基于二进制向量的测试设备制造技术

一种测试设备，包括被测装置(DUT)和测试控制器，其中被测装置被配置为使用串行接口协议来交换数据，测试控制器被配置为从外部装置接收对应于串行接口协议的物理层的二进制向量并缓冲和发送接收的二进制向量至DUT。

Test equipment based on binary vector

A test device, including a device under test (DUT) and the test controller, the tested device is configured to use serial interface protocol to exchange data, the test controller is configured to receive physical layer corresponding to the serial interface protocol from the external device and the binary vector buffer and transmits the received binary vector to DUT.

【技术实现步骤摘要】
基于二进制向量的测试设备相关申请的交叉引用本申请要求于2016年5月17日提交的第10-2016-0060361号韩国专利申请的优先权，该申请的全部内容通过引用并入本文。
技术介绍
本专利技术构思的示例实施例一般涉及测试设备，更具体地，涉及能够测试多个接口协议的存储装置的测试设备。测试板或测试设备可包括专用于半导体装置以测试在封装工艺后制造的半导体装置的测试控制器。半导体装置可从测试板或测试设备上移除。当半导体装置在测试期间安装在测试板上时，测试控制器可解码从外部实体(例如ATE)提供的命令或数据，并可发送解码的结果至半导体装置。因此，用于执行测试的测试控制器的接口可取决于半导体装置的接口协议。测试控制器可专用于应用于被测半导体装置的特定协议。因此，可更换测试控制器以测试与其他协议相关的半导体装置。例如，可更换执行测试控制器功能的芯片。当测试控制器用现场可编程门阵列(以下称“FPGA”)配置时，可提供新的编程的FPGA以测试用于其他接口协议的半导体装置。在大批量生产的半导体装置的测试环境下，需要大量的时间和精力来开发各种测试控制器。此外，使用通用接口协议解决方案来灵活地对应于所要求的测试量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试设备，包括：被测装置(DUT)，被配置为使用串行接口协议交换数据；以及测试控制器，被配置为从外部装置接收对应于串行接口协议的物理层的二进制向量，并且缓冲和发送接收的二进制向量至所述被测装置(DUT)。

【技术特征摘要】
2016.05.17 KR 10-2016-00603611.一种测试设备，包括：被测装置(DUT)，被配置为使用串行接口协议交换数据；以及测试控制器，被配置为从外部装置接收对应于串行接口协议的物理层的二进制向量，并且缓冲和发送接收的二进制向量至所述被测装置(DUT)。2.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述测试控制器包括：缓冲器，被配置为储存所述二进制向量；以及串行器，被配置为将储存的所述二进制向量转换成对应于所述串行接口协议的串行信号。3.根据权利要求2所述的测试设备，其中所述串行器还被配置为将所述二进制向量转换为对应于所述串行接口协议的差分信号，并且加速和输出数据。4.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述二进制向量为经由所述串行接口协议的物理层中的差分信号接收的二进制信号序列。5.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述测试控制器不具有所述串行接口协议的事务层和链路层的功能。6.根据权利要求5所述的测试设备，其中所述测试控制器包括现场可编程门阵列(FPGA)。7.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述串行接口协议包括PCIe、UFS和M.2通信方案的至少之一。8.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述串行接口协议的所述物理层对应于MIPIM-PHY规范。9.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述外部装置为被配置为将用于测试的命令或数据翻译成所述二进制向量的自动测试装备(ATE)。10.根据权利要求1所述的测试设备，其中所述测试控制器还包括DC偏移块，所述DC偏移块被配置为通过至少一个差分信号线对发送所述二进制向量至所述被测装置(DUT)并调整所述差分信号线对中的DC偏移。11.根据权利要求10所述的测试设备，其中所述DC偏移块包括至少一个无源元件，所述至少一个无源元件被配置为响应于从所述测试控制器提供的DC偏移控制信号施加所述DC偏移至所述差分信号线。12.一种通用测试设备，包括：测试控制器，被配置为将接收的二进制数据翻译成串行传送信号；被测装置(DUT)，被配置为经由差分信号线对从所述测试控制器接收所述串行传送信号；以及DC偏移块，被配置为响应于来自所述测试控制器的DC偏移控制信号调整所述差分信号线对的DC偏移。其中所述DC偏移块包括至少一个无源元件。13.根据权利要求12所述的通用测试设备，其中所述测试控制器还被配置为基于所述被测装置(DUT)的接口...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹柱盛，申圣燮，李文镐，崔云燮，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国,KR