【技术实现步骤摘要】
一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置
本技术涉及系统测试
,尤其是一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置。
技术介绍
由于自动控制系统(特别是位置控制伺服系统)对于工业生产的效率和质量具有极大的提升作用,其在工业生产中的应用非常广泛,现有的自动控制系统大多为模拟或半模拟控制系统,存在温漂等影响系统性能的环境因素,因而在实际的使用与定期的维护保养中,其动态性能的测量与调整是十分关键的,例如双向稳定器,它是现代自行火炮以及坦克装甲车辆等的重要组成部分,是实现武器系统在行进间瞄准射击的必须装备,双向稳定器的动态性能将在很大程度上影响武器系统在战场上的作战效能,主要是武器系统的射击精度与反应时间。然而,在实际应用中,由于受条件限制,对于自动控制系统性能的测量往往限于静态,动态性能测量基本上采用卡箍、铅笔以及标靶等工具进行人工测量。这种方法的存在很多缺点:一是,人工操作,随意性很大,测量不够精确;二是,系统内外协调配合困难,成功率较低;三是,每次测量需要较多人员,一般需要5人;四是,步骤较多,耗时较长。因此,对于上述问题有必要提出一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置。
技术实现思路
本技术目的是克服了现有技术中的不足,提供了一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置。为了解决上述技术问题,本技术是通过以下技术方案实现:一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置,包括图像传感器、图像处理系统、LED阵列板、测试模块、显示模块、数据处理模块、信号分析模块、信号放大模块和控制电路,所述LED阵列板通过图像传感器连接图像处理系统,所述图像处理系统、测 ...
【技术保护点】
一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置,其特征在于:包括图像传感器、图像处理系统、LED阵列板、测试模块、显示模块、数据处理模块、信号分析模块、信号放大模块和控制电路,所述LED阵列板通过图像传感器连接图像处理系统,所述图像处理系统、测试模块、显示模块、数据处理模块、信号分析模块和信号放大模块均连接控制电路,所述LED阵列板连接显示模块和测试模块。
【技术特征摘要】
1.一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置,其特征在于:包括图像传感器、图像处理系统、LED阵列板、测试模块、显示模块、数据处理模块、信号分析模块、信号放大模块和控制电路,所述LED阵列板通过图像传感器连接图像处理系统,所述图像处理系统、测试模块、显示模块、数据处理模块、信号分析模块和信号放大模块均连接控制电路,所述LED阵列板连接显示模块和测试模块。2.如权利要求1所述的一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置,其特征在于:所述数据处理模块通过信号分析模块连接信号放大模块。3.如权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈春艳,
申请(专利权)人:清远博云软件有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
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