【技术实现步骤摘要】
一种密封性检测工具
本技术涉及密封性检测领域,特别是指一种密封性检测工具。
技术介绍
DIP(dualinline-pinpackage,双列直插式封装技术)封装元件在使用前通常需要进行密封性检测,现有技术中,这一检测通常采用如下方式进行,即将所有待检测的DIP封装元件一起放入一个金属制成盆状容器中,所述容器的侧面和底面均为可以透过液体和气体的金属网,将所述容器加盖封闭后置入加压测试装置,使得所述待检测的DIP封装元件在所述容器中进行密封性检测。然而,由于DIP封装元件的管脚强度较低,且现有技术中用于容纳所述待检测的DIP封装元件的所述容器未进行特殊设计,在进行密封性检测时所有待检测的元件堆叠在一起,相互加压,最下方的元件承受过大的压力,不可避免地导致元件的管脚变形;同时,现有技术难以将待检测的元件逐个分开,可能导致元件管脚间相互摩擦产生静电,导致待检测的元件损坏。
技术实现思路
有鉴于此,本技术的目的在于提出一种密封性检测工具,能够将待检测的元件有效分开,防止待检测的元件损坏。基于上述目的本技术提供的一种密封性检测工具,包括依次设置的盖板、加压盘和底盘;所述盖板、所述加 ...
【技术保护点】
一种密封性检测工具,其特征在于,包括依次设置的盖板、加压盘和底盘;所述盖板、所述加压盘和所述底盘之间可拆卸地固定;所述底盘内平行地设置多个底盘加压槽,所述底盘的底部和侧面设置多个底盘加压孔;所述加压盘内平行地设置多个加压盘加压槽,所述加压盘的底部和侧面设置多个加压盘加压孔。
【技术特征摘要】
1.一种密封性检测工具,其特征在于,包括依次设置的盖板、加压盘和底盘;所述盖板、所述加压盘和所述底盘之间可拆卸地固定;所述底盘内平行地设置多个底盘加压槽,所述底盘的底部和侧面设置多个底盘加压孔;所述加压盘内平行地设置多个加压盘加压槽,所述加压盘的底部和侧面设置多个加压盘加压孔。2.根据权利要求1所述的一种密封性检测工具,其特征在于,还包括紧固件和限位支架,所述盖板上设置有两个与所述限位支架配合的盖板限位孔,所述底盘上设置有两个与所述限位支架配合的底盘限位孔,所述加压盘边缘分别设置两个有与所述限位支架配合的限位槽;所述底盘、所述加压盘和所述盖板通过两根所述限位支架可拆卸地固定连接在一起,两个所述紧固件分别设置在两个所述限位支架上,并紧固至与所述盖板贴合。3.根据权利要求1所述的一种密封性检测工具,其特征在于,所述加压盘呈缺少两侧对应的两个劣弧弓形的圆盘状。4.根据权利要求1所述的一种密封性检测工具,其特征在于,所述加压盘的数量...
【专利技术属性】
技术研发人员:李凯,武红,常成,赵鹏,
申请(专利权)人:航天科工防御技术研究试验中心,
类型:新型
国别省市:北京,11
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