测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种测量装置。该测量装置包括底板、安装块、测量头及测试块。安装块设置于底板上，安装块开设有贯穿孔。测量头设置于底板上，且测量头与安装块沿贯穿孔的轴向方向间隔设置。测试块的一端用于插设于贯穿孔内，且测试块插设于贯穿孔内时，测试块位于安装块与测量头之间。测量装置测量光学部件时，光学部件的准直头与安装块相连接，准直头的通孔与贯穿孔相连通。光学部件测量时，准直头与安装块相连接，可以避免准直头上的光学镜片长时间裸露在空气中，能够防止光学镜片被污染。

Measuring device

The invention relates to a measuring device. The measuring device includes a bottom plate, an installation block, a measuring head and a test block. The installation block is set on the floor, and the installation block has perforated perforations. The measuring head is set on the floor, and the measuring head is arranged along the axial direction of the perforation through the mounting block. One end of the test block is inserted in the perforation hole, and the test block is located between the mounting block and the measuring head when the test block is inserted in the perforation hole. When measuring the optical component of the measuring device, the collimation head of the optical component is connected with the mounting block, and the through hole of the collimation head is connected with the perforation hole. When the optical part is measured, the collimating head is connected with the mounting block, so that the optical lens on the collimating head can be exposed in the air for a long time, so that the optical lens can be prevented from being polluted.

【技术实现步骤摘要】
测量装置
本专利技术涉及光学元件测量
，特别是涉及一种测量装置。
技术介绍
光学部件在生产完成之后，需要对光学部件进行测量，检测光学部件中的激光头与准直头之间的同轴度是否符合要求。光学部件中的光学镜片容易被污染和损坏，因此处理光学镜片时应格外小心。但是，在光学部件的测量中，不可避免地将光学镜片长时间裸露在空气，容易将光学镜片污染。
技术实现思路
基于此，有必要针对光学部件测量时，光学镜片易污染的问题，提供一种测量装置。一种测量装置，包括：底板；安装块，设置于所述底板上，所述安装块开设有贯穿孔；测量头，设置于所述底板上，且所述测量头与所述安装块沿所述贯穿孔的轴向方向间隔设置；及测试块，所述测试块的一端用于插设于所述贯穿孔内，且所述测试块的一端插设于所述贯穿孔内时，所述测试块位于所述安装块与所述测量头之间；其中，所述测量装置测量光学部件时，所述光学部件的准直头与所述安装块相连接，所述准直头的通孔与所述贯穿孔相连通。在其中一个实施例中，所述安装块开设固定孔，所述准直头的外侧壁突出形成连接块，所述连接块开设有安装孔，紧固件依次穿设于所述安装孔与所述固定孔内，以将所述准直头与所述安装块相连接。在其中一个实施例中，所述连接块上开设有第一定位孔，所述安装块还开设有第二定位孔，定位件依次穿设于所述第二定位孔内与所述第一定位孔内，以定位所述准直头。在其中一个实施例中，所述准直头插设于所述所述贯穿孔内，以将所述准直头与所述安装块相连接。在其中一个实施例中，还包括球头柱塞，所述安装块开设有柱塞孔，所述柱塞孔与所述贯穿孔相连通，所述球头柱塞的一端穿过所述柱塞孔伸入所述贯穿孔内，所述准直头插设于所述贯穿孔内时，所述球头柱塞的一端与所述准直头的侧壁相抵。在其中一个实施例中，所述准直头的外径等于所述贯穿孔的直径。在其中一个实施例中，还包括支撑块，所述支撑块设置于所述底板上，所述支撑块用于支撑所述光学部件。在其中一个实施例中，还包括防尘罩，所述防尘罩设置于所述底板上，所述防尘罩开设有容纳腔，所述防尘罩的两端分别与所述安装孔及所述测量头相连接，所述安装块的贯穿孔与所述容纳腔相连通。在其中一个实施例中，还包括盖板，所述防尘罩的侧壁开设有开口，所述开口与所述容纳腔相连通，所述盖板可滑动地设置于所述防尘罩上，所述盖板用于覆盖所述开口。在其中一个实施例中，所述防尘罩两端的端面分别开设有第一连接孔及第二连接孔，所述第一连接孔及第二连接孔均与所述容纳腔相连通，所述安装块的一端插设于所述第一连接孔内，所述测量头的一端插设于所述第二连接孔内，以将所述防尘罩的两端分别与所述安装块及所述测量头相连接。在其中一个实施例中，所述第一连接孔的侧壁与所述第二连接孔的侧壁均设置有防尘带。上述测量装置至少具有以下优点：测量装置测量光学部件时，将光学部件的准直头与安装块相连接，从光纤传输过来的激光，经过激光头和准直头后，通过安装块的贯穿孔射入到测量头上，测量头获得激光的功率。然后，将测试块的一端插设于贯穿孔内，激光穿过测试块后射入到测量头上，测量头获得激光的功率。通过前后两次激光功率的差值，可以快速判断激光头与准直头之间的同轴度是否符合要求。光学部件测量时，准直头与安装块相连接，可以避免准直头上的光学镜片长时间裸露在空气中，能够防止光学镜片被污染。附图说明图1为一实施方式中光学部件的结构示意图；图2为图1所示光学部件安装于测量装置后的结构示意图；图3为图2中安装块的结构示意图；图4为图2中防尘罩的结构示意图；图5为另一实施方式中光学部件的结构示意图；图6为图5所示光学部件安装于测量装置后的结构示意图；图7为图6中测量装置的半剖视图；图8为图6中防尘罩的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似改进，因此本专利技术不受下面公开的具体实施的限制。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。请参阅图1，为一实施方式中的光学部件100，该光学部件100包括光纤110、激光头120、准直头130、连接块140及光学镜片150。激光头120的一端与传输激光的光纤110相连通，激光通过光纤110传输至激光头120内。准直头130的一端与激光头120的另一端相连接。准直头130沿其轴向开设有通孔(图未标)，激光能够通过激光头120传输至通孔内。光学镜片150设置于通孔内，且光学镜片150位于准直头130的另一端。准直头130另一端的外侧壁突出形成连接块140，连接块140开设有安装孔142和第一定位孔144。具体地，安装孔142与第一定位孔144均开设有两个，两个安装孔142与两个第一定位孔144交替排列。请参阅图2，为图1所示光学部件100安装于测量装置200后的结构示意图，图2中的测量装置200用于测量光学部件100，能够防止光学部件100测量时光学镜片150被污染。具体到本实施方式中，该测量装置200包括底板210、安装块220、测量头230、测试块240、防尘罩250、盖板260、支撑块270及拉手280。底板210用于承载测量装置200的其他零部件。底板210为长条形，底板210的一端开设有散热槽212。底板210上设置有定位凸柱214，用于定位测量头230。本实施方式中，定位凸柱214的数量为三个，其中一个定位凸柱214设置于散热槽212的一侧，另外两个定位凸柱214设置于散热槽212的另一侧。请一并参阅图3，安装块220设置于底板210上。具体地，安装块220通过螺钉等紧固件固定于底板210上。安装块220开设有贯穿孔222。本实施方式中，贯穿孔222的延伸方向与底板210的延伸方向一致。安装块220还开设有固定孔224及第二定位孔226，用于与连接块140相连接。具体地，固定孔224与第二定位孔226均为两个，两个固定孔224与两个第二定位孔226交替排列。连接块140与安装块220相连接时，两个固定孔224与两个安装孔142相对应，两个第一定位孔144与两个第二定位孔226相对应。测量头230设置于底板210上，且测量头230与安装块220沿贯穿孔222的轴向方向间隔设置。具体地，测量头230的侧壁与定位凸柱214相抵，以定位确定测量头230的安装位置，且通过螺钉等紧固件，从而将测量头230固定于底板2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量装置，其特征在于，包括：底板；安装块，设置于所述底板上，所述安装块开设有贯穿孔；测量头，设置于所述底板上，且所述测量头与所述安装块沿所述贯穿孔的轴向方向间隔设置；及测试块，所述测试块的一端用于插设于所述贯穿孔内，且所述测试块的一端插设于所述贯穿孔内时，所述测试块位于所述安装块与所述测量头之间；其中，所述测量装置测量光学部件时，所述光学部件的准直头与所述安装块相连接，所述准直头的通孔与所述贯穿孔相连通。

【技术特征摘要】
1.一种测量装置，其特征在于，包括：底板；安装块，设置于所述底板上，所述安装块开设有贯穿孔；测量头，设置于所述底板上，且所述测量头与所述安装块沿所述贯穿孔的轴向方向间隔设置；及测试块，所述测试块的一端用于插设于所述贯穿孔内，且所述测试块的一端插设于所述贯穿孔内时，所述测试块位于所述安装块与所述测量头之间；其中，所述测量装置测量光学部件时，所述光学部件的准直头与所述安装块相连接，所述准直头的通孔与所述贯穿孔相连通。2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述安装块开设固定孔，所述准直头的外侧壁突出形成连接块，所述连接块开设有安装孔，紧固件依次穿设于所述安装孔与所述固定孔内，以将所述准直头与所述安装块相连接。3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述连接块上开设有第一定位孔，所述安装块还开设有第二定位孔，定位件依次穿设于所述第二定位孔内与所述第一定位孔内，以定位所述准直头。4.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述准直头插设于所述所述贯穿孔内，以将所述准直头与所述安装块相连接。5.根据权利要求4所述的测量装置，其特征在于，还包括球头柱塞，所述安装块开设有柱塞孔，所述柱塞孔与所述贯穿孔相...

【专利技术属性】
技术研发人员：元少飞，叶贵青，谢祖平，刘维波，高云峰，
申请(专利权)人：大族激光科技产业集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44