装置,包括与非门施密特触发器74LS132、双单稳态多谐振荡器74LS221、移位寄存器74LS164及5M晶振,测距控制电路的电源输出端输出电压供给所述双单本文档来自技高网...
一种用于测距控制电路的检测装置

【技术保护点】
一种用于测距控制电路的检测装置,其特征在于:包括与非门施密特触发器74LS132、双单稳态多谐振荡器74LS221、移位寄存器74LS164及5M晶振,测距控制电路的电源输出端输出电压供给所述双单稳态多谐振荡器74LS221和移位寄存器74LS164使用,所述5M晶振的时钟信号经过C2处理后,为所述移位寄存器74LS164提供移位时钟;所述测距控制电路的增益控制信号AGC输出端与所述与非门施密特触发器74LS132连接,所述与非门施密特触发器74LS132接收到的AGC信号经过反相后连接RC延时电路,所述RC延时电路经过两次反相后输出第一取样信号QY,所述第一取样信号QY通过电阻R4传递给移位...

【技术特征摘要】
1.一种用于测距控制电路的检测装置,其特征在于:包括与非门施密特触发器74LS132、双单稳态多谐振荡器74LS221、移位寄存器74LS164及5M晶振,测距控制电路的电源输出端输出电压供给所述双单稳态多谐振荡器74LS221和移位寄存器74LS164使用,所述5M晶振的时钟信号经过C2处理后,为所述移位寄存器74LS164提供移位时钟;所述测距控制电路的增益控制信号AGC输出端与所述与非门施密特触发器74LS132连接,所述与非门施密特触发器74LS132接收到的AGC...

【专利技术属性】
技术研发人员:邱广仁陈世良唐磊封俊宝高吉珍王海泉
申请(专利权)人:河南中光学集团有限公司
类型:新型
国别省市:河南,41

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