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一种测试设备，包括被测装置(DUT)和测试控制器，其中被测装置被配置为使用串行接口协议来交换数据，测试控制器被配置为从外部装置接收对应于串行接口协议的物理层的二进制向量并缓冲和发送接收的二进制向量至DUT。...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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