一种数字芯片故障检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种数字芯片故障检测电路，待检测数字芯片的VDD引脚经第一霍尔传感器、第一继电器与电源的+5V引脚连接；待检测数字芯片的GND引脚经第二霍尔传感器、第二继电器与电源的GND引脚连接；待检测数字芯片的输入端连接第一多选一开关的输入端，第一多选一开关的输出端连接第二多选一开关的输出端，第二多选一开关的输入端与电源的+5V引脚、GND引脚对应连接；待检测数字芯片的输出端连接第三多选一开关的输入端，第三多选一开关的输出端连接第四多选一开关输出端，第四多选一开关输入端与电源的+5V引脚、GND引脚对应连接；第四多选一开关的输入端还与MCU连接。本实用新型专利技术结构简单、检测速度快、可靠性高。

【技术实现步骤摘要】
一种数字芯片故障检测电路
本技术涉及一种数字芯片故障检测电路。
技术介绍
以74HC00、74HC32为代表的74系列数字芯片，在高校数字电路实验课程中被大量使用。日常教学过程中，由于数字芯片的使用周期长、重复使用率高、学生操作不规范等原因，数字芯片不可避免地会出现各类故障。如果学生使用到故障芯片，将严重影响其课程效果和学习进度。因此，实验课程的任课教师应当在课前剔除故障芯片。传统的芯片故障检测方法是手工检测：检测人员对照数字芯片的逻辑真值表，依次检测待测芯片每一个逻辑门的功能。但是这种方法不但连线复杂，费时费力，而且检测结果的可靠性较低。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术中的不足，提供一种数字芯片故障检测电路，解决现有技术中数字芯片故障检测接线复杂、检测结果可靠性不高、费时费力的技术问题。为解决上述技术问题，本技术所采用的技术方案是：一种数字芯片故障检测电路，包括电源；待检测数字芯片的VDD引脚经第一霍尔传感器、第一继电器与电源的+5V引脚连接；待检测数字芯片的GND引脚经第二霍尔传感器、第二继电器与电源的GND引脚连接；待检测数字芯片的输入端连接第一多选一开关的输入端，第一多选本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数字芯片故障检测电路，其特征在于，包括电源；待检测数字芯片的VDD引脚经第一霍尔传感器、第一继电器与电源的+5V引脚连接；待检测数字芯片的GND引脚经第二霍尔传感器、第二继电器与电源的GND引脚连接；待检测数字芯片的输入端连接第一多选一开关的输入端，第一多选一开关的输出端连接第二多选一开关的输出端，第二多选一开关的输入端与电源的+5V引脚、GND引脚对应连接；待检测数字芯片的输出端连接第三多选一开关的输入端，第三多选一开关的输出端连接第四多选一开关的输出端，第四多选一开关的输入端与电源的+5V引脚、GND引脚对应连接；第四多选一开关的输入端还与MCU连接。

【技术特征摘要】
1.一种数字芯片故障检测电路，其特征在于，包括电源；待检测数字芯片的VDD引脚经第一霍尔传感器、第一继电器与电源的+5V引脚连接；待检测数字芯片的GND引脚经第二霍尔传感器、第二继电器与电源的GND引脚连接；待检测数字芯片的输入端连接第一多选一开关的输入端，第一多选一开关的输出端连接第二多选一开关的输出端，第二多选一开关的输入端与电源的+5V引脚、GND引脚对应连接；待检测数字芯片的输出端连接第三多选一开关的输入端，第三多选一开关的输出端连接第四多选一开关的输出端，第四多选一开关的输入端与电源的+5V引脚、GND引脚对应连接；第四多选一开关的输入端还与MCU连接。2.根据权利要求1所述的数字芯片故障检测电路，其特征在于，所述电源包括：AMS1117-3V3芯片；AMS1117-3V3芯片的IN端连接+5V电压源，同时经并联连接的第一电容CD2、第二电容C...

【专利技术属性】
技术研发人员：华国环，费敬敬，
申请(专利权)人：南京信息工程大学，
类型：新型
国别省市：江苏,32