一种用于测试集成电路漏电的简易装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例提供了一种用于测试集成电路漏电的简易装置，所述装置包括：检测构件(100)、滑轨(200)以及框架(300)，所述滑轨(200)以及所述框架(300)位于同一平面内，并与所述框架(300)连接；至少两个所述检测构件(100)在相邻两条滑轨(200)之间的空间内纵向排列。应用本实用新型专利技术实施例，可以高针对集成电路漏电测试的效率。

A simple device for testing the leakage of integrated circuits

The embodiment of the utility model provides a simple device for testing integrated circuit leakage, the device comprises a detection member (100), rail (200) and a frame (300), the rail (200) and the frame (300) is located in the same plane, and the frame and the (300) connection; at least two of the detection component (100) in the two adjacent rail (200) in the space between vertical arrangement. Using the practical example of the utility model, the efficiency of the leakage test of the integrated circuit can be high.

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试集成电路漏电的简易装置
本技术涉及集成电路测试
，特别是涉及一种用于测试集成电路漏电的简易装置。
技术介绍
随着电子技术的发展，集成电路越来越多的得到广泛的应用，但是在实际生产过程中，并不是所有的集成电路都是合格的，有的集成电路存在漏电的问题，若集成电路存在漏电的问题，则该集成电路是不合格的，不能投入使用，因此对集成电路是否漏电进行测试是十分必要的。目前，人们使用的集成电路漏电测试的方法为，采用试电笔对集成电路的表面进行测试。但是现有技术对电位的分析是需要一定时间的，另外，若集成电路的表面积比较大时候，采用试电笔逐点测试也是十分费力的，因此现有技术存在针对集成电路的漏电测试效率低下的技术问题。
技术实现思路
本技术实施例的目的在于提供一种用于测试集成电路漏电的简易装置，以实现提高针对集成电路漏电测试的效率的目的。具体技术方案如下：本技术实施例提供了一种用于测试集成电路漏电的简易装置，所述装置包括：检测构件、滑轨以及框架，所述滑轨以及所述框架位于同一平面内，并与所述框架连接；至少两个所述检测构件在相邻两条滑轨之间的空间内纵向排列，其中，所述检测构件包括：第一宽部、窄部、第二宽部、指示部件、第一导线、接触部件以及第二导线，其中，所述第一宽部和所述第二宽部的截面形状相同，大小相等；所述第一宽部的横向宽度大于所述窄部的横向宽度；横向相邻的两个检测构件的窄部之间形成用于容纳所述滑轨的腔体；所述窄部的竖直方向的高度大于所述滑轨竖直方向的高度，以使所述检测能够沿着所述滑轨在竖直方向滑动；所述指示部件设置于所述第一宽部上，用于在所述接触部件接触到漏电部位后指示漏电；所述指示部件与所述第一导线和所述第二导线连接；所述第一导线的一端与所述指示部件连接，另一端与所述接触部件连接；所述第二导线的一端与所述指示部件连接，另一端接地；所述检测构件的表面涂覆有绝缘层，以使相邻两检测构件之间绝缘；所述滑轨至少为两个，所述滑轨的纵向长度为所述检测构件纵向长度的整数倍；所有的所述滑轨的长度方向沿纵向设置，且在横向阵列布置多个滑轨；所有的所述滑轨的两端均与所述框架连接，所述滑轨垂直于所述框架；相邻两条滑轨之间的间距相等；所述框架为两个，其中之一与所述滑轨的一端连接，另一个与所述滑轨的另一端连接。其中，所述第一宽部的截面为方形。其中，所述第一导线以及所述第二导线均为铜线。其中，所述指示部件为LED指示灯。其中，所述绝缘层为聚氯乙烯绝缘层。其中，所述第一宽部截面的长度和宽度的尺度为毫米。本技术实施例提供的一种用于测试集成电路漏电的简易装置，在使用时，将检测构件的一端与集成电路接触，将第二导线接地，当集成电路漏电时，集成电路、接触部件、第一导线、指示部件、第二导线形成了回路，指示部件就会发出指示信息，从而可以测量集成电路是否漏电，将多个检测构件组成阵列，多个检测构件同时与集成电路的表面接触，可以同时显示该集成电路的表面的多个点是否漏电，从而提高了针对集成电路漏电测试的效率。当然，实施本技术的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的测试构件的结构示意图；图2为本技术实施例提供的测试构件、滑轨以及框架的结构示意图；图3为本技术实施例提供的测试构件和滑轨配合的剖面图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本技术提供了一种用于测试集成电路漏电的简易装置，所述装置包括：检测构件(100)、滑轨(200)以及框架(300)，所述滑轨(200)以及所述框架(300)位于同一平面内，并与所述框架(300)连接；至少两个所述检测构件(100)在相邻两条滑轨(200)之间的空间内纵向排列，其中，图1为本技术实施例提供的测试构件的结构示意图；如图1所示，所述检测构件(100)包括：第一宽部(101)、窄部(102)、第二宽部(103)、指示部件(104)、第一导线(105)、接触部件(106)以及第二导线(107)，其中，所述第一宽部(101)和所述第二宽部(103)的截面形状相同，大小相等；所述第一宽部(101)的横向宽度大于所述窄部(102)的横向宽度；横向相邻的两个检测构件(100)的窄部(102)之间形成用于容纳所述滑轨(200)的腔体；所述窄部(102)的竖直方向的高度大于所述滑轨(200)竖直方向的高度，以使所述检测能够沿着所述滑轨(200)在竖直方向滑动；所述指示部件(104)设置于所述第一宽部(101)上，用于在所述接触部件(106)接触到漏电部位后指示漏电；所述指示部件(104)与所述第一导线(105)和所述第二导线(107)连接；所述第一导线(105)的一端与所述指示部件(104)连接，另一端与所述接触部件(106)连接；所述第二导线(107)的一端与所述指示部件(104)连接，另一端接地；所述检测构件(100)的表面涂覆有绝缘层，以使相邻两检测构件(100)之间绝缘；图2为本技术实施例提供的测试构件、滑轨以及框架的结构示意图；图3为本技术实施例提供的测试构件和滑轨配合的剖面图，如图2和图3所示，所述滑轨(200)至少为两个，所述滑轨(200)的纵向长度为所述检测构件(100)纵向长度的整数倍；所有的所述滑轨(200)的长度方向沿纵向设置，且在横向阵列布置多个滑轨(200)；所有的所述滑轨(200)的两端均与所述框架(300)连接，所述滑轨(200)垂直于所述框架(300)；相邻两条滑轨(200)之间的间距相等；所述框架(300)为两个，其中之一与所述滑轨(200)的一端连接，另一个与所述滑轨(200)的另一端连接。可选的，在本技术的一种实施方式中，所述第一宽部(101)的截面为方形。可选的，在本技术的一种实施方式中，所述第一导线(105)以及所述第二导线(107)均为铜线。可选的，在本技术的一种实施方式中，所述指示部件(104)为LED指示灯。可选的，在本技术的一种实施方式中，所述绝缘层为聚氯乙烯绝缘层。可选的，在本技术的一种实施方式中，所述第一宽部(101)截面的长度和宽度的尺度为毫米。用户在使用本技术实施例提供的一种用于测试集成电路漏电的简易装置时，将本装置置于集成电路的上方，使检测构件(100)垂直于集成电路表面，检测构件(100)在重力的作用下，沿着两条滑轨(200)之间的空间向下滑动，当检测构件(100)一端接触到集成电路表面时，停止滑动，此时检测构件(100)一端与集成电路表面充分接触。该检测装置的其他检测构件(100)也是按照同样的工作原理工作。在实际应用中，可以用小型杆状物本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试集成电路漏电的简易装置，其特征在于，所述装置包括：检测构件(100)、滑轨(200)以及框架(300)，所述滑轨(200)以及所述框架(300)位于同一平面内，并与所述框架(300)连接；至少两个所述检测构件(100)在相邻两条滑轨(200)之间的空间内纵向排列，其中，所述检测构件(100)包括：第一宽部(101)、窄部(102)、第二宽部(103)、指示部件(104)、第一导线(105)、接触部件(106)以及第二导线(107)，其中，所述第一宽部(101)和所述第二宽部(103)的截面形状相同，大小相等；所述第一宽部(101)的横向宽度大于所述窄部(102)的横向宽度；横向相邻的两个检测构件(100)的窄部(102)之间形成用于容纳所述滑轨(200)的腔体；所述窄部(102)的竖直方向的高度大于所述滑轨(200)竖直方向的高度，以使所述检测能够沿着所述滑轨(200)在竖直方向滑动；所述指示部件(104)设置于所述第一宽部(101)上，用于在所述接触部件(106)接触到漏电部位后指示漏电；所述指示部件(104)与所述第一导线(105)和所述第二导线(107)连接；所述第一导线(105)的一端与所述指示部件(104)连接，另一端与所述接触部件(106)连接；所述第二导线(107)的一端与所述指示部件(104)连接，另一端接地；所述检测构件(100)的表面涂覆有绝缘层，以使相邻两检测构件(100)之间绝缘；所述滑轨(200)至少为两个，所述滑轨(200)的纵向长度为所述检测构件(100)纵向长度的整数倍；所有的所述滑轨(200)的长度方向沿纵向设置，且在横向阵列布置多个滑轨(200)；所有的所述滑轨(200)的两端均与所述框架(300)连接，所述滑轨(200)垂直于所述框架(300)；相邻两条滑轨(200)之间的间距相等；所述框架(300)为两个，其中之一与所述滑轨(200)的一端连接，另一个与所述滑轨(200)的另一端连接。...

【技术特征摘要】
1.一种用于测试集成电路漏电的简易装置，其特征在于，所述装置包括：检测构件(100)、滑轨(200)以及框架(300)，所述滑轨(200)以及所述框架(300)位于同一平面内，并与所述框架(300)连接；至少两个所述检测构件(100)在相邻两条滑轨(200)之间的空间内纵向排列，其中，所述检测构件(100)包括：第一宽部(101)、窄部(102)、第二宽部(103)、指示部件(104)、第一导线(105)、接触部件(106)以及第二导线(107)，其中，所述第一宽部(101)和所述第二宽部(103)的截面形状相同，大小相等；所述第一宽部(101)的横向宽度大于所述窄部(102)的横向宽度；横向相邻的两个检测构件(100)的窄部(102)之间形成用于容纳所述滑轨(200)的腔体；所述窄部(102)的竖直方向的高度大于所述滑轨(200)竖直方向的高度，以使所述检测能够沿着所述滑轨(200)在竖直方向滑动；所述指示部件(104)设置于所述第一宽部(101)上，用于在所述接触部件(106)接触到漏电部位后指示漏电；所述指示部件(104)与所述第一导线(105)和所述第二导线(107)连接；所...

【专利技术属性】
技术研发人员：周学志，谢清冬，
申请(专利权)人：信丰明新电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江西,36