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本实用新型实施例提供了一种用于测试集成电路漏电的简易装置，所述装置包括：检测构件(100)、滑轨(200)以及框架(300)，所述滑轨(200)以及所述框架(300)位于同一平面内，并与所述框架(300)连接；至少两个所述检测构件(100)...
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