提高存储器寿命的方法技术

本发明专利技术提高一种提高存储器寿命的方法，包括：获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数；获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数；读取存储器中各个块的擦除次数；依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数；若是，则使用备份块替换所述块；若否，则判断所述块的擦除次数是否大于或等于所述ECC跳变点对应的擦除次数；若是，则转移所述块中的数据。根据闪存颗粒在不同擦除次数下的分布值和跳变规律，对相应存储器固件进行调整，极大提高了存储器的数据可靠性和使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
提高存储器寿命的方法
本专利技术涉及存储设备
，尤其涉及一种提高存储器寿命的方法。
技术介绍
存储器(Memory)是现代信息技术中用于保存信息的记忆设备，而符合eMMC协议的嵌入式存储产品，是目前使用最为广泛的存储器。存储器由多个块构成，通过对块写入或擦除数据实现数据的存储或删除。存储器在使用过程中会经过不断的写入和擦除动作，随着存储器使用时间和使用次数的增加，会出现坏块或潜在的坏块，从而导致数据存储异常。出现上述情况时，一般的做法是：将该存储器中的数据通过电脑转移至本地或其他存储器，然后该存储器作废。但是上述处理方式造成了很大的资源浪费。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提高一种提高存储器寿命的方法，能够对存储器的坏块或潜在坏块进行调整，以提高存储器的寿命。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种提高存储器寿命的方法，包括：获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数；获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数；读取存储器中各个块的擦除次数；依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数；若是，则使用备份块替换所述块；若否，则判断本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种提高存储器寿命的方法，其特征在于，包括：获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数；获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数；读取存储器中各个块的擦除次数；依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数；若是，则使用备份块替换所述块；若否，则判断所述块的擦除次数是否大于或等于所述ECC跳变点对应的擦除次数；若是，则转移所述块中的数据。

【技术特征摘要】
1.一种提高存储器寿命的方法，其特征在于，包括：获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数；获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数；读取存储器中各个块的擦除次数；依次判断各个块的擦除次数是否大于或等于所述ECC最大值对应的擦除次数；若是，则使用备份块替换所述块；若否，则判断所述块的擦除次数是否大于或等于所述ECC跳变点对应的擦除次数；若是，则转移所述块中的数据。2.根据权利要求1所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述“获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数”包括：对不同擦除次数的存储器样品在-20℃-75℃的温度下进行ECC值测试；根据存储器样品的擦除次数统计ECC值；依据统计结果得到ECC最大值对应的擦除次数。3.根据权利要求1所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述“获取存储器样品的ECC跳变点对应的擦除次数”包括：对不同擦除次数的存储器样品在120℃的温度下进行ECC值测试；根据存储器样品的擦除次数统计ECC值；依据统计结果得到ECC跳变点对应的擦除次数。4.根据权利要求1所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，所述“获取存储器样品的ECC最大值对应的擦除次数”包括：将第一预设数量的不同擦除次数的存储器样品放置于-20℃-75℃的高低温箱中；每隔第一预设周期从所述-20℃-75℃的高低温箱中选取第二预设数量的存储器样品的块进行ECC值读取，直至到达第一预设时间；所述第一预设数量大于第二预设数量；根据块的擦除次数统计ECC值；依据统计结果得到ECC最大值对应的擦除次数。5.根据权利要求4所述的提高存储器寿命的方法，其特征在于，“获取存储器样品的ECC跳...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙成思，孙日欣，李振华，刘国华，
申请(专利权)人：深圳佰维存储科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44